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ばらつきや欠陥を克服する集積回路ハードウェア設計技術

研究課題

研究課題/領域番号 19300010
研究種目

基盤研究(B)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 計算機システム・ネットワーク
研究機関京都大学

研究代表者

小野寺 秀俊  京都大学, 情報学研究科, 教授 (80160927)

研究分担者 小林 和淑  京都工芸繊維大学, 工芸科学研究科, 教授 (70252476)
土谷 亮  京都大学, 情報学研究科, 助教 (20432411)
研究期間 (年度) 2007 – 2009
研究課題ステータス 完了 (2009年度)
配分額 *注記
19,110千円 (直接経費: 14,700千円、間接経費: 4,410千円)
2009年度: 3,900千円 (直接経費: 3,000千円、間接経費: 900千円)
2008年度: 4,940千円 (直接経費: 3,800千円、間接経費: 1,140千円)
2007年度: 10,270千円 (直接経費: 7,900千円、間接経費: 2,370千円)
キーワード製造ばらつき / 製造容易化設計 / 高信頼化 / ディペンダブルVLSI / 低消費電力化 / 歩留まり / 経年劣化 / NBTI / ばらつき考慮設計 / DFM / DFY / 統計的遅延解析 / スタンダードセル / 集積回路 / ばらつき / 製造容易性
研究概要

製造容易性を向上させるとともにばらつきに強靭な構造を持つ論理回路の構造法と、ばらつきや欠陥の影響を救済する方法について検討した。ばらつき耐性と製造性を強化する方法としてレイアウトパターンの単純化と規則性向上に着目し、その定量的効果をシミュレーションと実測により明らかにした。フリップフロップがチップ内ばらつきに脆弱である事を解明し、ばらつきに強靭なフリップフロップを開発した。ばらつき量を測定するオンチップモニタ回路を開発した。

報告書

(4件)
  • 2009 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2008 実績報告書
  • 2007 実績報告書
  • 研究成果

    (15件)

すべて 2010 2009 2008 2007

すべて 雑誌論文 (6件) (うち査読あり 6件) 学会発表 (9件)

  • [雑誌論文] Effect of Regularity-Enhanced Layout on Variability and Circuit Performance of Standard Cells2010

    • 著者名/発表者名
      Hiroki Sunagawa, Haruhiko Terada, Akira Tsuchiya, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
    • 雑誌名

      IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology vol.3

      ページ: 130-139

    • NAID

      130000251502

    • 関連する報告書
      2009 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Effect of Regularity-Enhanced Layout on Variability and Circuit Performance of Standard Cells2010

    • 著者名/発表者名
      H.Sunagawa, H.Terada, A.Tsuchiya, K.Kobayashi, H.Onodera
    • 雑誌名

      IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology Vol. 3

      ページ: 130-139

    • NAID

      130000251502

    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Statistical Gate Delay Model for Multiple Input Switching2009

    • 著者名/発表者名
      Takayuki Fukuoka, Akira Tsuchiya, Hidetoshi Onodera
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals vol.E92-A,no.12

      ページ: 3070-3078

    • NAID

      10026861436

    • 関連する報告書
      2009 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Statistical Gate Delay Model for Multiple Input Switching2009

    • 著者名/発表者名
      Takayuki Fukuoka, Akira Tsuchiya, Hidetoshi Onodera
    • 雑誌名

      IEICE Transact-ions on Fundamentals E92-A

      ページ: 3070-3078

    • NAID

      10026861436

    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Accurate Estimation of the Worst-case Delay in Statistical Static Timing Analysis2008

    • 著者名/発表者名
      Haruhiko Terada, Takayuki Fukuoka, Akira Tsuchiya, Hidetoshi Onodera
    • 雑誌名

      IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology 1

      ページ: 116-125

    • NAID

      130002073186

    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Manufacturability-Aware Design of Standard Cells2008

    • 著者名/発表者名
      Hirokazu Muta, Hidetoshi Onodera
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Electronics E90-A

      ページ: 2682-2690

    • NAID

      110007538012

    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] Process-sensitive Monitor Circuits for Estimation of Die-to-Die Process Variability2010

    • 著者名/発表者名
      A.K.M. Mahfuzul Islam, Akira Tsuchiya, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      TAU Workshop 2010
    • 発表場所
      San Francisco
    • 年月日
      2010-03-18
    • 関連する報告書
      2009 研究成果報告書
  • [学会発表] Characterization of WID Delay Variability Using RO-array Test Structures2009

    • 著者名/発表者名
      Hidetoshi Onodera, Haruhiko Terada
    • 学会等名
      Proceedings 2009 8th IEEE International Conference on ASIC
    • 発表場所
      Changsha
    • 年月日
      2009-10-21
    • 関連する報告書
      2009 研究成果報告書
  • [学会発表] Characterization of WID Delay Variability Using RO-array Test Structures2009

    • 著者名/発表者名
      Hidetoshi Onodera, Haruhiko Terada
    • 学会等名
      2009 8th IEEE International Conference on ASIC
    • 発表場所
      Changsha, China
    • 年月日
      2009-10-19
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] Variability Modeling and Impact on Design2008

    • 著者名/発表者名
      Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      2008 International Electron Devices Meeting
    • 発表場所
      サンフランシスコ
    • 年月日
      2008-12-17
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] Statistical Gate Delay Model for Multiple Input Switching2008

    • 著者名/発表者名
      Takayuki Fukuoka, Akira Tsuchiya, Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      The 13th Asia and South Pacific Design Automation Conference
    • 発表場所
      Seoul, Korea
    • 年月日
      2008-01-23
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] Regularity-Enhanced Layout of Standard Cells2007

    • 著者名/発表者名
      Hidetoshi Onodera, Hiroaki Muta
    • 学会等名
      2nd IEEE International Workshop on Design for Manufacturability and Yield
    • 発表場所
      Santa Clara, CA
    • 年月日
      2007-10-25
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] 統計的遅延解析における遅延分布間の最大値計算手法2007

    • 著者名/発表者名
      寺田 晴彦, 福岡 孝之, 土谷 亮, 小野寺 秀俊
    • 学会等名
      DAシンポジウム2007
    • 発表場所
      浜松
    • 年月日
      2007-08-29
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] 同時スイッチングの影響を考慮した統計的遅延解析2007

    • 著者名/発表者名
      福岡 孝之, 土谷 亮, 小野寺 秀俊
    • 学会等名
      DAシンポジウム2007
    • 発表場所
      浜松
    • 年月日
      2007-08-29
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] Toward Variability-Aware Design2007

    • 著者名/発表者名
      Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      2007 Symposium on VLSI Technology
    • 発表場所
      Kyoto, Japan
    • 年月日
      2007-06-13
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書

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公開日: 2007-04-01   更新日: 2016-04-21  

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