| 研究課題/領域番号 |
19310065
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
ナノ構造科学
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
長谷川 幸雄 東京大学, 物性研究所, 准教授 (80252493)
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| 連携研究者 |
江口 豊明 東京大学, 物性研究所, 助教 (70308196)
浜田 雅之 東京大学, 物性研究所, 技術職員 (00396920)
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| 研究協力者 |
安 東秀 東京大学, 物性研究所, ISSPリサーチフェロー
西尾 隆宏 日本学術振興会, 特別研究員
山崎 詩郎 東京大学, 物性研究所, 特任研究員
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| 研究期間 (年度) |
2007 – 2008
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| 研究課題ステータス |
完了 (2008年度)
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| 配分額 *注記 |
19,500千円 (直接経費: 15,000千円、間接経費: 4,500千円)
2008年度: 7,410千円 (直接経費: 5,700千円、間接経費: 1,710千円)
2007年度: 12,090千円 (直接経費: 9,300千円、間接経費: 2,790千円)
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| キーワード | 走査トンネル顕微鏡 / 表面・界面 / 静電ポテンシャル分布 / 走査プローブ顕微鏡 / 表面・界面物性 / 原子間力顕微鏡 / 一次元電子系 / 水晶振動子 |
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| 研究概要 |
走査プローブ顕微鏡におけるポテンシャル測定技術を精密化することによって、二次元電子系の存在する表面での遮蔽されたポテンシャルやフリーデル振動を観察することに成功した。また、ナノサイズ超伝導体における渦糸の実空間観察やその振る舞いのサイズ依存性について測定し、渦糸侵入の臨界磁場を数十ナノメートルの個々の超伝導体に対して測定することに成功し、さらに渦糸侵入に対する最少のサイズが存在することも見出している。
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