• 研究課題をさがす
  • 研究者をさがす
  • KAKENの使い方
  1. 前のページに戻る

組み込みシステムに対するソフト/ハード協調テスト法の開発

研究課題

研究課題/領域番号 18500055
研究種目

基盤研究(C)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 計算機システム・ネットワーク
研究機関愛媛大学

研究代表者

高松 雄三  愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 教授 (80039255)

研究分担者 高橋 寛  愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 准教授 (80226878)
樋上 喜信  愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 准教授 (40304654)
阿萬 裕久  愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 講師 (50333513)
研究期間 (年度) 2006 – 2008
研究課題ステータス 完了 (2008年度)
配分額 *注記
4,000千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 600千円)
2008年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2007年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2006年度: 1,400千円 (直接経費: 1,400千円)
キーワード組み込みシステム / テスト / ハードウエア / ソフトウエア / 協調テスト / ソフト / ハード協調設計 / ハード協調テスト / テストケース / ソフトウエアメトリクス / 保守性 / ハードウエア記述言語
研究概要

本研究では, 組み込みシステムに対して自動的にテストケースを生成する手法を開発した. 開発した手法では, システムをハードウエアとソフトウエアにく別することなく, システム全体をテストすることが可能となる. また, テスト生成においては, 仕様で与えられたシステムの動作やテスト生成時の様々な制約を論理回路で表現し, ハードウエアテスト生成ツールを用いた手法を開発することで, 実用化が容易となるようにした.

報告書

(4件)
  • 2008 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2007 実績報告書
  • 2006 実績報告書
  • 研究成果

    (21件)

すべて 2008 2007 2006

すべて 雑誌論文 (8件) (うち査読あり 4件) 学会発表 (13件)

  • [雑誌論文] ハードウェアテスト生成ツールを用いた組込みシステムに対するテストケール生成法2008

    • 著者名/発表者名
      樋上喜信, 藤尾昇平, 阿萬裕久, 高橋寛, 高松雄三
    • 雑誌名

      組込みシステムシンポジウム論文集

      ページ: 151-157

    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] ハードウェアテスト生成ツールを用いた組込みシステムに対するテストケース生成法2008

    • 著者名/発表者名
      樋上喜信, 藤尾昇平, 阿萬裕久, 高橋寛, 高松雄三
    • 雑誌名

      組込みシステムシンポジウム論文集 無し

      ページ: 151-157

    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] ハードウエア設計に対するソフトウエアメトリクスの適用2007

    • 著者名/発表者名
      阿萬裕久, 池田裕輔, 市川直樹, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
    • 雑誌名

      電子情報通信学会総合大会論文集

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] On Finding Don't Cares in Test Sequences for Sequential Circuits2006

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, S. Kajihara, I. Pomeranz, S. Kobayashi and Y. Takamatsu
    • 雑誌名

      IEICE Trans. on Inf. & Syst. vol.E89-D, no.11

      ページ: 2748-2755

    • NAID

      110007538482

    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] 組合せ回路および順序回路に対する検出・非検出情報に基づく診断用テスト圧縮法2006

    • 著者名/発表者名
      樋上喜信, Kewal K. Saluja, 高橋寛, 小林真也, 高松雄三
    • 雑誌名

      情報処理学会論文誌 vol.47, no.5

      ページ: 1269-1277

    • NAID

      110004729724

    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] ソースコードにおけるコメント文の割合と保守性との関係に関する考察2006

    • 著者名/発表者名
      岡崎博和, 阿萬裕久, 山田宏之
    • 雑誌名

      第5回情報科学技術フォーラム(FIT2006) 論文集

      ページ: 111-114

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] ソースコードの外部依存率と保守性との関係に関する考察2006

    • 著者名/発表者名
      土居通夫, 阿萬裕久, 山田宏之
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術報告 106・326

      ページ: 31-36

    • NAID

      110004851227

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] ソースコードの保守性に対するコメント文の影響2006

    • 著者名/発表者名
      岡崎博和, 阿萬裕久, 山田宏之
    • 雑誌名

      ソフトウェア工学の基礎 XIII

      ページ: 35-40

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [学会発表] オープンソース開発におけるバグ報告累積数の成長曲線モデルを用いた分析2008

    • 著者名/発表者名
      黒川耕平, 阿萬裕久
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術報告, vol.108, no.326, pp.61-66
    • 年月日
      2008-11-28
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [学会発表] オープンソース開発におけるバグ報告累積数の成長曲線モデルを用いた分析2008

    • 著者名/発表者名
      黒川耕平, 阿萬裕久
    • 学会等名
      電子情報通信学会
    • 発表場所
      福岡
    • 年月日
      2008-11-28
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] 原因-結果グラフを用いた組込みシステムに対する自動テストケール生成法2008

    • 著者名/発表者名
      藤尾昇平, 阿萬裕久, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
    • 学会等名
      電気関係学科四国支部連合大会論文集, p. 300
    • 年月日
      2008-09-27
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [学会発表] 原因-結果グラフを用いた組込みシステムに対する自動テストケース生成法2008

    • 著者名/発表者名
      藤尾昇平, 阿萬裕久, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
    • 学会等名
      電気関係学科四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島
    • 年月日
      2008-09-27
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] 要求仕様作成に対する直交表を用いた支援法について2008

    • 著者名/発表者名
      阿萬裕久
    • 学会等名
      ソフトウェアシンポジウム2008 Proceedings, pp.154-155
    • 年月日
      2008-06-25
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [学会発表] 要求仕様作成に対する直交表を用いた支援法について2008

    • 著者名/発表者名
      阿萬裕久
    • 学会等名
      ソフトウェアシンポジウム2008
    • 発表場所
      高松
    • 年月日
      2008-06-25
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について2008

    • 著者名/発表者名
      高橋寛, 樋上喜信, 阿萬裕久, 釜山天平, 小林真也, 高松雄三
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 年月日
      2008-03-18
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [学会発表] ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について2008

    • 著者名/発表者名
      高橋 寛, 樋上 喜信, 阿萬 裕久, 釜山 天平, 小林 真也, 高松 雄三
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      早稲田大学(北九州市)
    • 年月日
      2008-03-18
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] 直交表を用いた単体テストに関する考察~JUnit支援ツールの試作~2007

    • 著者名/発表者名
      山田輝, 阿萬裕久, 高松雄三
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術報告, vol.107, no.5, pp.1-6
    • 年月日
      2007-04-19
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [学会発表] 直交表を用いた単体テストに関する考察 〜JUnit支援ツールの試作2007

    • 著者名/発表者名
      山田 輝・阿萬 裕久・高松 雄三
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術報告
    • 発表場所
      会津大学(会津若松市)
    • 年月日
      2007-04-19
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] ハードウエア設計に対するソフトウェアメトリクスの適用2007

    • 著者名/発表者名
      阿萬裕久, 池田裕輔, 市川直樹, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 年月日
      2007-03-21
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [学会発表] ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法2007

    • 著者名/発表者名
      樋上喜信, K. K. Saluja, 高橋寛, 小林真也, 高松雄三
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術報告(DC研究会), vol. 106, no. 476, pp. 34-39
    • 年月日
      2007-02-09
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [学会発表] Diagnosis of Transistor Shorts in Logic Test Environment2006

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, K. K. Saluja, H. Takahasi, K. Kobayashi and Y. Takamatsu
    • 学会等名
      Proc. IEEE Fifteenth Asian Test Symposium, pp. 354-359
    • 年月日
      2006-11-26
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書

URL: 

公開日: 2006-04-01   更新日: 2016-04-21  

サービス概要 検索マニュアル よくある質問 お知らせ 利用規程 科研費による研究の帰属

Powered by NII kakenhi