| 研究課題/領域番号 |
18H01333
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 審査区分 |
小区分18010:材料力学および機械材料関連
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| 研究機関 | 横浜国立大学 |
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研究代表者 |
秋庭 義明 横浜国立大学, 大学院工学研究院, 教授 (00212431)
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| 研究期間 (年度) |
2018-04-01 – 2021-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2020年度)
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| 配分額 *注記 |
17,420千円 (直接経費: 13,400千円、間接経費: 4,020千円)
2020年度: 4,940千円 (直接経費: 3,800千円、間接経費: 1,140千円)
2019年度: 3,900千円 (直接経費: 3,000千円、間接経費: 900千円)
2018年度: 8,580千円 (直接経費: 6,600千円、間接経費: 1,980千円)
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| キーワード | X線 / 回折法 / 高分子 / ひずみ / 応力 / 機械的性質 |
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| 研究成果の概要 |
高分子は軽量材料として重要であるが，安全安心して使うためには，材料中に存在する応力や変形損傷を非破壊的に評価する必要がある．本研究では，X線法を用いて，非破壊的に高強度高分子材料の応力および変形挙動を評価する方法について検討した．高分子材料は，結晶質と非晶質があり，結晶性材料でも非晶部分が存在する．ここでは，いくつかの高分子材料を対象として，結晶性材料のみならず非晶性材料についても応力を測定する方法を検討した．特に，除荷後に元に戻る弾性変形領域を含め，それを超えて，元に戻らないくらい変形させた場合の変形量を評価する方法についても検討した．
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
本研究において最も重要な成果は，結晶性高分子および非晶性高分子いずれも，従来のX線装置を用いて応力測定が可能であることを示した点である．特に非晶性材料においては，回折情報が低い角度に現れるハローピークを利用することができることを示した点である．回折情報に対してやや難解な補正を施した場合と，簡便に測定情報をそのまま利用した場合でも則手精度に大きな生じないことを示したが，これは，本手法を現場技術として簡便に利用できることを意味しており，汎用的な手法として期待できる．さらに，弾性域を超えて，塑性変形が生じる場合についても，その変形の程度が評価できることを明らかにすることができた．
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