| 研究課題/領域番号 |
18560096
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
機械材料・材料力学
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| 研究機関 | 富山県工業技術センター |
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研究代表者 |
佐山 利彦 富山県工業技術センター, 機械電子研究所, 副主幹研究員 (40416128)
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| 研究分担者 |
釣谷 浩之 富山県工業技術センター, 中央研究所 加工技術課, 主任研究員 (70416147)
上杉 健太朗 (財)高輝度光科学研究センター, 利用研究促進部門イメージングチーム, 研究員 (80344399)
森 孝男 富山県立大学, 工学部, 教授 (30275078)
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| 連携研究者 |
上杉 健太朗 財団法人高輝度光科学研究センター, 利用研究促進部門イメージングチーム, 研究員 (80344399)
森 孝男 富山県立大学, 工学部, 教授 (30275078)
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| 研究期間 (年度) |
2006 – 2008
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| 研究課題ステータス |
完了 (2008年度)
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| 配分額 *注記 |
3,830千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 330千円)
2008年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2007年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
2006年度: 2,400千円 (直接経費: 2,400千円)
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| キーワード | 信頼性設計 / 高密度実装 / マイクロ接合部 / X線マイクロCT / 放射光 / はんだ / 熱疲労 / 寿命評価 / エレクトロニクス実装 |
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| 研究概要 |
21世紀の新しい光である放射光を光源とするX線CTの技術を、実際の電子基板に用いられている微細な接合部における繰返し加熱によって発生する損傷の評価に初めて適用しました。
その結果、微細な接合部におけるき裂の発生から破断に至るまでのすべての過程を、電子基板を破壊することなく観察して、その寿命を推定する技術を開発できました。
この技術は、電子機器の信頼性の向上と新しい機器の開発に貢献するものです。
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