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構造テストに高故障検出効率を保証するプロセッサの命令レベル自己テスト法

研究課題

研究課題/領域番号 18500038
研究種目

基盤研究(C)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 計算機システム・ネットワーク
研究機関奈良先端科学技術大学院大学

研究代表者

井上 美智子  奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 准教授 (30273840)

研究分担者 大竹 哲史  奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (20314528)
米田 友和  奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (20359871)
研究期間 (年度) 2006 – 2008
研究課題ステータス 完了 (2008年度)
配分額 *注記
4,180千円 (直接経費: 3,700千円、間接経費: 480千円)
2008年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2007年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2006年度: 2,100千円 (直接経費: 2,100千円)
キーワード設計自動化 / VLSIのテスト / テスト容易化設計 / プロセッサ自己テスト / 命令レベル自己テスト / テストプログラムテンプレート / 誤りマスク / 実動作速度テスト / VLSI / テスト生成 / プロセッサ / 遅延故障
研究概要

本研究では、機能テストと構造テストの特長を活かしたテスト手法である、プロセッサの命令レベル自己テスト法の研究を行った.パイプラインプロセッサに対し、モジュール単体でのテスト生成と命令列探索を組み合わせて効率のよいテスト生成手法を提案し、パス遅延故障に対し高い故障検出効率が得られることを示した.さらに、自己テストプログラムを効率よく生成する手法であるテンプレートを用いて生成された自己テストプログラムのためのテスト容易化設計手法を提案した提案法は、テンプレートレベル故障検出効率100%、すなわち、誤りマスクを完全に回避できることを特長とする.

報告書

(4件)
  • 2008 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2007 実績報告書
  • 2006 実績報告書
  • 研究成果

    (15件)

すべて 2009 2008 2006 その他

すべて 雑誌論文 (9件) (うち査読あり 6件) 学会発表 (6件)

  • [雑誌論文] Unsensitizable Path Identification at RTL Using High-Level Synthesis Information2009

    • 著者名/発表者名
      S. Ohtake
    • 雑誌名

      Digest of papers of 16th IEEE International Test Synthesis Workshop (CD-ROM)

    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Design for testability method to avoid error masking of software-based self-test for processors2008

    • 著者名/発表者名
      Masato Nakazato, Michiko Inoue, Satoshi Ohtake and Hideo Fujiwara
    • 雑誌名

      IEICE Trans. on Information and Systems Vol.E91-D, No.3

      ページ: 763-770

    • NAID

      10026802191

    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Design for Testability Method to Avoid Error Masking of Software-Based Self-Test for Processors2008

    • 著者名/発表者名
      M. Nakazato
    • 雑誌名

      IEICE Trans. on Information and Systems E91-D.3

      ページ: 763-770

    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Instruction-based self-testing of delay faults in pipelined processors2006

    • 著者名/発表者名
      Virendra Singh, Michiko Inoue, Kewal K. Saluja and Hideo Fujiwara
    • 雑誌名

      IEEE Trans. on Very Large Scale Integration(VLSI)Systems Vol.14, No.11

      ページ: 1203-1215

    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Instruction-based self-testing of delay faults in pipelined processors2006

    • 著者名/発表者名
      Virendra Singh
    • 雑誌名

      IEEE Trans. on Very Large Scale Integration (VLSI)Systems 14・11

      ページ: 1203-1215

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] Design for testability of software-based self-test for processors2006

    • 著者名/発表者名
      Masato Nakazato
    • 雑誌名

      15th IEEE Asian Test Symposium (ATS'06)

      ページ: 375-380

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] プロセッサの命令レベル自己テストのためのテスト容易化設計2006

    • 著者名/発表者名
      中里 昌人
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術報告 ICD2006 106・92

      ページ: 49-54

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] Delay Test of FPGA Routing Networks by Branched Test Paths

    • 著者名/発表者名
      E. Hammari
    • 雑誌名

      Digest of Papers, 13th IEEE European Test Symposium (CD-ROM)

    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Partial scan approach for secret information protect ion

    • 著者名/発表者名
      M. Inoue
    • 雑誌名

      Proceedings of 14th IEEE European Test Symposium (掲載決定)

    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] RTLパス数最小化のためのリソースバインディング法2009

    • 著者名/発表者名
      Y. Uemoto
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2009-02-16
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] Unsensitizable Path Identification at RTL Using High-Level Synthes is Information2009

    • 著者名/発表者名
      Satoshi Ohtake, Naotsugu Ikeda, Michiko Inoue, Hideo Fuji waral
    • 学会等名
      Digest of papers of 16th IEEE International Test Synthesis Workshop
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [学会発表] Partial scan approach for secret information protection2009

    • 著者名/発表者名
      Michiko Inoue, Tomokazu Yoneda, Muneo Hasegawa and Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      Proceedings of the 14th IEEE European Test Symposium(ETS'09)
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [学会発表] "Delay test of FPGA routing networks by branched test paths, " Informal Digest of Papers2008

    • 著者名/発表者名
      Elena Hammari, Michiko Inoue, Einar J. Aas and Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      13th IEEE European Test Symposium(ETS'08)
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [学会発表] Design for testability of software-based self-test for processors2006

    • 著者名/発表者名
      Masato Nakazato, Satoshi Ohtake, Michiko Inoue and Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      15th IEEE Asian Test Symposium(ATS'06)
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [学会発表] プロセッサの命令レベル自己テストのためのテスト容易化設計2006

    • 著者名/発表者名
      中里昌人, 大竹哲史, 井上美智子, 藤原秀雄
    • 学会等名
      信学技報(ICD2006-40~59)
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書

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公開日: 2006-04-01   更新日: 2016-04-21  

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