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固体フッ素化剤―シリコン界面固相反応を用いたシリコン表面の形状創成加工の研究

研究課題

研究課題/領域番号 18560104
研究種目

基盤研究(C)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 生産工学・加工学
研究機関大阪大学

研究代表者

打越 純一  大阪大学, 大学院・工学研究科, 助教 (90273581)

研究分担者 森田 瑞穂  大阪大学, 大学院・工学研究科, 教授 (50157905)
有馬 健太  大阪大学, 大学院・工学研究科, 助教 (10324807)
研究期間 (年度) 2006 – 2007
研究課題ステータス 完了 (2007年度)
配分額 *注記
3,980千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 480千円)
2007年度: 2,080千円 (直接経費: 1,600千円、間接経費: 480千円)
2006年度: 1,900千円 (直接経費: 1,900千円)
キーワード光エッチング / シリコン / N-フルオロピリジニウム塩 / フッ素化剤 / 塗布 / 露光 / 疎水性 / 親水性 / 形状創成 / 固相反応 / エッチング / 界面 / 近赤外光 / 干渉計
研究概要

本研究は、シンクロトロン放射光用ミラーや半導体基板などに用いられる単結晶シリコンの形状創成加工を、シリコン表面にフッ素化剤を塗布した後、光を照射して固相反応でエッチングを行うことにより実現しようとするものである。固相反応で加工することができれば、目的形状に創成加工を行なった後、シリコンが透明な波長1310nmの近赤外干渉計で形状計測を行いながら加工できるので容易に形状修正加工が行え、高精度な創成加工を行なうことができる。以下に研究成果の概要を示す。
1.シリコン表面を超清浄洗浄し、フッ素化剤を溶媒に溶解して、シリコン表面にフッ素化剤膜を塗布すると洗浄条件により超純水と同様の疎水性または親水性を示すことを確認した。
2.フッ素化剤を塗布したシリコン表面に光を照射し、照射後フッ素化剤を剥離して、位相シフト干渉顕微鏡を用いて加工痕形状を観察した結果、照射部と非照射部で段差ができ、照射部のみ加工されることを確認した。
3.塗布したフッ素化剤を核磁気共鳴分光法(NMR)で分析し、光照射しても大部分は分解しないことを確かめた。
4.紫外から可視の各波長域の光を照射し、加工量(段差)の波長依存性を調べた結果、紫外光でも可視光でも加工できることを明らかにした。
5.加工量の光照射時間依存性を調べた結果、加工量は照射時間とともに増加することを確かめた。
6.可干渉距離を制御した近赤外顕微鏡を用いて、シリコンウエハ表面から内部の貼り合わせ界面のボイドを計測し、平板の曲げたわみモデルの形状と比較して、ボイドがガス分子により形成されていることを明らかにした。
7.近赤外光トポグラフィと近赤外顕微鏡を用いてシリコンウエハ表面から内部の貼り合わせ界面の酸化膜の微細形状を観察できることを明らかにした。

報告書

(3件)
  • 2007 実績報告書   研究成果報告書概要
  • 2006 実績報告書
  • 研究成果

    (26件)

すべて 2008 2007 2006 その他

すべて 雑誌論文 (7件) (うち査読あり 3件) 学会発表 (17件) 備考 (1件) 産業財産権 (1件) (うち外国 1件)

  • [雑誌論文] Characterization of Patterned Oxide Buried in Bonded Silicon-on-Insulator Wafers by Near-Infrared Scattering Topography and Microscopy2008

    • 著者名/発表者名
      Xing WU, et al.
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics 47

      ページ: 3041-3045

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Characterization of Patterned Oxide Buried in Bonded Silicon-on-Insulator Wafers by Near-Infrared Scattering Topography and Microscopy2008

    • 著者名/発表者名
      Xing Wu, Junichi Uchikoshi, Takaaki Hirokane, Ryuta Yamada, Akihiro Takeuchi, Kenta Arima, Mizuho Morita
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics 47(inpress)

    • NAID

      10022549248

    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Characterization of Void in Bonded Silicon-on-Insulator Wafers by Controlling Coherence Length of Light Source using Near-Infrared Microscope2007

    • 著者名/発表者名
      Noritaka AJARI, et al.
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics 46(4B)

      ページ: 1994-1996

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Absolute line profile measurements of plane silicon mirrors with an anti-reflection film using near-infrared ray interferometry2006

    • 著者名/発表者名
      N.Ajari, J.Uchikoshi, A.Tsuda, T.Okamoto, T.Hirokane, A.Funamoto, K.Arima, M.Morita
    • 雑誌名

      PROGRAM and ABSTRACTS, Second International Symposium on Standard Materials and Metrology for Nanotechnology. Tokyo, 2006

      ページ: 25-26

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] Characterization of Void in Bonded SOI Wafers by Controlling Coherence Length of Near-Infrared Microscope2006

    • 著者名/発表者名
      Noritaka Ajari, Junichi Uchikoshi, Takaaki Hirokane, Kenta Arima, Mizuho Morita
    • 雑誌名

      Extended Abstracts of the 2006 International Conference on Solid State Devices and Materials, Yokohama, 2006

      ページ: 486-487

    • NAID

      10022545814

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] Absolute straightness measurements of plane silicon mirrors with wedge by near-infrared ray interferometry2006

    • 著者名/発表者名
      Noritaka Ajari, Junichi Uchikoshi, Amane Tsuda, Akihiro Funamoto, Kenta Arima, Mizuho Morita
    • 雑誌名

      Extended Abstracts of International 21st Century COE Symposium on Atomistic Fabrication Technology

      ページ: 127-128

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] 近赤外干渉計によるシリコンミラーの絶対形状測定-ウェッジ付きシリコンミラーの絶対形状測定-2006

    • 著者名/発表者名
      阿砂利典孝, 打越純一, 津田周, 廣兼孝亮, 有馬健太, 森田瑞穂
    • 雑誌名

      精密工学会2006年度関西地方定期学術講演会講演論文集

      ページ: 57-58

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [学会発表] Near-Infrared Scattering Topography and Microscopy Combination Method for Bonded Silicon-on-Insulator Wafers with Patterned Buried Oxide2007

    • 著者名/発表者名
      Junichi Uchikoshi, et al.
    • 学会等名
      Extended Abstracts of International 21st Century COE Symposium on Atomistic Fabrication Technology 2007
    • 発表場所
      Osaka University, Osaka, Japan
    • 年月日
      2007-10-15
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Characterization of Patterned Oxide Buried in BondedSilicon-on-Insulator Wafers by Near-Infrared Scattering Topography and Microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      Xing Wu, et al.
    • 学会等名
      The 2007 International Conference on Solid State Devices and Materials
    • 発表場所
      Tsukuba International Congress Center, Ibaraki, Japan
    • 年月日
      2007-09-20
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Characterization of Patterned Oxide Buried in Bonded Silicon-on-Insulator Wafers by Near-Infrared Scattering Topography and Microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      Xing Wu, et al.
    • 学会等名
      The 2007 International Conference on Solid State Devices and Materials
    • 発表場所
      Tsukuba Congress Center, Ibaraki, Japan
    • 年月日
      2007-09-20
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Characterization of Patterned Oxide Buried in Bonded Silicon-on-Insulat or Wafers by Near-Infrared Scattering Topography and Microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      Xing Wu, Junichi Uchikoshi, Takaaki Hirokane, Ryuta Yamada, Kenta Arima, Mizuho Morita
    • 学会等名
      The 2007 International Conference on Solid State Devices and Materials
    • 発表場所
      Tsukuba International Congress Center, Ibaraki, Japan
    • 年月日
      2007-09-20
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] 傾斜角積分法による超精密形状計測法-焦点距離150mmの軸外し放物面測定での測定点座標の決定-2007

    • 著者名/発表者名
      東保男, 他
    • 学会等名
      2007年度精密工学会秋季大会学術講演会講演論文集
    • 発表場所
      北海道旭川市、旭川市ときわ市民ホール
    • 年月日
      2007-09-13
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Surface Gradient Integrated Profiler for X-ray and EUV Optics-Self calibration method of measured position for an off-axis parabolic mirror(f=150mm)measurement-2007

    • 著者名/発表者名
      Y.Higashi, et al.
    • 学会等名
      SPIE Annual Meeting, Advances in Metrology for K-Ray and EUV Optics II
    • 発表場所
      San Diego Convention Center, San Diego, CA, USA
    • 年月日
      2007-08-30
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Surface Gradient Integrated Profiler for X-ray and EUV Optics-Self calibration method of measured position for an off-axis parabolic mirror(f=150mm)measurement-2007

    • 著者名/発表者名
      Y.Higashi, et al.
    • 学会等名
      SPIE Annual Meeting, Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II
    • 発表場所
      San Diego Convention Center, San Diego, CA, USA
    • 年月日
      2007-08-30
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 近赤外光トポグラフィと赤外顕微鏡による貼り合わせSOIウエハのパターン付埋め込み酸化膜の評価2007

    • 著者名/発表者名
      打越純一, 他
    • 学会等名
      精密工学会2007年度関西地方定期学術講演会講演論文集
    • 発表場所
      大阪府大東市、大阪産業大学
    • 年月日
      2007-08-10
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 傾斜角積分法による放物面の形状計測2007

    • 著者名/発表者名
      鷹家優一, 他
    • 学会等名
      精密工学会2007年度関西地方定期学術講演会講演論文集
    • 発表場所
      大阪府大東市、大阪産業大学
    • 年月日
      2007-08-10
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 近赤外光トポグラフィと赤外顕微鏡による貼り合わせSOIウエハのパターン付埋め込み酸化膜の評価2007

    • 著者名/発表者名
      打越純一呉幸、廣兼孝亮、山田隆太、有馬健太、森田瑞穂
    • 学会等名
      精密工学会2007年度関西地方定期学術講演会
    • 発表場所
      大阪府大東市、大阪産業大学
    • 年月日
      2007-08-10
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] Absolute straightness measurements of plane silicon mirrors with wedge by near-infrared ray interferometry2006

    • 著者名/発表者名
      Noritaka Ajari, et al.
    • 学会等名
      Extended Abstracts of International 21st Century COE Symposium on Atomistic Fabrication Technology
    • 発表場所
      Osaka University, Osaka, Japan
    • 年月日
      2006-10-19
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Characterization of Void in Bonded SOI Wafers by Controlling Coherence Length of Near-Infrared Microscope2006

    • 著者名/発表者名
      Noritaka Ajari, et al.
    • 学会等名
      Extended Abstracts of the 2006 International Conference on Solid State Devices and Materials
    • 発表場所
      Pacifico Yokohama, Yokohama, Japan
    • 年月日
      2006-09-14
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Surface gradient integrated profiler for X-ray and EUV Optics-3D mapping of 1m-lone flat mirror and off-axis parabolic mirror-2006

    • 著者名/発表者名
      Y.Higashi, et al.
    • 学会等名
      Proceedings of the SPIE, Vol.6317, Advances in X-Ray/EUV Optics, Components, and Applications
    • 発表場所
      San Diego Convention Center, San Diego, CA, USA
    • 年月日
      2006-08-14
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Surface gradient integrated profiler for X-ray and EUV Optics-3 D mapping of 1m-long Components, and Applications, flat mirror and off-axis parabolic mirror-2006

    • 著者名/発表者名
      Y.Higashi, et al.
    • 学会等名
      Proceedings of the SPIE, Vol.6317, Advances in X-Ray/EUV Optics
    • 発表場所
      San Diego Convention Center, San Diego, CA, USA
    • 年月日
      2006-08-14
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 近赤外干渉計によるシリコンミラーの絶対形状測定-ウェッジ付きシリコンミラーの絶対形状測定-2006

    • 著者名/発表者名
      阿砂利典孝, 他
    • 学会等名
      精密工学会2006年度関西地方定期学術講演会講演論文集
    • 発表場所
      和歌山県和歌山市、和歌山大学
    • 年月日
      2006-08-10
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] シンクロトロン放射光用ミラーのための超精密非球面形状測定装置の開発2006

    • 著者名/発表者名
      森勇藏, 他
    • 学会等名
      精密工学会2006年度関西地方定期学術講演会講演論文集
    • 発表場所
      和歌山県和歌山市、和歌山大学
    • 年月日
      2006-08-10
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Absolute line profile measurements of plane silicon mirrors with an anti-reflection film using near-infrared ray interferometry2006

    • 著者名/発表者名
      N.Ajari, et al.
    • 学会等名
      PROGRAM and ABSTRACTS, Second International Symposium on Standard Materials and Metrology for Nanotechnology
    • 発表場所
      Advanced Industrial Science and Technology, Tokyo Akihabara Site, Tokyo
    • 年月日
      2006-05-25
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [備考] 「研究成果報告書概要(和文)」より

    • URL

      http://www-pm.prec.eng.osaka-u.ac.jp/

    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [産業財産権] エッチング方法2008

    • 発明者名
      森田瑞穂、打越純一、足達健二、永井隆文
    • 権利者名
      大阪大学、ダイキン工業株式会社
    • 産業財産権番号
      2008-085942
    • 出願年月日
      2008-03-28
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
    • 外国

URL: 

公開日: 2006-04-01   更新日: 2016-04-21  

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