局所的なスピン整列状態の操作-ナノスピンクラフトの試み

• 研究課題/領域番号: 18686004
• 研究種目: 若手研究(A)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 薄膜・表面界面物性
• 研究機関: 北海道大学
• 研究代表者: 細井 浩貴 北海道大学, 大学院情報科学研究科, 特任助教 (00396334)
• 研究期間 (年度): 2006 – 2008
• 研究課題ステータス: 完了 (2008年度)
• 配分額: 30,420千円 (直接経費: 23,400千円、間接経費: 7,020千円); 2008年度: 4,290千円 (直接経費: 3,300千円、間接経費: 990千円); 2007年度: 6,500千円 (直接経費: 5,000千円、間接経費: 1,500千円); 2006年度: 19,630千円 (直接経費: 15,100千円、間接経費: 4,530千円)
• キーワード: 走査プローブ顕微鏡 / ナノ磁性 / 表面磁性 / スピン操作 / 表面・界面物性 / 磁性 / 磁気記録 / スピンエレクトロニクス / スビンエレクトロニクス

研究概要

スピン・電荷整列状態の制御に使用するマグネタイト表面の作製・評価を行った。その結果、清浄かつ平坦な表面作製条件を確立し、走査型トンネル顕微鏡、ならびに、非接触原子間力顕微鏡を用いた原子分解能観察に成功した。非接触原子間力顕微鏡による原子像観察は世界に先駆けた結果である。また、整列相の制御に必要となる強磁場対応の極低温超高真空走査型プローブ顕微鏡の開発を行い、Si 表面の原子分解能観察に成功した。

研究成果

• [雑誌論文] Surface potential imaging of CNT-FET devices by scanning Kelvin probe microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: H.Hosoi, N.Nakamura, Y.Yamada, K.Sueoka, and K.Mukasa
  • 雑誌名: Journal of Physics conference series 100
  • 査読あり
• [雑誌論文] Surface potential imaging of CNT-FET devices by scanning Kelvin probe microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: H. Hosoi, N. Nakamura, Y. Yamada K. Sueoka, and K. Mukasa
  • 雑誌名: Journal of Physics conference series 100
  • 査読あり
• [学会発表] A low temperature ultrahigh vacuum scanning probe microscope (2009)
  • 著者名/発表者名: H.Hosoi and K.Sueoka
  • 学会等名: The 2nd international symposium on Global COE program of center for next-generation information technology based on knowledge discovery and knowledge federation
  • 発表場所: 北海道札幌市
  • 年月日: 2009-01-20
• [学会発表] Noncontact-atomic Force Microscopy Study of Fe304(001) Surface (2009)
  • 著者名/発表者名: T. Mizuno, H. Hosoi, A. Subagyo and K. Sueoka
  • 学会等名: The 2nd international symposium on Global COE program of center for next-generation information technology based on knowledge discovery and knowledee federation
  • 発表場所: 北海道札幌市
  • 年月日: 2009-01-20
• [学会発表] 極低温超高真空走査プローブ顕微鏡の開発 (2008)
  • 著者名/発表者名: 細井浩貴, 天草貴昭, 末岡和久
  • 学会等名: 若手研究者支援のための産学協同GCOEシンポジウム
  • 発表場所: 北海道札幌市
  • 年月日: 2008-10-04
• [学会発表] Fe304(001)表面における酸素原子の配列に関する研究 (2008)
  • 著者名/発表者名: 水野太一, 細井浩貴, アグススバギョ, 末岡和久
  • 学会等名: 若手研究者支援のための産学協同GCOEシンポジウム
  • 発表場所: 北海道札幌市
  • 年月日: 2008-10-04
• [学会発表] Atomic scale imaging on Fe3O4(001) surface studied by Non-contact Atomic Force Microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: T.Mizuno, H.Hosoi, A.Subagyo and K.Sueoka
  • 学会等名: 11th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy(NC-AFM 2008)
  • 発表場所: Madrid(Spain)
  • 年月日: 2008-09-16
• [学会発表] Atomic scale imaging on Fe304(001) surface studied by Non-contact Ato mic Force Microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: T. Mizuno, H. Hosoi, A. Subagyo and K.Sueoka
  • 学会等名: 11th International Conference on Non-contact Ato mic Force Microscopy (NC-AFM 2008)
  • 発表場所: Madrid (Spain)
  • 年月日: 2008-09-16
• [学会発表] Noncontact-atomic Force Microscopy Study of Fe3O4 Surface (2008)
  • 著者名/発表者名: T.Mizuno, H.Hosoi, A.Subagyo, K.Yamamoto and K.Sueoka
  • 学会等名: International Conference on Nanoscale + Technology 2008 (ICN+T 2008)
  • 発表場所: Denver (USA)
  • 年月日: 2008-07-20
• [学会発表] Noncontact-atomic Force Microscopy Study of Fe304 Surface (2008)
  • 著者名/発表者名: T. Mizuno, H. Hosoi, A. Subagyo, K. Yamamoto and K. Sueoka
  • 学会等名: International Conference on Nanoscale + Technolo gy 2008 (ICN+T 2008)
  • 発表場所: Denver (USA)
  • 年月日: 2008-07-20
• [学会発表] NC-AFMによるFe_3O_4(001)薄膜の観察 (2008)
  • 著者名/発表者名: 水野太一, アグススバギョ, 細井浩貴, 末岡和久
  • 学会等名: 第55回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 千葉県船橋市
  • 年月日: 2008-03-28
• [図書] Applications to Insulators, (Springer Handbook of Nanotechnology 2nd edition), (edited by B.Bhushan). Part C, section 24.3 (2006)
  • 著者名/発表者名: H.Hosoi, K.Sueoka, and K.Mukasa
  • 出版者: Springer-Verlarg
• [図書] Applications to Insulators (Part C, section 24.3)(edited by B. Bhushan)(Springer Handbook of Nanotechnology 2nd edition) (2006)
  • 著者名/発表者名: H.Hosoi, K.Sueoka, K.Mukasa
  • 総ページ数: 8
  • 出版者: Springer-Verlarg