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近赤外光励起THz波送受信素子向け低温成長GaAs系混晶半導体の欠陥の評価と制御

研究課題

研究課題/領域番号 17K05044
研究種目

基盤研究(C)

配分区分基金
応募区分一般
研究分野 結晶工学
研究機関明治大学 (2019)
金沢工業大学 (2017-2018)

研究代表者

上田 修  明治大学, 研究・知財戦略機構(生田), 客員教授 (50418076)

研究分担者 富永 依里子  広島大学, 先端物質科学研究科, 講師 (40634936)
塩島 謙次  福井大学, 学術研究院工学系部門, 教授 (70432151)
研究期間 (年度) 2017-04-01 – 2020-03-31
研究課題ステータス 完了 (2019年度)
配分額 *注記
4,810千円 (直接経費: 3,700千円、間接経費: 1,110千円)
2019年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2018年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2017年度: 1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
キーワードテラヘルツ波 / 光伝導 / アンテナ / 混晶半導体 / InGaAs / GaAsBi / 欠陥 / 透過電子顕微鏡 / 析出物 / 結晶評価 / テラヘルツ素子 / 結晶成長 / 格子欠陥 / 電子顕微鏡
研究成果の概要

本研究では、光伝導アンテナ用の低温MBE 成長したInGaAs, GaAsBi薄膜中の微細構造・欠陥および電気的・光学的特性を調べた。その結果、熱処理後、無添加InGaAsでは、As凝集体が薄膜/基板界面に形成されるが、Be添加InGaAsでは、As凝集体は薄膜中や転位線上にも形成されなかった。また、GaAsBiでは、熱処理後のBiの表面偏析およびBi-richな凝集体の形成を明らかにした。光吸収評価からGaAsBiは、電子物性があまり良好ではなく、新奇GaAsBi系材料の開発が必須と示唆された。界面顕微光応答法により、InGaAs、GaAsBiの電気的特性の2次元評価を実現できた。

研究成果の学術的意義や社会的意義

本研究では、低温MBE成長したInGaAs, GaAsBi薄膜を高温での熱処理後に形成されるAs凝集体などの欠陥の形成と挙動および電気的・光学的特性への影響について初めて明らかにした。また、テラヘルツ光のセンシングを用いた各種システムへの社会実装を実現するためには、そのキーデバイスとなる高性能で、小型・低コストの光伝導アンテナの開発が必須であるが、本研究により新奇GaAsBi系材料の創製が不可欠であることを提案できた。

報告書

(4件)
  • 2019 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2018 実施状況報告書
  • 2017 実施状況報告書
  • 研究成果

    (59件)

すべて 2020 2019 2018 2017 その他

すべて 雑誌論文 (9件) (うち査読あり 9件、 オープンアクセス 2件) 学会発表 (42件) (うち国際学会 17件、 招待講演 14件) 図書 (2件) 備考 (6件)

  • [雑誌論文] Crystalline quality of low-temperature-grown InxGa1-xAs coherently grown on InP(001) substrate2020

    • 著者名/発表者名
      Yoriko Tominaga, Shingo Hirose, Kentaro Hirayama, Hitoshi Morioka, Noriaki Ikenaga, and Osamu Ueda
    • 雑誌名

      Journal of Crystal Growth

      巻: - ページ: 125703-125703

    • DOI

      10.1016/j.jcrysgro.2020.125703

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Mapping of Metal/Semiconductor and Semiconductor/Semiconductor Interfaces Using Scanning Internal Photoemission Microscopy2019

    • 著者名/発表者名
      Kenji Shiojima
    • 雑誌名

      2019 IEEE CPMT Symposium Japan (ICSJ)

      巻: - ページ: 169-172

    • NAID

      40022094193

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Mapping of a Ni/SiN x /n-SiC structure using scanning internal photoemission microscopy2019

    • 著者名/発表者名
      Shiojima Kenji、Hashizume Takanori、Sato Masaru、Takeyama Mayumi B.
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 58 号: SB ページ: SBBC02-SBBC02

    • DOI

      10.7567/1347-4065/aafd99

    • NAID

      210000135392

    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
    • 査読あり / オープンアクセス
  • [雑誌論文] Effect of surface treatment of printed Ag Schottky contacts on n-GaN epitaxial layers using Ag nanoink: Two dimensional characterization by scanning internal photoemission microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Shiojima Kenji、Kashiwagi Yukiyasu、Shigemune Tasuku、Koizumi Atsushi、Kojima Takanori、Saitoh Masashi、Hasegawa Takahiro、Chigane Masaya、Fujiwara Yasufumi
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 57 号: 7S2 ページ: 07MA01-07MA01

    • DOI

      10.7567/jjap.57.07ma01

    • NAID

      210000149374

    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
    • 査読あり / オープンアクセス
  • [雑誌論文] Mapping of n-GaN Schottky Contacts With Wavy Surface Morphology Using Scanning Internal Photoemission Microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      Shiojima Kenji、Hashizume Takanori、Horikiri Fumimasa、Tanaka Takeshi、Mishma Tomoyoshi
    • 雑誌名

      physica status solidi (b)

      巻: 255 号: 5 ページ: 1700480-1700480

    • DOI

      10.1002/pssb.201700480

    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Mapping etching induced damages on GaN surfaces using scanning internal photoemission microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      Terano Akihisa、Imadate Hiroyoshi、Shiojima Kenji
    • 雑誌名

      Materials Science in Semiconductor Processing

      巻: 70 ページ: 92-98

    • DOI

      10.1016/j.mssp.2016.10.027

    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Mapping of ion-implanted n -SiC schottky contacts using scanning internal photoemission microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      Murase Shingo、Mishima Tomoyoshi、Nakamura Tohru、Shiojima Kenji
    • 雑誌名

      Materials Science in Semiconductor Processing

      巻: 70 ページ: 86-91

    • DOI

      10.1016/j.mssp.2016.10.055

    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Electrical properties of Schottky barrier diodes fabricated on (001) β-Ga2O3 substrates with crystal defects2017

    • 著者名/発表者名
      Oshima Takayoshi、Hashiguchi Akihiro、Moribayashi Tomoya、Koshi Kimiyoshi、Sasaki Kohei、Kuramata Akito、Ueda Osamu、Oishi Toshiyuki、Kasu Makoto
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 56 号: 8 ページ: 086501-086501

    • DOI

      10.7567/jjap.56.086501

    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] β-Ga2O3結晶中の欠陥のTEMによる評価2017

    • 著者名/発表者名
      上田修
    • 雑誌名

      日本結晶成長学会誌

      巻: 44

    • NAID

      130006327989

    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] MBE成長条件が低温成長GaAs1-xBix のBi偏析に与える影響2020

    • 著者名/発表者名
      高垣佑斗,堀田行紘,富永依里子,行宗詳規,藤原亮,石川史太郎
    • 学会等名
      2019年度 第4回半導体エレクトロニクス部門委員会 第1回講演会・見学会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] 低温成長GaAs1-xBixの分子線エピタキシャル成長条件2020

    • 著者名/発表者名
      富永依里子、堀田行紘、高垣佑斗、行宗詳規、藤原亮、石川史太郎
    • 学会等名
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] 低温成長GaAs1-xBixの結晶学的・光学的両特性2020

    • 著者名/発表者名
      横手竜希、堀田行紘、高垣佑斗、林亮輔、富永依里子、行宗詳規、藤原亮、石川史太郎
    • 学会等名
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] 固相成長したInGaAsの結晶性評価2019

    • 著者名/発表者名
      堀田行紘,平山賢太郎,富永依里子,池永訓昭,上田修
    • 学会等名
      第11回ナノ構造・エピタキシャル成長講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] 低温成長GaAs1-xBixの成長条件2019

    • 著者名/発表者名
      堀田行紘,富永依里子,行宗詳規,藤原亮,石川史太郎
    • 学会等名
      第38回電子材料シンポジウム(EMS38th)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] 低温成長GaAs1-xBixの結晶性評価2019

    • 著者名/発表者名
      高垣佑斗,堀田行紘,富永依里子,行宗詳規,藤原亮,石川史太郎
    • 学会等名
      第38回電子材料シンポジウム(EMS38th)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] 低温成長GaAs1-xBixのBiの偏析に対するラザフォード後方散乱法の適用2019

    • 著者名/発表者名
      藤野翔太朗,堀田行紘,高垣佑斗,富永依里子
    • 学会等名
      第38回電子材料シンポジウム(EMS38th)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] 局在準位の解明に向けた低温成長 InxGa1-xAsの光学的評価2019

    • 著者名/発表者名
      林亮輔,釣崎竣介,富永依里子
    • 学会等名
      2019年度 応用物理学会中国四国支部 若手半導体研究会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] Mapping of Metal/Semiconductor and Semiconductor/Semiconductor Interfaces Using Scanning Internal Photoemission Microscopy2019

    • 著者名/発表者名
      Kenji Shiojima
    • 学会等名
      2019 IEEE CPMT Symposium Japan (ICSJ)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] 界面顕微光応答法による金属/半導体、半導体/半導体界面の2次元評価2019

    • 著者名/発表者名
      塩島 謙次
    • 学会等名
      電子情報通信学会電子部品・材料研究会(CPM)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] 界面顕微光応答法による電極界面の欠陥、劣化過程の2次元解析2019

    • 著者名/発表者名
      塩島 謙次
    • 学会等名
      応用物理学会結晶工学分科会第24回結晶工学セミナー
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] Current Status of Characterization of Defects in EFG-grown β-Ga2O3 Single Crystals2019

    • 著者名/発表者名
      Osamu Ueda, Akito Kuramata, Hirotaka Yamaguchi, and Makoto Kasu
    • 学会等名
      18th Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP XVIII)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Structural evaluation of β-Ga2O3 single crystals by TEM and related techniques2019

    • 著者名/発表者名
      Osamu Ueda, Akito Kuramata, Hirotaka Yamaguchi, and Makoto Kasu
    • 学会等名
      Materials Research Meeting 2019
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Hole traps produced in MOVPE-grown n-GaN by hydrogen implantation2019

    • 著者名/発表者名
      Yutaka Tokuda, Shun Itoh, Kazuya Tamura, Joji Ito, Takahide Yagi, Kenji Shiojima
    • 学会等名
      18th Conference on Defects-Recognition , Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP XVIII)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] 界面顕微光応答法による電気化学エッチングしたNi/n-GaNショットキーの2次元評価2019

    • 著者名/発表者名
      松田 陵、堀切 文正、成田 好伸、吉田 丈洋、三島 友義、塩島謙次
    • 学会等名
      応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
  • [学会発表] シンクロトロンX線トポグラフィーによる垂直ブリッジマン成長β-Ga2O3単結晶の欠陥の観察2019

    • 著者名/発表者名
      桝谷 聡士、佐々木 公平、倉又 朗人、小林 拓実、干川 圭吾、上田 修、嘉数 誠
    • 学会等名
      応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
  • [学会発表] Growth Temperature Dependence of Crystallinity of Low-Temperature-Grown InxGa1-xAs Towards Fabrication of Photoconductivity Antennas on the Basis of Defect Engineering2018

    • 著者名/発表者名
      Yoriko Tominaga
    • 学会等名
      Materials Research Society 2018 Spring Meeting (MRS 2018 Spring)
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Solid-phase epitaxial growth of InxGa1-xAs on InP substrate2018

    • 著者名/発表者名
      Yukihiro Horita, Kentaro Hirayama, Yorko Tominaga, Hitoshi Morioka, Noriaki Ikenaga, and Osamu Ueda
    • 学会等名
      International Conference on Solid State Devices and Materials 2018 (SSDM 2018)
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Mapping of Ni/SiNx/n-SiC Structure Using Scanning Internal Photoemission Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Kenji Shiojima, Takanori Hashizume, Masaru Sato, and Mayumi B. Takeyama
    • 学会等名
      International Conference on Solid State Devices and Materials 2018 (SSDM 2018)
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Mapping of interfacial reaction of a-Ga2O3 Schottky contacts using scanning internal photoemission microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Kenji Shiojima, Hitoshi Kambara, Tokiyashi Matsuda, and Takashi Shinohe
    • 学会等名
      4th E-MRS & MRS-J Bilateral Symposium
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Mapping of metal/semiconductor and semiconductor/semiconductor interfaces using scanning internal photoemission micoscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Kenji Shiojima
    • 学会等名
      4th E-MRS & MRS-J Bilateral Symposium
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Scanning internal photoemission microscopy measurements of n-GaN Schottky contacts under applying voltage2018

    • 著者名/発表者名
      Kenji Shiojima, Masataka Maeda, and Tomoyoshi Mishima
    • 学会等名
      IWN 2018
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Mapping of neutral-beam etching iduced damages on GaN surfaces using scanning internal photoemission microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Kenji Shiojima, Tetsuya Suemitsu, Takuya Ozaki, and Seiji Samukawa
    • 学会等名
      IWN 2018
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] テラヘルツ波発生検出用光伝導アンテナの開発に向けた低温成長GaAs系混晶半導体の結晶性評価2018

    • 著者名/発表者名
      富永依里子
    • 学会等名
      日本学術振興会 第161委員会 第105回研究会「2025年結晶産業の未来 ~光デバイス編~」」
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] InxGa1-xAsの固相エピタキシャル成長2018

    • 著者名/発表者名
      堀田 行紘、平山 賢太郎、富永 依里子、森岡 仁、池永 訓昭、上田 修
    • 学会等名
      第37回電子材料シンポジウム
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
  • [学会発表] 局在準位の評価に向けた低温成長InxGa1-xAsの光学的・電気的両特性2018

    • 著者名/発表者名
      林 亮輔、釣崎 竣介、富永 依里子
    • 学会等名
      第37回電子材料シンポジウム
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
  • [学会発表] 中性粒子ビームエッチングによりGaN表面に導入された損傷の界面顕微光応答法による2次元評価2018

    • 著者名/発表者名
      塩島 謙次、末光 哲也、尾崎 卓哉、寒川 誠二
    • 学会等名
      応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
  • [学会発表] 界面顕微光応答法によるファセット成長n-GaNショットキー接触の2次元評価2018

    • 著者名/発表者名
      前田 昌嵩、塩島 謙次、栗原 香
    • 学会等名
      応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
  • [学会発表] n-GaNショットキー接触の電圧印加界面顕微光応答測定2018

    • 著者名/発表者名
      塩島 謙次、前田 昌嵩、三島 友義
    • 学会等名
      電子情報通信学会電子デバイス研究会
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
  • [学会発表] Nano-Level Analytical and Evaluation Techniques Essential to the Development of ULSI and Nano-devices2017

    • 著者名/発表者名
      Osamu Ueda
    • 学会等名
      The 6th International Symposium on Organic and Inorganic Electronic Materials and Related Nanotechnologies (EMNANO-2017)
    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Gradual Degradation in III‐V and GaN‐Related Optical Devices2017

    • 著者名/発表者名
      Osamu Ueda
    • 学会等名
      17th Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP-17)
    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] In content dependence on crystalline quality of low-remperature-grown InxGa1-xAs on InP substrate2017

    • 著者名/発表者名
      Yoriko Tominaga, Shingo Hirose, Kentaro Hirayama, and Yutaka Kadoya
    • 学会等名
      Emerging Technologies 2017 (ETCMOS2017)
    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Localized Levels of Low-Temperature-Grown InxGa1-xAs on InP Substrates2017

    • 著者名/発表者名
      S. Tsurisaki, Y. Tominaga, M. Deura, and Y. Kadoya
    • 学会等名
      Materials Research Society 2017 Fall Meeting (MRS 2017 Fall)
    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] ホール効果を用いた低温成長InxGa1-xAsの局在準位の評価2017

    • 著者名/発表者名
      釣埼竣介、富永依里子、出浦桃子、角屋豊
    • 学会等名
      第36回電子材料シンポジウム
    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書
  • [学会発表] 固相成長させたInxGa1-xAs内の欠陥の評価2017

    • 著者名/発表者名
      平山賢太郎、富永依里子、角屋豊、森岡仁、池永訓昭、上田修
    • 学会等名
      第36回電子材料シンポジウム
    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書
  • [学会発表] InP基板上低温成長InxGa1-xAsの結晶性2017

    • 著者名/発表者名
      富永依里子、廣瀬伸悟、角屋豊、森岡仁、池永訓昭、上田修
    • 学会等名
      第78回応用物理学会秋季学術講演会2017
    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書
  • [学会発表] InP基板上低温成長InxGa1-xAsの結晶性評価2017

    • 著者名/発表者名
      富永依里子、角屋豊
    • 学会等名
      第9回ナノ構造・エピタキシャル成長講演会
    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] Development of dual-focus scanning internal photoemission microscopy for mapping of both top and rear surfaces of 3C-SiC layers2017

    • 著者名/発表者名
      K. Shiojima, N. Ichikawa, and M. Kato
    • 学会等名
      Compound Semiconductor Week 2017 (CSW2017)
    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Mapping of n-GaN Schottky contacts with wavy surface morphology using scanning internal phoemission microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      S. Shiojima, T. Hashizume, F. Horikiri, T. Tanaka, and T. Mishima
    • 学会等名
      12th International Conference on Nitride Semiconductors (ICNS-12)
    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] In-Situ Mappinh of Dehradation of AlGaN/GaN MIS-HEMTs Using Video-Mode Scanning Internal Photoemission Microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      K. Shiojima, S. Murase, Y. Watamura, T. Suemitsu
    • 学会等名
      International conference on Solid State Devices and Materials 2017 (SSDM2017)
    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] 界面顕微光応答法による金属/半導体、半導体/半導体界面の2次元評価2017

    • 著者名/発表者名
      塩島謙次
    • 学会等名
      応用物理学会結晶工学分科会第147回研究会
    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] n-GaNショットキー接触の電圧印加界面顕微光応答測定2017

    • 著者名/発表者名
      前田昌嵩、三島友義、塩島謙次
    • 学会等名
      第78回応用物理学会秋季学術講演会2017
    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書
  • [図書] 半導体デバイスの不良・故障解析技術2019

    • 著者名/発表者名
      二川清、上田修、山本秀和
    • 総ページ数
      218
    • 出版者
      株式会社日科技連出版社
    • ISBN
      9784817196859
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [図書] Semiconductor Process Integration 112019

    • 著者名/発表者名
      J. Murota, C. Claeys, H. Iwai, M. Tao, S. Deleonibus, A. Mai, K. Shiojima
    • 総ページ数
      233
    • 出版者
      The Electrochemical Society
    • ISBN
      9781623325824
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [備考] 福井大学大学院工学研究科 電気・電子工学専攻電子物性講座半導体表面界面(塩島)研究室のホームページ

    • URL

      http://fuee.u-fukui.ac.jp/~shiojima/

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [備考] 金沢工業大学 高信頼理工学研究センター(上田)のホームページ

    • URL

      https://wwwr.kanazawa-it.ac.jp/wwwr/lab/CIST/

    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
  • [備考] 福井大学大学院工学研究科  電気・電子工学専攻電子物性講座半導体表面界面(塩島)研究室のホームページ

    • URL

      http://fuee.u-fukui.ac.jp/~shiojima/

    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
  • [備考] 金沢工業大学モノづくり研究所(上田)のホームページ

    • URL

      http://wwwr.kanazawa-it.ac.jp/kit_orc/

    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書
  • [備考] 福井大学大学院工学研究科 電気・電子工学専攻電子物性講座半導体表面界面(塩島)研究室のホームページ

    • URL

      http://fuee.u-fukui.ac.jp/~shiojima/integrated.html

    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書
  • [備考] 広島大学先端物質科学研究科量子物質科学専攻量子光学物性研究室(富永)のホームページ

    • URL

      http://home.hiroshima-u.ac.jp/hikari/

    • 関連する報告書
      2017 実施状況報告書

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公開日: 2017-04-28   更新日: 2021-02-19  

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