| 研究概要 |
近年の集積回路の微細加工の技術の進歩に伴い,並列計算システムやVLSIシステムなどのマルチプロセッサシステムの規模は飛躍的に大きくなったが,一方でシステム内のプロセッサの故障数を大きくし,そのためにシステム内の耐故障化技術の開発が大きくなってきた.本研究では,耐故障化の技術の一つである故障診断に関連して,正しい動作と誤った動作をくり返すような断続的な故障を持ったプロセッサが存在した場合のマルチプロセッサシステムの故障診断について考察した.特に,平成18年度では
1.t個の故障プロセッサを常に発見できるようなシステムとはどのような構造を持ったシステムであるか,その条件を理論的に示し,
2.システムが条件を満たしているかどうかを効率的にチェックを行う手法を開発するの2つの課題に対して,1.を解決し,2.についても大部分のシステムに対して動作する手法を提案した.
今年度においては,故障を持ったシステムに対して実際に故障箇所を同定する手法の提案を行い,特に検査箇所を適応的に決定しながら故障箇所を同定する方法について,これまでに知られている最小の手順で動作する手法を確立した.
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