• 研究課題をさがす
  • 研究者をさがす
  • KAKENの使い方
  1. 前のページに戻る

広ダイナミックレンジと高感度を両立した新構造シリコンX線センサーの開発

研究課題

研究課題/領域番号 18K04285
研究種目

基盤研究(C)

配分区分基金
応募区分一般
審査区分 小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連
研究機関福岡工業大学 (2021-2022)
九州工業大学 (2018-2020)

研究代表者

有吉 哲也  福岡工業大学, 情報工学部, 准教授 (60432738)

研究分担者 有馬 裕  九州工業大学, マイクロ化総合技術センター, 教授 (10325582)
坂本 憲児  九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 准教授 (10379290)
研究期間 (年度) 2018-04-01 – 2023-03-31
研究課題ステータス 完了 (2022年度)
配分額 *注記
4,290千円 (直接経費: 3,300千円、間接経費: 990千円)
2020年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2019年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2018年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
キーワードX線 / 光子 / センサー / シリコン / フォトダイオード / 半導体 / X線センサー / 単一光子計測 / フォトンカウンタ / 単一X線光子計測 / トレンチダイオード / X線CT / ダイナミックレンジ / シリコンフォトダイオード / フォトンカウンティング / 低被曝線量
研究成果の概要

X線は画像、構造、元素等の各分析で利用されている。近年、X線を量子的な光子として捉え、そのエネルギー情報も利用して従来の濃淡X線画像に加えて元素濃度マッピングを施す光子計数型X線イメージングが考案されている。その中でX線光子検出器はX線画像を得るための重要な機器である。
本研究では安価で無害で加工性に優れているシリコンをX線光子検出器材料として利用する。X線光子検出部であるPN接合シリコンフォトダイオードをトレンチ(溝)状に形成し、X線光子の検出効率を改善する。X線のコンプトン散乱による画像にじみを抑える画素構造のシリコンX線光子検出器を提案した。また、単一γ(X)線光子の検出にも成功した。

研究成果の学術的意義や社会的意義

光子計数型X線イメージングは本質的に検出器の暗電流の影響を抑えることができ、照射X線量を少なくできる。更に本提案のX線光子センサーは安価で無害なシリコンを利用しており、製造時及び廃棄時の環境負荷が非常に少ない。X線の検出効率に依存する検出器材料の原子番号について、シリコンは14と高くはないが、PN接合フォトダイオードを溝状にするなど素子構造を工夫すれば検出効率を改善できる。本研究成果で鮮鋭なX線像を得られることも示された。また、他の検出器材料と比べてシリコンは移動度寿命積も優れ、高速にX線像を得ることができる。よって、被曝線量を従来よりも桁違いに抑制したうえに検査時間の短縮効果も期待できる。

報告書

(6件)
  • 2022 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2021 実施状況報告書
  • 2020 実施状況報告書
  • 2019 実施状況報告書
  • 2018 実施状況報告書
  • 研究成果

    (2件)

すべて 2022 2018

すべて 雑誌論文 (2件) (うち査読あり 2件、 オープンアクセス 2件)

  • [雑誌論文] Response Properties of Silicon Trench Photodiodes to Single α- and γ-Ray in Pulse Mode2022

    • 著者名/発表者名
      Ariyoshi Tetsuya
    • 雑誌名

      IEEE Access

      巻: 10 ページ: 56218-56231

    • DOI

      10.1109/access.2022.3177624

    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
    • 査読あり / オープンアクセス
  • [雑誌論文] Modulation transfer function analysis of silicon X-ray sensor with trench-structured photodiodes2018

    • 著者名/発表者名
      Tetsuya Ariyoshi, Jumpei Iwasa, Yuta Takane, Kenji Sakamoto, Akiyoshi Baba, and Yutaka Arima
    • 雑誌名

      IEICE Electronics Express

      巻: 15 号: 11 ページ: 20180177-20180177

    • DOI

      10.1587/elex.15.20180177

    • NAID

      130007395665

    • ISSN
      1349-2543
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
    • 査読あり / オープンアクセス

URL: 

公開日: 2018-04-23   更新日: 2024-01-30  

サービス概要 検索マニュアル よくある質問 お知らせ 利用規程 科研費による研究の帰属

Powered by NII kakenhi