| 研究課題/領域番号 |
18K01097
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 審査区分 |
小区分03060:文化財科学関連
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| 研究機関 | 独立行政法人国立文化財機構東京文化財研究所 |
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研究代表者 |
間渕 創 独立行政法人国立文化財機構東京文化財研究所, 保存科学研究センター, 保存科学研究センター付 (80601195)
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| 研究期間 (年度) |
2018-04-01 – 2021-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2020年度)
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| 配分額 *注記 |
3,770千円 (直接経費: 2,900千円、間接経費: 870千円)
2020年度: 520千円 (直接経費: 400千円、間接経費: 120千円)
2019年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2018年度: 1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
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| キーワード | 博物館 / カビ / ATP拭き取り検査 / 博物館IPM / ATPふき取り検査 / ATP / IPM |
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| 研究成果の概要 |
近年、博物館等では生物被害対策のための調査方法として、従来食品衛生分野などで利用されてきたATP拭き取り検査が取り入れられ始めている。本研究では、ATP拭き取り検査による博物館等の保存環境におけるカビの活性評価について、その判断の目安となる単位面積当たりのATP発光量の範囲を明らかにした。これにより博物館IPMにおいてATP拭き取り検査を活用していくうえでの基礎的な知見を得ることができ、より適切なカビ被害への対策を選択できるようになった。
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
近年取り入れられている博物館IPMによるカビ対策では、化学薬剤による一律の除菌・殺菌ではなく、カビの活性や状況に応じた、より博物館資料等への負荷が少ない対処方法を検討するが、現状では、カビ活性の評価は測定者の経験によるところが大きい。本研究では、博物館環境で検出された種々のカビについて、ATP拭き取り検査によるカビの活性を評価する単位面積当たりのATP発光量の目安を明らかにした。これによりカビの活性を客観的に判断することができるようになり、文化財や環境への負荷が少ない、より適切なカビの対処方法を選択することが可能となる。
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