| 研究課題/領域番号 |
18H00753
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 審査区分 |
小区分03060:文化財科学関連
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| 研究機関 | 東京工業大学 |
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研究代表者 |
小栗 慶之 東京工業大学, 科学技術創成研究院, 教授 (90160829)
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| 研究分担者 |
長谷川 純 東京工業大学, 科学技術創成研究院, 准教授 (90302984)
羽倉 尚人 東京都市大学, 理工学部, 准教授 (00710419)
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| 研究期間 (年度) |
2018-04-01 – 2023-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2022年度)
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| 配分額 *注記 |
16,510千円 (直接経費: 12,700千円、間接経費: 3,810千円)
2022年度: 2,600千円 (直接経費: 2,000千円、間接経費: 600千円)
2021年度: 3,250千円 (直接経費: 2,500千円、間接経費: 750千円)
2020年度: 2,860千円 (直接経費: 2,200千円、間接経費: 660千円)
2019年度: 5,070千円 (直接経費: 3,900千円、間接経費: 1,170千円)
2018年度: 2,730千円 (直接経費: 2,100千円、間接経費: 630千円)
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| キーワード | 蛍光X線分析 / 陽子線励起X線放出 / 吸収端 / 検出下限 / 放射線損傷 / 吸収線量 / 文化財 / 無機系顔料 / 荷電粒子励起X線放出 / 静電イオン加速器 / 赤外分光分析 |
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| 研究成果の概要 |
貴重な文化財試料に含まれる微量元素を，試料の損傷を抑えつつ高感度で測定する手法として，金属標的への陽子線照射で発生した準単色X線を励起源とする蛍光X線分析（PIXRF）系を作製し，その特性を調べた．日本画を模擬したCuを含む標準試料を測定してその検出下限を評価し，また一次X線スペクトルの測定から試料の受ける線量を計算した．その結果，測定対象元素の吸収端に一次X線エネルギーを合わせることで，在来型XRFに比べ同じ検出下限性能を得るための線量を大幅に低減できることが分った．Cu系及びCo系顔料を混合した模擬試料も測定し，Cu標的を用いるとCoだけを選択的に高感度・低線量で測定できることを確認した．
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
人文科学と理工学の境界領域に位置する横断的分野の研究課題であり，従来医療や機器分析等で用いられてきた一般的なX線装置では利用されなかったMeV級イオンビーム技術を積極的に採用したことに技術的特徴がある．従来とは異なるメカニズムを用いて比較的低コストで単色の高品質なX線を発生させ，これにより文化財に含まれる微量元素の高感度・低線量分析を可能とした点に学術的意義がある．貴重な人類の文化遺産を傷つけることなく，より精密に測定評価して後世に伝えてゆくための有効な手法を提案したもので，文化財科学だけでなく，将来は体内微量物質の直接測定等，様々な技術分野への展開も期待される点で社会的意義も大きい．
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