| 研究課題/領域番号 |
19206006
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| 研究種目 |
基盤研究(A)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
長谷川 修司 東京大学, 大学院・理学系研究科, 教授 (00228446)
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| 研究分担者 |
平原 徹 東京大学, 大学院・理学系研究科, 助教 (30451818)
松田 巌 東京大学, 物性研究所, 准教授 (00343103)
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| 研究期間 (年度) |
2007 – 2009
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| 研究課題ステータス |
完了 (2009年度)
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| 配分額 *注記 |
48,490千円 (直接経費: 37,300千円、間接経費: 11,190千円)
2009年度: 9,360千円 (直接経費: 7,200千円、間接経費: 2,160千円)
2008年度: 9,360千円 (直接経費: 7,200千円、間接経費: 2,160千円)
2007年度: 29,770千円 (直接経費: 22,900千円、間接経費: 6,870千円)
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| キーワード | 表面磁気光学効果 / 希薄磁性表面 / 表面電気伝導 / 表面物性 / スピントロニクス / 近藤効果 / RKKY相互作用 / 低次元磁性 / 表面物件 / 近藤1効果 / 近藤I効果 |
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| 研究概要 |
(1)表面状態の磁性特性を測定するために,簡便で高性能な超高真空極低温表面光磁気カー効果測定装置を開発し,それによって,コバルト原子層の磁気特性が,基板構造に敏感に依存して変化することを発見した。(2)非磁性物質であるビスマスやその合金(トポロジカル絶縁体と呼ばれる物質)の表面状態が,スピン分裂していることをスピン分解光電子分光法および第1原理理論計算によって明らかにした。(3)スピン軌道相互作用の大きいビスマス薄膜での(逆)スピンホール効果を4探針STM(走査トンネル顕微鏡)装置による表面状態電気伝導測定によって直接的に検出した。
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