| 研究課題/領域番号 |
17K06046
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
機械材料・材料力学
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| 研究機関 | 新潟大学 |
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研究代表者 |
鈴木 賢治 新潟大学, 人文社会科学系, 教授 (30154537)
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| 研究分担者 |
城 鮎美 (瀬ノ内鮎美) 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構, 関西光科学研究所 放射光科学研究センター, 研究員(定常) (60707446)
菖蒲 敬久 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構, 原子力科学研究部門 原子力科学研究所 物質科学研究センター, サブリーダー (90425562)
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| 研究期間 (年度) |
2017-04-01 – 2020-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2019年度)
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| 配分額 *注記 |
4,680千円 (直接経費: 3,600千円、間接経費: 1,080千円)
2019年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2018年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2017年度: 2,080千円 (直接経費: 1,600千円、間接経費: 480千円)
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| キーワード | Ｘ線応力測定 / 粗大粒 / シンクロトロン放射光 / 二重露光法 / DEM / 残留応力 / CdTeピクセル検出器 / X線応力測定 / 平行ビームX線 / 平行ビームＸ線 / 材料設計 / プロセス / 物性 / 評価 |
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| 研究成果の概要 |
粗大粒のＸ線応力測定困難は，回折中心が定まらないことを明らかにした．回折中心が結晶粒ごとに異なるので，回折中心の仮定は破綻する．二重露光法を提案した．本方法では，回折斑点のビームを2カ所で測定し，その2カ所の斑点位置から直線関係を導いて，入射ビームと回折ビームの直線関係を用いて，回折角度と回折位置の両方を導くことができる．本方法を粗大粒や微小領域の応力測定に応用することで，精度のよくＸ線応力測定を実現した．それを利用して，アルミニウム合金のくさびによる塑性変形部の残留応力のマップを測定した．これらの結果と数値シミュレーションはよく対応した．
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
これまで，Ｘ線応力測定は，粗大粒(微小領域)，集合組織，溶接部に適用困難とされていた．本研究はその原因を明らかにしたことの意義は大きい．また，その原因を克服するために，回折中心を仮定するこれまでの測角方法を止揚して，独創的な測角法を提案した．その手法は，回折ビームと入射Ｘ線の直線関係から角度を決定し，かつ回折位置も解析できる優れた手法である．この回折測定方法は新しい方法であり，学術的にも工業製品の開発にも大いに役立ち注目に値する．
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