| 研究課題/領域番号 |
17K00081
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計算機システム
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| 研究機関 | 九州工業大学 |
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研究代表者 |
宮瀬 紘平 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 准教授 (30452824)
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| 研究期間 (年度) |
2017-04-01 – 2020-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2019年度)
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| 配分額 *注記 |
4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円)
2019年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2018年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2017年度: 2,080千円 (直接経費: 1,600千円、間接経費: 480千円)
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| キーワード | LSIテスト / 消費電力解析 / LSI設計 / LSI設計技術 |
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| 研究成果の概要 |
LSIの微細化により欠陥の起こるメカニズムは非常に複雑化し、欠陥回路のテスト・診断が非常に難しくなってきている。微細化が進むと電源供給信号線の欠陥が電源供給に与える影響が大きくなると考えられ、本研究では電源供給信号線上の欠陥のテスト・診断手法の研究を実施した。研究成果として、欠陥が大きな影響を与えると考えられる高消費電力エリアを特定、および欠陥検出向上のための特定したエリアに対する消費電力制御テスト生成にてテスト時の特定エリアの電力制御を可能とし、電源供給信号線の欠陥を検出・診断するための基礎技術を確立した。
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
今日のIoTを支える最先端LSIはモバイル製品に搭載されることが多い。バッテリーの長寿命化や消費電力削減など電源関係の技術開発が今後も進むと考えられる。そのため電源関係の信頼性保証が重要となり、本研究の成果は、LSIの性能劣化回避、信頼性向上などに貢献する。医療機器や、自動車制御、自動車自動運転技術など、今後さらに高い品質と信頼性が求められるLSIに関しても電力の問題は解決すべき課題であり、本研究の成果は必要不可欠なものとなる。
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