| 研究課題/領域番号 |
17K14119
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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| 研究機関 | 一般財団法人ファインセラミックスセンター |
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研究代表者 |
小林 俊介 一般財団法人ファインセラミックスセンター, その他部局等, 上級研究員 (60714623)
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| 研究期間 (年度) |
2017-04-01 – 2020-03-31
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| 研究課題ステータス |
中途終了 (2019年度)
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| 配分額 *注記 |
4,420千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 1,020千円)
2019年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2018年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2017年度: 2,210千円 (直接経費: 1,700千円、間接経費: 510千円)
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| キーワード | 走査型透過電子顕微鏡 / 計測技術 / 画像解析 / チタン酸バリウム / 原子変位 / 格子変位 / 強誘電体 / 解析・評価 / 画像情報 / 誘電体 |
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| 研究成果の概要 |
走査型透過電子顕微鏡 （STEM）法は微小な格子変形が直視できるようになり，材料の原子レベルでの構造解析において有効な手法である。 多くの機能性材料において物性発現サイズがナノスケールとなりピコメートルオーダーによる原子位置の計測が必要不可欠な技術となりつつある。本研究では、この実空間での材料解析においてSTEM法を用いたピコメートルスケールの微小原子変位計測手法を構築した。そして、その応用として画像解析によって初めて認識可能な10 pm以下陽イオン変位を解析することでチタン酸バリウム薄膜中に特異なドメイン構造を形成していることを明らかにした。
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
本手法は強誘電体材料だけではなく様々な材料解析へ応用可能である。今回実施した10 pm以下の格子変形は画像解析を実施して初めて認識が可能となる。このことは，これまで観察像中に僅かな格子変形が存在していたとしても，その構造を見落としきた可能性を示唆している。 言い換えれば、今後、ピコメートルオーダーの変位計測分野を発展させることで、材料本来が有する構造と特性の相関性についての理解を大きく進展させることができると考えられる。
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