| 研究課題/領域番号 |
17K12657
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
計算機システム
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| 研究機関 | 福岡大学 (2019)
埼玉大学 (2017-2018) |
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研究代表者 |
西澤 真一 福岡大学, 工学部, 助教 (40757522)
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| 研究期間 (年度) |
2017-04-01 – 2020-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2019年度)
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| 配分額 *注記 |
4,160千円 (直接経費: 3,200千円、間接経費: 960千円)
2019年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2018年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2017年度: 2,340千円 (直接経費: 1,800千円、間接経費: 540千円)
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| キーワード | フリップフロップ / 記憶保持特性 / ばらつき評価回路 / トランジスタ特性ばらつき / プロセスモニタ / 集積回路 / ばらつきモニタ / テスト / BIST |
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| 研究成果の概要 |
集積回路の製造ばらつきを補正するためには個々のチップのばらつき量を測定する必要がある．専用のばらつき測定回路を追加する事は簡便な測定を実現できるがチップコストの増加につながる．
本研究では製造ばらつき測定にフリップフロップの記憶保持特性を利用する．集積回路は機能テストのためにスキャンチェーンを持ち，フリップフロップのデータの入出力が可能である．スキャンチェーンをばらつき量測定に利用する事で，ばらつき測定回路を追加する事無くばらつき量の測定を可能にする．提案手法を適用したチップを試作し評価した結果，ばらつき量の推定が可能である事を確認した．
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
集積回路は今日の情報化社会を支える基幹部品であり，高性能化，省電力化，低価格化が強く望まれている．そのため集積回路の製造プロセスの微細化が急激に進められてきたが製造工程の複雑化によって製造プロセスに起因するトランジスタ特性ばらつきが問題となっている．ばらつき量はチップごとの異なるため，個々のチップのばらつき量を評価する事で電源電圧および基板電圧を調節しばらつきを補償する事が可能である．ばらつき量の測定のために測定回路を追加する事は集積回路のコストを増大させる課題がある．
本技術は既存の構造をばらつき量推定に利用する事で，追加コスト無く個々のチップのばらつき量の推定を可能にする．
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