研究課題
基盤研究(C)
太陽電池の寿命支配主要因は、インタコネクションの劣化である。Niマイクロメッキ接合（NMPB）は従来の半田接合を置き換えるもので格段に信頼性が優れている。NMPBをインターコネクション接合に適用し、太陽電池モジュールの長寿命化ならびに平均変換効率劣化抑制効果を評価した。最適化NMPB法を用いてモジュールを作成し信頼性加速試験を実施した。熱サイクル試験(-45～150℃、1000サイクル）、高温高湿試験(85℃、85％、1000時間）で、従来法は、出力低下がいずれにおいても、顕著であるのに対して、NMPB法ではほとんど見られなかった。大幅な長期信頼性向上、発電コスト低減の可能性が明らかとなった。
NMPBは広範囲に使用されている半田接続を置き換えることのできる高信頼接続技術であることが実証され、またその制御要因である微細組織との関連を明確にした。太陽電池モジュールの寿命は従来20年程度とされてきたが、40年使用できる可能性を示した。さらに使用中の配線抵抗劣化を抑制できることから、使用全期間における平均的な変換効率の大幅な改善につながり、結果として太陽電池による発電コストの低減を可能とするものであり、脱炭素社会実現に少なからず貢献できる技術といえる。
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Proceedings of IEEE 70th Electronic Components and Technology Conference (ECTC)
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第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会論文集
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