研究課題/領域番号 |
17K18863
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研究種目 |
挑戦的研究(萌芽)
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配分区分 | 基金 |
研究分野 |
電気電子工学およびその関連分野
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研究機関 | 東北大学 |
研究代表者 |
石山 和志 東北大学, 電気通信研究所, 教授 (20203036)
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研究期間 (年度) |
2017-06-30 – 2019-03-31
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研究課題ステータス |
完了 (2018年度)
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配分額 *注記 |
6,370千円 (直接経費: 4,900千円、間接経費: 1,470千円)
2018年度: 3,640千円 (直接経費: 2,800千円、間接経費: 840千円)
2017年度: 2,730千円 (直接経費: 2,100千円、間接経費: 630千円)
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キーワード | 高周波磁界計測 / 磁気光学効果 / EMC / 低侵襲 / 計測工学 |
研究成果の概要 |
測定対象物近傍から金属を排した新しい計測方法として、磁気光学効果を用いた方法について研究を行った。ここではその感度を高めるために、パルスレーザの新しい変調方式を提案し、高い感度を得た。この方式により、パワーアンプチップ近傍の漏洩磁界の可視化に成功するとともに、可搬型のプロトタイプを試作し、展示会でのデモンストレーションを行った。
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研究成果の学術的意義や社会的意義 |
携帯電話や無線LANをはじめとする高周波電磁界を利用した機器が広く使われるとともに、それらの電波の干渉による通信障害も生じている。しかしながらこれらの機器が使用するGHzの近傍磁界の計測手法はいまだ確立していない。なぜなら、磁界センサは信号伝送ケーブルを含めて金属材料で構成されており、そこで発生する渦電流により磁界分布を乱してしまい、正確な測定が不可能になるためである。そこで研究代表者は、測定対象物近傍から一切の金属を排して測定可能な磁気光学効果を利用した方法での高周波次回計測について検討してきている。今回はその高感度化と小型化に着目し、新たな変調方式の利用によりそれを実現した。
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