| 研究課題/領域番号 |
17K05123
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
量子ビーム科学
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| 研究機関 | 早稲田大学 |
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研究代表者 |
小林 慶規 早稲田大学, 理工学術院総合研究所(理工学研究所), 客員上級研究員(研究院客員教授) (90357012)
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| 研究分担者 |
山脇 正人 国立研究開発法人産業技術総合研究所, 計量標準総合センター, 主任研究員 (30526471)
岡 壽崇 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構, 原子力科学研究部門 原子力科学研究所 原子力基礎工学研究センター, 研究副主幹 (70339745)
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| 研究期間 (年度) |
2017-04-01 – 2021-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2020年度)
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| 配分額 *注記 |
4,810千円 (直接経費: 3,700千円、間接経費: 1,110千円)
2019年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2018年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
2017年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
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| キーワード | 高分子構造・物性 / 陽電子 / 非破壊欠陥分析 / 放射線 / オペランド分析 |
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| 研究成果の概要 |
陽電子寿命測定は、高分子中のサブナノ空孔、金属中の欠陥分析に有効な実験手法であるが、従来の陽電子寿命測定では、試料の切り出しが必要であった。我々は、試料の切り出しを必要としないアンチコインシデンス法を考案した。 高分子の陽電子寿命測定では、アンチコインシデンス法により、従来法と同等なデータが得られることを確認した。また、アンチコインシデンス測定を金属材料に適用した場合、陽電子寿命データの時間原点のシフトから金属材料の欠陥についての知見が得られることを見出した。オペランド分析・非破壊検査への適用のため、アンチコインシデンス可搬型陽電子寿命装置を試作した。
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
陽電子寿命測定は、高分子中のサブナノ空孔、金属中の欠陥分析に有効な実験手法であることから、動作環境下での材料中の超微細空孔や欠陥のオペランド分析や非破壊その場計測への適用が期待されてきた。しかしながら、従来の陽電子寿命測定では、試料片二枚が必要なため、その場計測には適用できなかった。我々は、試料の切り出し不要のアンチコインシデンス法を考案した。本研究では、アンチコインシデンス法により従来法と同等のデータが得られることを確認するとともに、アンチコインシデンス法を用いた小型可搬型陽電子寿命装置を試作した。陽電子寿命測定法による材料のオペランド分析や非破壊分析の可能性が開けたと考えられる。
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