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周波数変調方式AFMを用いた光誘起相互作用力計測に基づく近接場光検出

研究課題

研究課題/領域番号 18760030
研究種目

若手研究(B)

配分区分補助金
研究分野 薄膜・表面界面物性
研究機関京都大学

研究代表者

佐藤 宣夫  京都大学, 工学研究科, 助教 (70397602)

研究期間 (年度) 2006 – 2007
研究課題ステータス 完了 (2007年度)
配分額 *注記
3,300千円 (直接経費: 3,300千円)
2007年度: 1,000千円 (直接経費: 1,000千円)
2006年度: 2,300千円 (直接経費: 2,300千円)
キーワード近接場光学 / プローブ顕微鏡 / 周波数変調方式 / 散逸エネルギー計測 / 光誘起相互作用 / 表面・界面物性 / ノイズ解析 / ナノスケール評価 / 近接場光 / 光誘起相互作用力 / 散逸力 / 周波数変調 / 圧電カンチレバー / 表面物性 / 微小変位検出
研究概要

近接場光によって生じる種々の光誘起相互作用力を散逸力変調によって検出することで「顕微鏡装置」としても、また「計測手法」としても、全く新しい高感度・高分解能ダイナミックモード原子間力顕微鏡/近接場光学顕微鏡(DFM/SNOM)を実現・構築するべく、高感度な力検出が可能な周波数変調(FM)検出制御法を採用し、さらにDFMにおける2種類(光てこ法、自己検出法)の微小変位検出を用いた新たなDFM/SNOM装置を開発した。そのほか本研究装置のノイズ解析、光誘起相互作用力の定量化および計算機シミュレーションによる理論解析も合わせて行った。一連の研究により、周波数変調方式AFMを用いた光誘起相互作用力計測に基づく近接場光検出手法を実現し、確立した。
具体的な本研究成果としてDFM/SNOMにより高感度・高分解能な光学像を安定に得るために、顕微鏡システムが有するノイズ要因を十分に解析し、本装置の最小変位検出感度を、原子・分子分解能を有するAFMの検出感度である20fm/√Hz程度を達成し、本研究装置で分子結晶の分子分解能像が観察できた。またFM検出器の周波数帯域特性が10kHz程度まで拡張され、短時間かつ高感度な相互作用力計測が可能となった。さらに2種類のプローブによる相補的かつ精密な、近接場光検出の距離依存性測定を行ったことで、近接場光が探針に働く力へと変換されるメカニズムとして光放射圧、光誘起静電気力、光熱応力などの複合的な要因があることが確認されるに至った。

報告書

(2件)
  • 2007 実績報告書
  • 2006 実績報告書
  • 研究成果

    (6件)

すべて 2007

すべて 雑誌論文 (1件) (うち査読あり 1件) 学会発表 (5件)

  • [雑誌論文] Multi-probe atomic force microscopy using piezoelectric cantilevers2007

    • 著者名/発表者名
      N. Satoh, E. Tsunemi, Y. Miyato, K. Kobayashi, S. Watanabe, K. Matsushige, H. Yamada
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics 46

      ページ: 5543-5547

    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] Local Surface Potential Measurements on Oligothiophene Molecular Films between Metallic Electrodes by Kelvin Probe Force Microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      Y. Onoyama, K. Kobayashi, N. Satoh, K. Matsushige and H. Yamada
    • 学会等名
      15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    • 発表場所
      Atagawa, Japan
    • 年月日
      2007-12-06
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] Surface potentials of PCBM molecular films under light irradiation investigated by FM-DFM/KFM2007

    • 著者名/発表者名
      M. Yamaki, N. Satoh, S. Katori, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada
    • 学会等名
      15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    • 発表場所
      Atagawa, Japan
    • 年月日
      2007-12-06
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] Development of multi-probe AFM with optical beam deflection method2007

    • 著者名/発表者名
      E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada
    • 学会等名
      Materials Research Society Fall Meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      2007-11-26
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] Local surface potential measurements of oligothiophene molecular films connected to nano-gap metallic electrodes by Kelvin probe force microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      N. Satoh, Y. Onoyama, K. Kaisei, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada
    • 学会等名
      CREST Workshop on Molecular Nano-Electronic Devices
    • 発表場所
      Kyoto, Japan
    • 年月日
      2007-11-19
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] 可視光入射によるFM-DFM/KFMを用いた有機分子薄膜の表面電位計測2007

    • 著者名/発表者名
      佐藤宣夫, 山木理生, 香取重尊, 小林 圭, 藤田静雄, 松重和美, 山田啓文
    • 学会等名
      第68回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      Sapporo, Japan
    • 年月日
      2007-09-08
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書

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公開日: 2006-04-01   更新日: 2016-04-21  

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