研究開発競争と企業のイノベーション・パフォーマンス

• 研究課題/領域番号: 18530170
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 応用経済学
• 研究機関: 一橋大学
• 研究代表者: 長岡 貞男 一橋大学, イノベーション研究センター, 教授 (00255952)
• 研究期間 (年度): 2006 – 2008
• 研究課題ステータス: 完了 (2008年度)
• 配分額: 3,340千円 (直接経費: 2,800千円、間接経費: 540千円); 2008年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円); 2007年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円); 2006年度: 1,000千円 (直接経費: 1,000千円)
• キーワード: 研究開発 / 研究開発のスピード / 特許審査 / サイエンス・リンケージ / 特許の藪 / 累積的なイノベーション / 試験研究例外 / 特許 / 特許の被引用度 / 時価簿価比率 / 累積的な技術革新

研究概要

第一に、研究開発競争における競争優位の源泉として、スピード、異なる技術分野の知識融合、及びサイエンスの吸収能力が重要であることを、米国の特許データを利用して実証的に検証した。また、特許審査においても日本企業の特許出願の多くが古い特許文献で拒絶されていることも統計的に明らかにした。第二に、技術の補完性が高い分野においては、健全な研究開発競争を促す制度(特許制度、競争政策)の構築・運用が特に重要であることも示した。

研究成果

• [雑誌論文] Does Strong Patent Protection Facilitate International Technology Transfer : Some Evidence from Licensing Contracts of Japanese Firms (2009)
  • 著者名/発表者名: Nagaoka Sadao
  • 雑誌名: Journal of Technology Transfer Vol. 34, No.2 ページ: 1030-1034
  • 査読あり
• [雑誌論文] The Structure and the Evolution of Essential Patents for Standards : Lessons : from Three IT Standards (2009)
  • 著者名/発表者名: Nagaoka, Sadao Naotoshi Tsukada Tomoyuki Shimbo
  • 雑誌名: In Uwe Cantner, Jean-Luc Gaffard, Lionel Nesta (Eds. )Schumpeterian Perspectives on Innovation, Competition and Growth, Springer (近刊)(現在online版)
  • 査読あり
• [雑誌論文] Does Strong Patent Protection Facilitate International Technology Transfer?: Some Evidence from Licensing Contracts of Japanese Firms (2008)
  • 著者名/発表者名: Sadao Nagaoka
  • 雑誌名: Journal of Technology Transfer 近刊(現在on line版)
  • 査読あり
• [雑誌論文] Assessing the R&D Management of a Firm in Terms of Speed and Science Linkage : Evidence from the US Patents (2007)
  • 著者名/発表者名: Nagaoka Sadao
  • 雑誌名: Journal of Economics & Management Strategy Vol. 16, No. 1 ページ: 129-156
  • 査読あり
• [雑誌論文] "How does the patent examination system work? : Evidence from the patent examination records of Japan (2006)
  • 著者名/発表者名: Sadao Nagaoka
  • 雑誌名: OECD開催による国際会議("Patents Statistics for Policy Decision Making" October 23-24, 2006, Vienna, Austria) ページ: 20-20
• [雑誌論文] The Structure and the Evolution of Essential Patents for Standards : Lessons from Three IT Standards(In Uwe Cantner, Jean-Luc Gaffard, Lionel Nesta (Eds.))
  • 著者名/発表者名: Nagaoka, Sadao, Naotoshi Tsukada and Tomoyuki Shimbo
  • 雑誌名: Schumpeterian Perspectives on Innovation, Competition and Growth, Springer (One of the best papers presented in the International Schumpeterian Conference at Nice)
  • 査読あり
• [学会発表] An Empirical Assessment of the Effects of Patent Thickets (2008)
  • 著者名/発表者名: Nagaoka, Sadao and Yoichiro Nishimura
  • 学会等名: The 9th International Conference on Patent and Innovation, Applied Econometrics Association(AEA)
  • 発表場所: 一橋大学(学会)(発表)
• [学会発表] An Empirical Assessment of the Effects of Patent Thickets (Keynote Speech) (2008)
  • 著者名/発表者名: Sadao Nagaoka, Yoichiro Nishimuara
  • 学会等名: The 9th International Conference on Patent and lnnovation, Applied Econometrics Association (AEA)
  • 発表場所: 一橋大学
• [学会発表] An Economic Analysis of Patent Law Exemption for Research on a Patented Invention (2008)
  • 著者名/発表者名: Sadao Nagaoka, Reiko Aoki
  • 学会等名: The 9th International Conference on Patent and lnnovation, Applied Econometrics Association (AEA)
  • 発表場所: 一橋大学
• [学会発表] Economic Analysis of Patent Law Exemption for Research on a Patented Innovation (2007)
  • 著者名/発表者名: Nagaoka Sadao and Reiko Aoki
  • 学会等名: The EEA/ESEM Joint Meeting(22nd Annual Congress of the European Economic Association(EEA)and 62nd European Meeting of the Econometric Society(ESEM))
  • 発表場所: Budapest(学会)(発表)
• [学会発表] An Empirical Assessment of the Effects of Patent Thickets (Keynote Speech) (2007)
  • 著者名/発表者名: Sadao Nagaoka and Yoichiro Nishimuara
  • 学会等名: International Conference on Patent & Innovation: Economic Studies, Applied Econometric Association
  • 発表場所: Strasbourg, Louis Pasteur University
• [学会発表] Economic Analysis of Patent Law Exemption for Research on a Patented Innovation (2007)
  • 著者名/発表者名: Sadao Nagaoka and Reiko Aoki
  • 学会等名: The EEA/ESEM Joint Meeting (22nd Annual Congress of the European Economic Association (EEA) and 62nd European Meeting of the Econometric Society (ESEM))
  • 発表場所: Budapest
• [学会発表] How Does the Patent Examination System Work? : Evidence from the Patent Examination Records of Japan (2006)
  • 著者名/発表者名: Nagaoka Sadao
  • 学会等名: OECDが共催した国際会議Patents Statistics for Policy Decision Making
  • 発表場所: Vienna, Austria
• [備考]
  • URL: http://www.iir.hit-u.ac.jp/iir-w3/staff/staff_nagaoka.html
• [備考]
  • URL: http://www.iir.hit-u.ac.jp/iir-w3/staff/staff_nagaoka.html