| 研究課題/領域番号 |
18350041
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
分析化学
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| 研究機関 | 福井大学 |
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研究代表者 |
青木 幸一 福井大学, 大学院・工学研究科, 教授 (80142264)
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| 研究分担者 |
陳 競鳶 福井大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (50311676)
西海 豊彦 福井大学, 大学院・工学研究科, 助教 (10377476)
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| 研究期間 (年度) |
2006 – 2008
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| 研究課題ステータス |
完了 (2008年度)
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| 配分額 *注記 |
17,060千円 (直接経費: 15,800千円、間接経費: 1,260千円)
2008年度: 1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
2007年度: 3,510千円 (直接経費: 2,700千円、間接経費: 810千円)
2006年度: 11,600千円 (直接経費: 11,600千円)
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| キーワード | 走査プローブ顕微鏡 / ナノ材料 / 表面界面物性 / メゾスコピック系 / 可視化 / 電気化学測定 / ボルタンメトリ |
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| 研究概要 |
ここで用いたナノ電極は、ナノメートルの電極活性部が溶液中に露出するよう、膜で被覆した電極である。走査型電気化学顕微鏡(SECM)では、測定基盤と端子との間に流れるファラデー電流を測定する。この研究では、2つの特徴を活かす電極作製技術を開発し、電流の測定法およびその解析法に挑戦した。ガラス被覆ナノ電極の作製に成功し、繰り返し使用が可能となり、原子像を測定可能な走査型トンネル顕微鏡にも利用できることを示した。
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