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次世代高精度ミラー製作のための傾斜角積分型超精密形状計測法の開発

研究課題

研究課題/領域番号 19206019
研究種目

基盤研究(A)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 生産工学・加工学
研究機関大阪大学

研究代表者

遠藤 勝義  大阪大学, 工学研究科, 教授 (90152008)

研究分担者 東 保男  大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 機械工学センター, 准教授 (70208742)
打越 純一  大阪大学, 工学研究科, 助教 (90273581)
久米 達哉  大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 機械工学センター, 助教 (40353362)
江並 和宏  大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 機械工学センター, 助教 (00370073)
連携研究者 久米 達哉  大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 機械工学センター, 助教 (40353362)
江並 和宏  大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 機械工学センター, 助教 (00370073)
研究期間 (年度) 2007 – 2010
研究課題ステータス 完了 (2010年度)
配分額 *注記
47,580千円 (直接経費: 36,600千円、間接経費: 10,980千円)
2010年度: 9,880千円 (直接経費: 7,600千円、間接経費: 2,280千円)
2009年度: 7,540千円 (直接経費: 5,800千円、間接経費: 1,740千円)
2008年度: 18,850千円 (直接経費: 14,500千円、間接経費: 4,350千円)
2007年度: 11,310千円 (直接経費: 8,700千円、間接経費: 2,610千円)
キーワード形状測定 / 高精度ミラー / 非球面光学素子 / 法線ベクトル / 5軸同時制御 / 形状誤差 / 絶対形状測定 / 超精密加工 / 形状計測 / スロープエラー / ロータリーエンコーダ / 高精度ゴニオメータ / 角度検出光学系 / 最小二乗法 / アルゴリズム / ロータリーエンコーダー
研究概要

第三世代放射光施設やX線自由電子レーザー、極紫外光リソグラフィーから求められる次世代高精度非球面ミラーを製作するために、高精度光学素子の非球面形状を、測定精度1nmPV以上、スロープエラー0.1μrad以下、測定時間5min/sample以下で測定できる傾斜角積分型超精密形状測定法を開発した。本装置によってR=400mmの球面ミラーの形状を計測し、繰返し精度が1nm以上であることを明らかにした。また、同じ球面ミラーを位相シフトファイゾー干渉計と三次元測定機で測定した結果、それぞれの誤差範囲10nm程度で測定形状が一致した。絶対形状測定の実現には、系統誤差を解明することが不可欠である。

報告書

(5件)
  • 2010 研究成果報告書 ( PDF )
  • 2009 実績報告書   自己評価報告書 ( PDF )
  • 2008 実績報告書
  • 2007 実績報告書
  • 研究成果

    (50件)

すべて 2010 2009 2008 2007 その他

すべて 雑誌論文 (3件) (うち査読あり 2件) 学会発表 (33件) 備考 (4件) 産業財産権 (10件)

  • [雑誌論文] A simultaneous multiwavelength dispersive X-ray reflectometer for time-resolved reflectometry2009

    • 著者名/発表者名
      T.Matsushita, E.Arakawa, Y.Niwa, Y.Inada, T.Hatano, T.Harada, Y.Higashi, K.Hirano, K.Sakurai, M.Ishii, M.Nomura
    • 雑誌名

      The European Physical Journal Special Topics VOL.167

      ページ: 113-119

    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [雑誌論文] A simultaneous multiwavelength dispersive X-ray reflectometer for time-resolved reflectometry2009

    • 著者名/発表者名
      T. Matsushita, E. Arakawa, Y. Niwa, Y. Inada, T. Hatano, T. Harada, Y. Higashi, K. Hirano, K. Sakurai, M. Ishii, M. Nomura
    • 雑誌名

      The European Physical Journal Special Topics VOL. 167

      ページ: 113-119

    • 関連する報告書
      2009 自己評価報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] A simultaneous multiwavelength dispersive X-ray reflectometer for timeresolved reflectometry2009

    • 著者名/発表者名
      T.Matsushita, E.Arakawa, Y.Niwa, Y.Inada, T.Hatano, T.Harada, Y.Hig ashi, K.Hirano, K.Sakurai, M.Ishii, M.Nomura
    • 雑誌名

      The European Physical Journal Special Topics VOL. 167

      ページ: 113-119

    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] Development of surface gradient integrated profiler-Precise coordinate determination of normal vector measured points by self-calibration method and new data analysis-2009

    • 著者名/発表者名
      T.Ueno, S.Tachibanada, Y.Higashi, J.Uchikoshi, K.Endo
    • 学会等名
      3rd International Conference of Asian Society for Precision Engineering and Nanotechnology
    • 発表場所
      Kitakyusyu, Japan
    • 年月日
      2009-11-11
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] Development of surface gradient integrated profiler-Precise coordinate determination of normal vector measured points by self-calibration method and new data analysis2009

    • 著者名/発表者名
      T.Ueno, S.Tachibanada, Y.Higashi, J.Uchikoshi, K.Endo
    • 学会等名
      3rd International Conference of Asian Society for Precision Engineering and Nanotechnology
    • 発表場所
      福岡県北九州市
    • 年月日
      2009-11-11
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] Time-Resolve X-ray Reflectom ettry in the Multiwavelength Dispersive Geometry2009

    • 著者名/発表者名
      Tadasgi.Matsushita, Etsuo Arakawa, Tetsuo Harada, Tadashi Hatano, Yasuo Higashi, York F.Yano, Yasuhiro Niwa, Yasuhiro Inada, Shusaku Nagano, Takahiro Seki
    • 学会等名
      SRI09
    • 発表場所
      Melbourne, Australia
    • 年月日
      2009-09-29
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] Time-Resolve X-ray Reflectomettry in the Multiwavelength Dispersive Geometry2009

    • 著者名/発表者名
      Tadasgi. Matsushita, Etsuo Arakawa, Tetsuo Harada, Tadashi Hatano, Yasuo Higashi, York F.Yano, Yasuhiro Niwa, Yasuhiro Inada, Shusaku Nagano, Takahiro Seki
    • 学会等名
      SRI09
    • 発表場所
      Melbourne, Australia
    • 年月日
      2009-09-29
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] 角度測定を利用した高精度形状計測2009

    • 著者名/発表者名
      東保男
    • 学会等名
      2009年度精密工学会秋季大会シンポジウム
    • 発表場所
      神戸市
    • 年月日
      2009-09-10
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] 超精密非球面形状計測法に関する研究-小型試料の高精度,高速計測装置の開発-2009

    • 著者名/発表者名
      上野智裕, 橘田繁樹, 打越純一, 遠藤勝義, 東保男
    • 学会等名
      2009年度精密工学会秋季大会学術講演会
    • 発表場所
      神戸市
    • 年月日
      2009-09-10
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] 超精密非球面形状計測法に関する研究-小型試料の高精度,高速計測装置の開発-2009

    • 著者名/発表者名
      上野智裕, 橘田繁樹, 打越純一, 遠藤勝義, 東保男
    • 学会等名
      2009年度精密工学会秋季大会学術講演会
    • 発表場所
      兵庫県神戸市
    • 年月日
      2009-09-10
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] 角度測定を利用した高精度形状計測2009

    • 著者名/発表者名
      東保男
    • 学会等名
      2009年度精密工学会秋季大会シンポジウム
    • 発表場所
      兵庫県神戸市
    • 年月日
      2009-09-10
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] 多層膜分光光学系を用いた多波長同時分散型X線反射率計-II2009

    • 著者名/発表者名
      松下正、荒川悦雄、羽多野忠、原田哲男、東保男、矢野陽子
    • 学会等名
      応用物理学会2009年度秋季大会
    • 発表場所
      富山市
    • 年月日
      2009-09-08
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] 多層膜分光光学系を用いた多波長同時分散型X線反射率計-II2009

    • 著者名/発表者名
      松下正、荒川悦雄、羽多野忠、原田哲男、東保男、矢野陽子
    • 学会等名
      応用物理学会2009年度秋季大会
    • 発表場所
      富山県富山市
    • 年月日
      2009-09-08
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] High-precision profile measurement of a small radius lens by surface gradient integrated profiler2009

    • 著者名/発表者名
      Y.Higashi, T.Kume, K.Enami, K.Endo, J.Uchikoshi, K.Nomura, T.Miyawaki, S.Tachibanada, T.Ueno
    • 学会等名
      SPIE Optics+Photonics 2009
    • 発表場所
      San Diego, USA
    • 年月日
      2009-08-02
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] High-precision prof ile measurement of a small radius lens by surface gradient integrated profiler2009

    • 著者名/発表者名
      Y. Higashi, T. Kume, K. Enami, K. Endo, J. Uchikoshi, K. Nomura, T. Miyawaki, S. Tac hibanada, T. Ueno
    • 学会等名
      SPIE Optics+Photonics 2009
    • 発表場所
      SanDiego, USA
    • 年月日
      2009-08-02
    • 関連する報告書
      2009 自己評価報告書
  • [学会発表] High-precision profile measurement of a small radius lens by surface gradient integrated profiler2009

    • 著者名/発表者名
      Y.Higashi, T.Kume, K.Enami, K.Endo, J.Uchikoshi, K.Nomura, T.Miyawaki, S.Tachibanada, T.Ueno
    • 学会等名
      SPIE Optics+Photonics 2009
    • 発表場所
      San Diego, California USA
    • 年月日
      2009-08-02
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] 超精密非球面形状計測法に関する研究-法線ベクトル測定値からの形状導出アルゴリズムの開発-2009

    • 著者名/発表者名
      上野智裕, 橘田繁樹, 打越純一, 遠藤勝義, 東保男
    • 学会等名
      精密工学会2009年度関西地方定期学術講演会
    • 発表場所
      豊中市
    • 年月日
      2009-05-13
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] 超精密非球面形状計測法に関する研究 -法線ベクトル測定値からの形状導出アルゴリズムの開発-2009

    • 著者名/発表者名
      上野智裕, 橘田繁樹, 打越純一, 遠藤勝義, 東保男
    • 学会等名
      精密工学会2009年度関西地方定期学術講演会
    • 発表場所
      大阪府豊中市
    • 年月日
      2009-05-13
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] 超精密非球面形状計測法に関する研究-法線ベクトル測定値からの形状導出アルゴリズムの開発-2009

    • 著者名/発表者名
      上野智裕, 橘田繁樹, 遠藤勝義, 東保男
    • 学会等名
      精密工学会2009年度精密工学会春季大会
    • 発表場所
      東京都
    • 年月日
      2009-03-11
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] 超精密非球面形状計測法に関する研究 -法線ベクトル測定値からの形状導出アルゴリズムの開発-2009

    • 著者名/発表者名
      上野智裕, 橘田繁樹, 遠藤勝義, 東保男
    • 学会等名
      精密工学会2009年度精密工学会春季大会
    • 発表場所
      東京都文京区
    • 年月日
      2009-03-11
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] Development of surface gradient integrated profiler-Precise coordinate determination of normal vector measured points by self-calibration method and new data analysis from normal vector tosurface profile-2009

    • 著者名/発表者名
      T.Ueno, S.Tachibanada, Y.Higashi, K.Endo
    • 学会等名
      First International Symposium on Atomically Controlled Fabrication Technology-Surface and Thin Film Processing-
    • 発表場所
      Suita
    • 年月日
      2009-02-16
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] Development of surface gradient integrated profiler -Precise coordinate determination of normal vector measured points by self-calibration method and new data analysis from normal vector to surface profile-2009

    • 著者名/発表者名
      T. Ueno, S. Tachibanada, Y. Higashi, K. Endo
    • 学会等名
      First International Symposium on Atomically Controlled Fabrication Technology -Surface and Thin Film Processing-
    • 発表場所
      大阪府吹田市
    • 年月日
      2009-02-16
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] 傾斜角積分法による超精密形状計測法,-自立較正法による法線ベクトル測定点の座標位置の高精度化-2008

    • 著者名/発表者名
      上野智裕, 遠藤勝義, 東保男
    • 学会等名
      2008年度精密工学会秋季大会学術講演会
    • 発表場所
      仙台市
    • 年月日
      2008-09-19
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] 傾斜角積分法による超精密形状計測法 -自立較正法による法線ベクトル測定点の座標位置の高精度化-2008

    • 著者名/発表者名
      上野智裕, 遠藤勝義, 東保男
    • 学会等名
      2008年度精密工学会秋季大会学術講演会
    • 発表場所
      宮城県仙台市
    • 年月日
      2008-09-19
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] Development of asurface gradient integrated profiler : precise coordinate determination of normal vector measured points by self-calibration method and new data analysis fromnormal vector to surface profile2008

    • 著者名/発表者名
      Y.Higashi, T.Ueno, K.Endo, J.Uchikoshi, T.Kume, K.Enami
    • 学会等名
      SPIE Optics+Photonics 2008
    • 発表場所
      San Diego, USA
    • 年月日
      2008-08-11
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] Development of a surface gradient integrated profiler : precise coordinate determination of normal vector measured points by self-calibration method and new data analysis from normal vector to surface profile2008

    • 著者名/発表者名
      Y. Higashi, K. Endo, et al.
    • 学会等名
      SPIE Optics+Photonics 2008
    • 発表場所
      San Diego, USA
    • 年月日
      2008-08-11
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] Development of a s urface gradient integrated profiler : precise coordinate determination of norm al vector measured points by self-cali bration method and new data analysis from normal vector to surface profile2008

    • 著者名/発表者名
      Y. Higashi, T. Ueno, K. Endo, J. Uchikosh i, T. Kume, K. Enami
    • 学会等名
      SPIE Optics+Photonics 2008
    • 発表場所
      SanDiego, USA
    • 年月日
      2008-08-01
    • 関連する報告書
      2009 自己評価報告書
  • [学会発表] 超精密非球面形状計測法に関する研究,-法線ベクトル測定値からの形状導出アルゴリズムの開発-2008

    • 著者名/発表者名
      上野智裕, 遠藤勝義, 東保男
    • 発表場所
      堺市
    • 年月日
      2008-07-30
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] 超精密非球面形状計測法に関する研究 -法線ベクトル測定値からの形状導出アルゴリズムの開発-2008

    • 著者名/発表者名
      上野智裕, 遠藤勝義, 東保男
    • 学会等名
      精密工学会2008年度関西地方定期学術講演会
    • 発表場所
      大阪府堺市
    • 年月日
      2008-07-30
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] 傾斜角積分法による超精密形状測定装置の研究-自立校正法による法線ベクトル測定点の座標位置の高精度化-2008

    • 著者名/発表者名
      東保男、遠藤勝義、打越純一, 他
    • 学会等名
      2008年度精密工学会春季大会学術講演会
    • 発表場所
      川崎市
    • 年月日
      2008-03-18
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] 傾斜角積分法による超精密形状測定装置の研究-自立校正法による法線ベクトル測定点の座標位置の高精度化-2008

    • 著者名/発表者名
      東保男、遠藤勝義、打越純一、他
    • 学会等名
      2008年度精密工学会春季大会学術講演会
    • 発表場所
      神奈川県川崎市
    • 年月日
      2008-03-18
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] 傾斜角積分法による超精密形状測定法-焦点距離150mmの軸外し放物面での測定点座標の決定-2007

    • 著者名/発表者名
      東保男、遠藤勝義、打越純一, 他
    • 学会等名
      2007年度精密工学会秋季大会学術講演会
    • 発表場所
      旭川市
    • 年月日
      2007-09-13
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] 傾斜角積分法による超精密形状測定法-焦点距離150mmの軸外し放物面での測定点座標の決定-2007

    • 著者名/発表者名
      東保男、遠藤勝義、打越純一、他
    • 学会等名
      2007年度精密工学会秋季大会学術講演会
    • 発表場所
      北海道旭川市
    • 年月日
      2007-09-13
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] Surface Gradient Integrated Profiler for X-ray and EUV Optics2007

    • 著者名/発表者名
      Y.Higashi, K.Endo, T.Kume, J.Uchikoshi, K.Ueno, Y.Mori
    • 学会等名
      SPIE Annual Meeting
    • 発表場所
      San Diego, USA
    • 年月日
      2007-08-30
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] Surface Gradient Integrated Profiler for X-ray and EUV Optics2007

    • 著者名/発表者名
      Y. Higashi, K. Endo, T. Kume, J. Uchikosh i, K. Ueno, Y. Mori
    • 学会等名
      SPIE Annual Meeting
    • 発表場所
      SanDiego, USA
    • 年月日
      2007-08-30
    • 関連する報告書
      2009 自己評価報告書
  • [学会発表] Surface Gradient Integrated Profiler for X-ray and EUV Optics2007

    • 著者名/発表者名
      Y. Higashi, K. Endo, et. al.
    • 学会等名
      SPIE Annual Meeting
    • 発表場所
      San Diego, UAS
    • 年月日
      2007-08-30
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [備考]

    • URL

      http://www.upst.eng.osaka-u.ac.jp/21coe/atom/measure.html

    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [備考]

    • URL

      http://www.upst.eng.osaka-u.ac.jp/2lcoe/atom/measure.html

    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [備考]

    • URL

      http://www.upst.eng.osaka-u.ac.jp/21coe/atom/measure.html

    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [備考]

    • URL

      http://www.upst.eng.osaka-u.ac.jp/21coe/atom/measure.html

    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [産業財産権] 法線ベクトル追跡型超精密形状測定方法2010

    • 発明者名
      遠藤勝義、打越純一、東保男
    • 権利者名
      大阪大学、大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構
    • 産業財産権番号
      2010-182197
    • 出願年月日
      2010-08-17
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [産業財産権] 回転対称形状の超精密形状測定法及びその装置2009

    • 発明者名
      遠藤勝義
    • 権利者名
      大阪大学
    • 産業財産権番号
      2009-180408
    • 出願年月日
      2009-08-03
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [産業財産権] 回転対称形状の超精密形状測定方法及びその装置2009

    • 発明者名
      遠藤勝義、東保男
    • 権利者名
      大阪大学、大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構
    • 産業財産権番号
      2009-180408
    • 出願年月日
      2009-08-03
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [産業財産権] 光路長の自律校正を用いた法線ベクトル追跡型超精密形状測定方法2008

    • 発明者名
      遠藤勝義、東保男
    • 権利者名
      大阪大学、大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構
    • 産業財産権番号
      2008-203494
    • 出願年月日
      2008-08-06
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [産業財産権] 法線ベクトル追跡型超精密形状測定装置における駆動軸制御方法2008

    • 発明者名
      遠藤勝義、東保男
    • 権利者名
      大阪大学、大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構
    • 産業財産権番号
      2008-203495
    • 出願年月日
      2008-08-06
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [産業財産権] 超精密形状測定方法2008

    • 発明者名
      遠藤勝義、稲垣耕司
    • 権利者名
      大阪大学
    • 産業財産権番号
      2008-169911
    • 出願年月日
      2008-06-01
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [産業財産権] 法線ベクトル追跡型超精密形状測定装置における駆動軸制御方法2008

    • 発明者名
      遠藤勝義, 東保男
    • 権利者名
      大阪大学, 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構
    • 出願年月日
      2008-08-06
    • 関連する報告書
      2009 自己評価報告書
  • [産業財産権] 超精密形状測定方法2008

    • 発明者名
      遠藤勝義, 稲垣耕司
    • 権利者名
      大阪大学
    • 出願年月日
      2008-06-01
    • 関連する報告書
      2009 自己評価報告書
  • [産業財産権] 光路長の自律校正を用いた法線ベクトル追跡型超精密形状測定方法2008

    • 発明者名
      遠藤勝義, 東保男
    • 権利者名
      大阪大学, 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構
    • 産業財産権番号
      2008-203494
    • 取得年月日
      2008-08-06
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [産業財産権] 法線ベクトル追跡型超精密形状測定装置における駆動軸制御方法2008

    • 発明者名
      遠藤勝義, 東保男
    • 権利者名
      大阪大学, 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構
    • 産業財産権番号
      2008-203495
    • 取得年月日
      2008-08-06
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書

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公開日: 2007-04-01   更新日: 2016-04-21  

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