| 研究課題/領域番号 |
17K14324
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
物性Ⅰ
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| 研究機関 | 群馬大学 (2018)
大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構 (2017) |
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研究代表者 |
鈴木 真粧子 (酒巻 / 酒巻 真粧子) 群馬大学, 大学院理工学府, 准教授 (90598880)
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| 研究協力者 |
雨宮 健太
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| 研究期間 (年度) |
2017-04-01 – 2019-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2018年度)
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| 配分額 *注記 |
4,160千円 (直接経費: 3,200千円、間接経費: 960千円)
2018年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2017年度: 2,860千円 (直接経費: 2,200千円、間接経費: 660千円)
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| キーワード | X線吸収分光 / 深さ分解 / 磁性薄膜 / イオン伝導体 / 表面・界面 / 電界効果 / 界面 / X線磁気円二色性 / 表面・界面物性 / Ｘ線 |
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| 研究成果の概要 |
電界中で強磁性体の界面における化学・磁気状態を観察するために、申請者らは従来の電子収量型深さ分解X線吸収分光(XAS)法を応用し、電界の影響を受けない蛍光収量型深さ分解XAS測定システムの開発を行った。これまでに、nmレベルの深さ分解能で界面状態を観察することに成功した。さらに本研究では、注目する元素の蛍光をエネルギー選別して余分な元素由来のバックグラウンドを減らすことで、S/B比の大幅な向上を可能とする蛍光分光型深さ分解XAS測定システムへの高度化を行った。その結果、FeCo薄膜におけるFeとCoの蛍光分光型XASスペクトルを得ることに成功し、約100倍のS/B比向上を実現した。
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
多くの積層デバイスにおいて、演算や記憶などの機能を担っているのは界面であり、さらなる機能の向上を目指すには界面の精密な電子状態を調べる必要がある。界面を直接観察する手法は限られ、特に分光学的な分析法は我々が開発を行う深さ分解XAS法が唯一の手法である。さらに最近ではよりデバイスの動作状態に近い環境で界面観察をする手法が求められており、本研究で開発した蛍光分光型深さ分解XAS法を用いることで、電場や磁場がある環境でも高感度に界面の化学・磁気状態を観察することが可能となった。nmの深さ分解能で界面状態を直接観察するオペランド分析法として、多くの積層デバイスへの応用が期待できる。
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