| 研究課題/領域番号 |
19350055
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
高分子化学
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| 研究機関 | 富山大学 |
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研究代表者 |
北野 博巳 富山大学, 大学院・理工学研究部(工学), 教授 (40115829)
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| 研究分担者 |
源明 誠 富山大学, 大学院・理工学研究部(工学), 助教 (70334711)
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| 研究期間 (年度) |
2007 – 2008
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| 研究課題ステータス |
完了 (2008年度)
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| 配分額 *注記 |
18,980千円 (直接経費: 14,600千円、間接経費: 4,380千円)
2008年度: 2,990千円 (直接経費: 2,300千円、間接経費: 690千円)
2007年度: 15,990千円 (直接経費: 12,300千円、間接経費: 3,690千円)
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| キーワード | 水 / 高分子膜 / 振動分光 / 磁場 / 赤外光 / 変調 / 赤外分光法 / Raman分光法 / 高分子ブラシ / 水素結合ネットワーク / 分子認識 / 局在表面プラズモン共鳴法 / 低温再結晶化 |
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| 研究概要 |
高分子超薄膜-液界面のナノスケールでの水和状態に関する情報を、膜表面の微細構造、化学組成、さらには表面電位に関する情報と共にin situで捉えることを目的として、原子間力顕微鏡装置 (AFM) と掃引型核磁気共鳴装置を組み合わせた磁場変調型原子間力顕微鏡表面測定装置 (MFM-AFM) を試作した。さらに、特定官能基に水和した水のスペクトルの実験的な帰属の可能性に関する検討を行った。また、高分子ブラシや自己組織化単分子膜の機能と構造との相関についての検討や、高分子薄膜への収着水の構造解析も併せて行った。
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