| 研究概要 |
・二次電子放出測定による帯電材料パラメータの測定及び解析
KEKにおいて昨年度までに構築した二次電子放出係数測定システムをもちいて,標準サンプル(金,及び石英ガラス)以外のじっさいの宇宙機に使用される材料の二次電子放出測定を行い,現在までに必要とされる材料のほぼすべての測定を完了した。さらに,実際の宇宙軌道上での放射線や紫外線環壌を模擬し,環境負荷を課したサンプルに対する二次電子放出の測定も進めており,環境負荷の要因と材料の種類によっては二次電子放出に顕著な差が生じることが確認できた。この結果は宇宙機の設計時における帯電解析に使用できるため,非常に重要な成果である。
ここで得られた成果は現在IEEE Trans.Plasma Scienceに投稿中である。さらにICPMSEやISDEIV(International Symposium Discharges and Electrical Insulation in Vacuum)にて発表予定である。
・内部帯電計測装置を用いた宇宙環境モニタの開発
プロトン照射した,PMMA(アクリル)やAg-Teflon,Kapton,石英ガラス,カバーガラスなどの絶縁材料内部の帯電計測に成功し,材料内部に蓄積した荷電粒子の挙動の解析を行うことが出来た。また,Teflon,Kaptonのプロトン照射中における試料内部の荷電粒子挙動の計測にも世界で初めて成功することが出来た。また,本研究により,宇宙機搭載用の小型内部帯電計測装置開発への目処を付けることができた。
ここで得られた成果の一部は第37回安全工学シンポジウム(7月,日本学術会議主催),10th-SCTC(6月,主催CNES)やCEIDP2007(10月IEEE/DEIS主催)にて発表を行い,現在IEEE Trans.Plasma Scienceに投稿中である。
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