| 研究課題/領域番号 |
18K11222
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 審査区分 |
小区分60040:計算機システム関連
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| 研究機関 | 高知工科大学 |
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研究代表者 |
橘 昌良 高知工科大学, システム工学群, 教授 (50171715)
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| 研究期間 (年度) |
2018-04-01 – 2021-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2020年度)
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| 配分額 *注記 |
4,290千円 (直接経費: 3,300千円、間接経費: 990千円)
2020年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2019年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2018年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
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| キーワード | Built-In Self Test / Analog-Mixed Signal / カタストロフィック故障 / パラメータ故障 / デペンダブルコンピューティング / Impulse Response / 高信頼化システム |
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| 研究成果の概要 |
システムＬＳＩのアナログ回路部分の故障検出を製造工程からシステムの動作時までいつでも行うことの出来る機構の開発を主たる目的として研究を行った。本研究ではアナログ混載システムＬＳＩで多用される基準電源回路とΔΣ変調器をモチーフとし、回路のインパルス応答に基づいた回路素子の開放/短絡などのカタストロフィック故障を検出できる故障検出システムの開発を行い、回路シミュレーションと実チップによる試作/測定の結果、回路素子の開放/短絡については８６％から９５％の検出が出来ることを確認した。また、回路に付加回路を追加してカオス発振回路を構成することで、回路素子のパラメトリック故障を検出できる見込みが立った。
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
アナログ回路の故障検出のためのテスト方式の研究は古くから行われているが、これらの研究は特別なテストモードと大規模な即手系を使用してテストを行い、故障原因と故障箇所の特定に重点を置いた出荷時のテストを前提としたものが多い。
本研究による故障検出方式では、故障箇所、原因の特定にはこだわらず、システムの動作中に故障検出を行うことが出来るので、システム動作時のシステムの信頼性向上を図ることが出来る。
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