研究課題/領域番号 |
18360300
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研究種目 |
基盤研究(B)
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配分区分 | 補助金 |
応募区分 | 一般 |
研究分野 |
金属物性
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研究機関 | 東北大学 |
研究代表者 |
林 好一 東北大学, 金属材料研究所, 准教授 (20283632)
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研究分担者 |
宇佐美 徳隆 東北大学, 金属材料研究所, 准教授 (20262107)
松原 英一郎 京都大学, 工学研究科, 教授 (90173864)
松下 智裕 東北大学, 高輝度光科学研究センター, 副主幹研究員 (10373523)
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研究期間 (年度) |
2006 – 2009
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研究課題ステータス |
完了 (2009年度)
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配分額 *注記 |
17,430千円 (直接経費: 15,000千円、間接経費: 2,430千円)
2009年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
2008年度: 4,290千円 (直接経費: 3,300千円、間接経費: 990千円)
2007年度: 4,420千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 1,020千円)
2006年度: 6,900千円 (直接経費: 6,900千円)
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キーワード | ホログラフィー / 電子顕微鏡 / 三次元原子像 / 局所構造 / 結晶構造 / 3次元原子像 |
研究概要 |
電子線を試料に照射し,試料方位を変える際の特性X線の強度変化を測定することにより,原子の三次元配置を記録したホログラムを測定できる"電子線励起X線ホログラフィー"を提案した.本研究では,SrTiO_3単結晶に6keVの電子ビームを照射し,得られたTi Kのホログラムから,フーリエ変換により近接のSr及びTi原子を再生することに成功した.また,原子分解能ホログラフィー技術の最先端の応用として,混晶材料である気希薄磁性半導体Zn_<0.4>Mn_<0.6>Te及形状記憶合金Ti_<50>Ni_<44>Fe_6の局所的な格子歪みを,X線ホログラフィー用いて評価した.
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