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フィールド運用中のアダプティブテストに基づくVLSIの予防安全

研究課題

研究課題/領域番号 18KT0014
研究種目

基盤研究(B)

配分区分基金
応募区分特設分野
研究分野 人工物システムの強化
研究機関九州工業大学

研究代表者

梶原 誠司  九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 教授 (80252592)

研究分担者 大竹 哲史  大分大学, 理工学部, 教授 (20314528)
三宅 庸資  九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 研究職員 (60793403)
研究期間 (年度) 2018-07-18 – 2023-03-31
研究課題ステータス 交付 (2021年度)
配分額 *注記
18,460千円 (直接経費: 14,200千円、間接経費: 4,260千円)
2020年度: 5,980千円 (直接経費: 4,600千円、間接経費: 1,380千円)
2019年度: 6,240千円 (直接経費: 4,800千円、間接経費: 1,440千円)
2018年度: 6,240千円 (直接経費: 4,800千円、間接経費: 1,440千円)
キーワードフィールド高信頼化 / VLSIテスト / データマイニング / 組込み自己テスト / 予防安全 / 組み込み自己テスト / VLSI
研究実績の概要

LSI の微細化技術の発展とともに LSI の劣化に起因する遅延増加及びシステム障害が懸念されている.これまでの研究で,フィールドで回路遅延を測定し,その結果に基づいた劣化の把握と遅延増加の予測モデル生成手法を開発してきた.一方で,故障を未然に防ぐには,誤動作を生じる時期の予測に基づき事前に警告することが望まれる.本研究では,遅延予測モデルとフィールドでの実際の回路遅延の差が生じる要因を考察し,その要因を考慮した回路寿命や故障発生の警告タイミングを決定する手法を提案する.また,劣化加速試験により得られた回路遅延の測定値を用いて提案手法の検証を行う.
本研究において,事前の回路シミュレーションやオンチップ遅延測定によって得られた回路遅延の実測値から,機械学習により生成する将来の回路遅延の予測モデルを用いる.この遅延予測モデルで計算される遅延値は,フィールドでの実際の回路遅延値から誤差がある.提案手法では,その誤差要因を(1) 予測手法の精度,(2) 環境変動による影響 (3) 使用データの誤差の3要因に分けて,それぞれ解析する.提案手法の検証のために,試作チップ2 枚分の劣化加速試験により得られた遅延測定の測定値を用いて,警告を行うタイミングを算出した.劣化加速時間は 168h,ストレス条件は2.4V(標準 1.2V),85℃(標準 60℃),ユーザーの猶予期間は 30日とした.その結果,警告タイミングは稼働から11686日後と算出され,環境変動による影響全体のマージンの約98%と大部分を占め, 使用データの誤差が2%程度であることが判明した.

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

3: やや遅れている

理由

これまでに、テスト履歴データの作成方法の確立、および、テスト履歴データ取得・活用方法の確立は終了し、九州工業大学で設計開発したチップの試作も終えて、劣化加速試験を含む各種データを取得すると同時に、テスト履歴解析に基づく劣化予測やアダプティブテスト履歴作成の開発を行った。劣化予測からシステムの予防安全につながる警告タイミングの算出手法も開発し、当初の開発目的を達しつつある。共同研究者の大分大学では、新型コロナウィルス感染症対策のための研究に遅れを十分に挽回できていない他、査読付き論文による学会発表にやや遅れがでている。

今後の研究の推進方策

これまでに開発した手法をさらに高精度化するよう改良していくことに加え、それらの成果をまとめて査読付き論文に投稿するなど、学会発表を積極的に推進することを計画している。

報告書

(4件)
  • 2021 実施状況報告書
  • 2020 実施状況報告書
  • 2019 実施状況報告書
  • 2018 実施状況報告書
  • 研究成果

    (29件)

すべて 2022 2021 2020 2019 2018 その他

すべて 国際共同研究 (1件) 雑誌論文 (10件) (うち国際共著 5件、 査読あり 10件) 学会発表 (16件) (うち国際学会 2件) 図書 (2件)

  • [国際共同研究] National Taiwan Univ. of Sci. and Tech.(その他の国・地域)

    • 関連する報告書
      2020 実施状況報告書
  • [雑誌論文] High Precision PLL Delay Matrix with Overclocking and Double Data Rate for Accurate FPGA Time-to-Digital Converter2020

    • 著者名/発表者名
      Poki Chen, Jian-Ting Lan, Ray-Ting Wang, Nguyen My Qui, Yousuke Miyake and Seiji Kajihara
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems

      巻: Volume: 28, Issue: 4 号: 4 ページ: 904-913

    • DOI

      10.1109/tvlsi.2019.2962606

    • 関連する報告書
      2020 実施状況報告書
    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] On-Chip Delay Measurement for Degradation Detection And Its Evaluation under Accelerated Life Test2020

    • 著者名/発表者名
      Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji KAJIHARA, Masao ASO, Haruji FUTAMI, Satoshi MATSUNAGA, Yukiya MIURA,
    • 雑誌名

      IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, On-line symposium

      巻: - ページ: 1-6

    • DOI

      10.1109/iolts50870.2020.9159717

    • NAID

      120007006773

    • 関連する報告書
      2020 実施状況報告書
    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] Path Delay Measurement with Correction for Temperature and Voltage Variations2020

    • 著者名/発表者名
      Yousuke Miyake,Takaaki Kato, Seiji KAJIHARA
    • 雑誌名

      IEEE International Test Conference in Asia

      巻: - ページ: 112-117

    • DOI

      10.1109/itc-asia51099.2020.00031

    • NAID

      120007006757

    • 関連する報告書
      2020 実施状況報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] On Evaluation for Aging-Tolerant Ring Oscillators with Accelerated Life Test And Its Application to A Digital Sensor2020

    • 著者名/発表者名
      Masayuki Gondo, Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji Kajihara
    • 雑誌名

      Proc. IEEE Asian Test Symposium

      巻: - ページ: 1-6

    • DOI

      10.1109/ats49688.2020.9301588

    • NAID

      120007006769

    • 関連する報告書
      2020 実施状況報告書
    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] A Selection Method of Ring Oscillators for An On-Chip Digital Temperature And Voltage Sensor2019

    • 著者名/発表者名
      Miyake Yousuke、Sato Yasuo、Kajihara Seiji
    • 雑誌名

      IEEE International Test Conference in Asia

      巻: - ページ: 13-18

    • DOI

      10.1109/itc-asia.2019.00016

    • NAID

      120006777000

    • 関連する報告書
      2019 実施状況報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] On-Chip Test Clock Validation Using A Time-to-Digital Converter in FPGAs2019

    • 著者名/発表者名
      Yousuke Miyake, Seiji Kajihara, Poki Chen
    • 雑誌名

      IEEE International Test Conference in Asia

      巻: - ページ: 57-162

    • DOI

      10.1109/itc-asia.2019.00040

    • NAID

      120006777001

    • 関連する報告書
      2019 実施状況報告書
    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] On-Chip Delay Measurement for In-Field Test of FPGAs2019

    • 著者名/発表者名
      Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara
    • 雑誌名

      IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing

      巻: - ページ: 130-137

    • DOI

      10.1109/itc-asia.2019.00026

    • NAID

      120007006775

    • 関連する報告書
      2019 実施状況報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Good die prediction modelling from limited test items2018

    • 著者名/発表者名
      98.Takeru Nishimi, Yasuo Sato, Seiji kajihara, Yoshiyuki Nakamura
    • 雑誌名

      Proc. IEEE International Test Conference in Asia.

      巻: - ページ: 115-120

    • DOI

      10.1109/itc-asia.2018.00030

    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] On Flip-Flop Selection for Multi-Cycle Scan Test with Partial Observation in Logic BIST2018

    • 著者名/発表者名
      100.Shigeyuki Oshima, Takaaki Kato, Senling Wang, Yasuo Sato, Seiji Kajihara
    • 雑誌名

      Proc. IEEE Asian Test Symposium

      巻: - ページ: 30-35

    • DOI

      10.1109/ats.2018.00017

    • NAID

      120006776996

    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Clock-Skew-Aware Scan Chain Grouping for Mitigating Shift Timing Failures in Low-Power Scan Testing2018

    • 著者名/発表者名
      99.Yucong Zhang, Xiaoqing Wen, Stefan Holst, Kohei Miyase, Seiji Kajihara, Hans-Joachim Wunderlich, Jun Qian
    • 雑誌名

      Proc. IEEE Asian Test Symposium

      巻: - ページ: 149-154

    • DOI

      10.1109/ats.2018.00037

    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
    • 査読あり / 国際共著
  • [学会発表] オンチップ遅延測定における製造バラツキを考慮した温度電圧影響の補正手法2022

    • 著者名/発表者名
      加藤隆明, 三宅庸資, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • 関連する報告書
      2021 実施状況報告書
  • [学会発表] 信号値遷移確率を用いた高消費電力エリア特定技術の計算処理評価に関する研究2022

    • 著者名/発表者名
      星野 龍, 宇都宮大喜, 宮瀬紘平, 温 暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • 関連する報告書
      2021 実施状況報告書
  • [学会発表] Evaluation of Power Consumption with Logic Simulation and Placement Information for At-Speed Testing2021

    • 著者名/発表者名
      Taiki Utsunomiya, Kohei Miyase, Ryu Hoshino, Shyue-Kung Lu, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
    • 学会等名
      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 関連する報告書
      2021 実施状況報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] メモリのサイズおよび形状に起因するロジック部の高消費電力エリア特定に関する研究2021

    • 著者名/発表者名
      高藤大輝, 星野 龍, 宮瀬紘平, 温 暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • 関連する報告書
      2020 実施状況報告書
  • [学会発表] 勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について2020

    • 著者名/発表者名
      森誠一郎, 権藤昌之, 三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • 関連する報告書
      2020 実施状況報告書
  • [学会発表] Innovative Test Practices in Asia2020

    • 著者名/発表者名
      T. Iwasaki, M. Aso, H. Futami, S. Matsunaga, Y. Miyake, T. Kato, S. Kajihara, Y. Miura, S. Lai, G. Hung, H.H. Chen, H. Kobayashi, K. Hatayama
    • 学会等名
      IEEE VLSI Test Symposium
    • 関連する報告書
      2020 実施状況報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究2020

    • 著者名/発表者名
      大庭 涼, 星野 竜, 宮瀬紘平, 温 暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • 関連する報告書
      2020 実施状況報告書
  • [学会発表] 機械学習を用いたデジタル温度電圧センサの精度向上手法の検討2020

    • 著者名/発表者名
      権藤昌之, 三宅庸資, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 関連する報告書
      2019 実施状況報告書
  • [学会発表] オンチップ遅延測定における温度電圧影響の補正手法について2020

    • 著者名/発表者名
      加藤 隆明, 三宅 庸資, 梶原 誠司
    • 学会等名
      第82回FTC研究会
    • 関連する報告書
      2019 実施状況報告書
  • [学会発表] 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測2019

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司, 麻生正雄, 二見治司, 松永恵士, 三浦幸也
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 関連する報告書
      2019 実施状況報告書
  • [学会発表] LSIのホットスポット分布の解析に関する研究2019

    • 著者名/発表者名
      河野雄大, 宮瀬紘平, 呂 學坤, 温 暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
  • [学会発表] 期待署名自己生成に基づく組込み自己診断機構2019

    • 著者名/発表者名
      平本悠翔郎, 大竹哲史, 高橋 寛
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
  • [学会発表] FPGAにおける自己補正可能なオンチップデジタル温度センサ2018

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資, 梶原誠司
    • 学会等名
      第17回情報科学技術フォーラム講演論文集(FIT2018)
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
  • [学会発表] FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定2018

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
  • [学会発表] 論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について2018

    • 著者名/発表者名
      加藤隆明, 王 森レイ, 佐藤康夫, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
  • [学会発表] FPGAにおける自己補正可能なオンチップデジタル温度センサ2018

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資, 梶原誠司
    • 学会等名
      第17回情報科学技術フォーラム
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書
  • [図書] はかる×わかる半導体 応用編2019

    • 著者名/発表者名
      浅田邦博(監修)
    • 総ページ数
      334
    • 出版者
      日経BPコンサルティング
    • ISBN
      4864431302
    • 関連する報告書
      2019 実施状況報告書
  • [図書] VLSI Design and Test for Systems Dependability2019

    • 著者名/発表者名
      Shojiro Asai(editor) ,et. al.
    • 総ページ数
      800
    • 出版者
      Springer Japan
    • ISBN
      9784431565925
    • 関連する報告書
      2018 実施状況報告書

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公開日: 2018-07-20   更新日: 2022-12-28  

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