局所的フォーススペクトル法による単原子物性計測手法の確立

• 研究課題/領域番号: 19360017
• 研究種目: 基盤研究(B)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 薄膜・表面界面物性
• 研究機関: 大阪大学
• 研究代表者: 阿部 真之 大阪大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (00362666)
• 研究期間 (年度): 2007 – 2008
• 研究課題ステータス: 完了 (2008年度)
• 配分額: 18,720千円 (直接経費: 14,400千円、間接経費: 4,320千円); 2008年度: 5,070千円 (直接経費: 3,900千円、間接経費: 1,170千円); 2007年度: 13,650千円 (直接経費: 10,500千円、間接経費: 3,150千円)
• キーワード: 原子間力顕微鏡 / フォーススペクトロスコピー / 交換型原子操作 / フォースマッピング / 原子識別 / 国際研究者交流

研究概要

超高真空・室温で動作する周波数変調方式原子間力顕微鏡(FM-AFM)を用い、AFM探針先端の原子1つと、測定試料表面の所定の原子1つの間に働く原子間力の距離依存性を測定するフォーススペクトロスコピーの手法を確立した。この手法を用いて、フォーススペクトロスコピーによる原子識別、フォースマッピングによる原子識別、原子識別画像化測定手法、原子ペンによる原子レベル構造物の作成とフォーススペクトロスコピーへの応用、フォースマッピングによるFM-AFMの画像化機構の解明を行えるようになった。

研究成果

• [雑誌論文] Simultaneousatomic imaging of atomic forcemicroscopy and scanning tunnelingmicroscopy using metal coatedcantilevers (2009)
  • 著者名/発表者名: D. Sawada, Y. Sugimoto, T. Namikawa,M. Abe, and S. Morita
  • 雑誌名: Material Transactions Vol.50 No.5 ページ: 940-942
• [雑誌論文] Mapping and imaging forrapid atom discrimination: A study offrequency modulation atomic forcemicroscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, T. Namikawa, M. Abe, andS. Morita
  • 雑誌名: Applied Physics Letters Vol.94
• [雑誌論文] Mapping and imaging for rapid atom discrimination : A study of frequency modulation atomic force microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Yoshiaki Sugimoto
  • 雑誌名: Applied Physics Letters Vol. 94
  • 査読あり
• [雑誌論文] “原子ペン", 室温で (2009)
  • 著者名/発表者名: 阿部真之
  • 雑誌名: CERAMICS JAPAN Vol. 44 ページ: 126-126
  • 査読あり
• [雑誌論文] Complex Patterning byVertical Interchange AtomManipulation Using Atomic ForceMicroscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, P. Pou, O. Custance, P.Jelinek, M. Abe, R. Perez, and S.Morita
  • 雑誌名: Science vol.322 ページ: 413-413
• [雑誌論文] Statistics of lateral atommanipulation by atomic forcemicroscopy at room temperature (2008)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, K. Miki, M. Abe, and S.Morita
  • 雑誌名: Physical Review B vol.78 ページ: 205305-205305
• [雑誌論文] High-spatial resolutiontopographic imaging and dimerdistance analysis of Si(100)-(2x1)using noncontact atomic forcemicroscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: D. Sawada, T. Namikawa, M. Hiragaki,Y. Sugimoto, M. Abe, and S. Morita
  • 雑誌名: Japanese Journal ofApplied Physics vol.47 ページ: 6085-6085
• [雑誌論文] Vertical andlateral force mapping on theSi(111)-(7x7) surface by dynamicforce microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, T. Namikawa, K. Miki, M.Abe, and S. Morita
  • 雑誌名: Physical Review B vol.77 ページ: 195424-195424
• [雑誌論文] フォースカーブによる元素識別とフォース・マッピン (2008)
  • 著者名/発表者名: 森田清三、杉本宜昭、大藪範昭、Oscar Custance、阿部真之
  • 雑誌名: 表面科学 Vol.29,No.4 ページ: 214-220
• [雑誌論文] Atom-by-AtomChemical Coordination Effect Observedin Noncontact AFM Topography of Pb/Si(111)-( √3× √3) Mosaic Phase (2008)
  • 著者名/発表者名: A. Ohiso, M. Hiragaki, K. Mizuta, M.Abe, and S. Morita
  • 雑誌名: e-Journal of Surface Scienceand Nanotechnology vol.6 ページ: 79-83
• [雑誌論文] Complex Patterning by Vertical Interchange Atom Manipulation Using Atomic Force Microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: Yoshiaki Sugimoto
  • 雑誌名: Science Vol. 322 ページ: 413-417
  • 査読あり
• [雑誌論文] Statistics of lateral atom manipulation by atomic force microscopy at room temperature (2008)
  • 著者名/発表者名: Yoshiaki Sugimoto
  • 雑誌名: Physical Review B Vol. 78
  • 査読あり
• [雑誌論文] Vertical and lateral force mapping on the Si(111)-(7×7) surface by dynamic force microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: Yoshiaki Sugimoto
  • 雑誌名: Physical Review B Vol. 77
  • 査読あり
• [雑誌論文] High Spatial Resolution Topographic Imaging and Dimer Distance Analysis of Si(100)-(2×1) Using Non-contact Atomic Force Microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: Daisuke Sawada
  • 雑誌名: Japanese Journal of Applied Physics Vol. 47 ページ: 6085-6087
  • 査読あり
• [雑誌論文] Solution Growth of Rubrene Single Crystals Using Various Organic Solvents (2008)
  • 著者名/発表者名: Takeshi Matsukawa
  • 雑誌名: Japanese Journal of Applied Physics Vol. 47 ページ: 8950-8954
  • 査読あり
• [雑誌論文] フォースカーブによる元素識別とフォース・マツピング (2008)
  • 著者名/発表者名: 森田清三
  • 雑誌名: 表面科学 Vol. 29 ページ: 214-220
  • 査読あり
• [雑誌論文] Chemical Coordination Effect Observed in Non-Contact AFM Topography of Pb/Si(111)-(√3×√3)Mosaic Phase (2008)
  • 著者名/発表者名: Akihiro Ohiso
  • 雑誌名: e-Journal of Surface Science and Nanotechnology Vol.6 ページ: 79-83
  • 査読あり
• [雑誌論文] 原子間力顕微鏡-超高分解能イメージングから原子操作,原子識別のツール- (2008)
  • 著者名/発表者名: 阿部 真之
  • 雑誌名: 未来材料 8 ページ: 6-9
  • 査読あり
• [雑誌論文] Efficiency enhancement in organic photovoltanic cell with interpenetrating conducting polymer/C_<60> heterojunction structure by sabstrate-heating treatment (2008)
  • 著者名/発表者名: V. Kittichungchit
  • 雑誌名: Japanese Journal of Applied Physics 47 ページ: 1094-1097
  • 査読あり
• [雑誌論文] Growth dynamics ofinsulating SrF2 films on Si(111) (2007)
  • 著者名/発表者名: Y. Seino, S. Yoshikawa, M. Abe, and S.Morita
  • 雑誌名: J.Phys. : Condens. Matter 19 ページ: 445001-445001
• [雑誌論文] Dynamicforce spectroscopy using cantileverhigher flexural modes (2007)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, S. Innami, M. Abe, O.Custancee, and S. Morita
  • 雑誌名: AppliedPhysics Letters 91 ページ: 93120-93120
• [雑誌論文] Tip-induced LocalReconstruction on the Pb/Ge(111)Surface Using Frequency ModulationAtomic Force Microscopy (2007)
  • 著者名/発表者名: A. Ohiso, Y. Sugimoto, M. Abe, and S.Morita
  • 雑誌名: Japanese Journal of Applied Physics Vol.46,No.8B ページ: 5582-5585
• [雑誌論文] Drift-compensated data acquisition performed at room temperature with frequency modulation atomic forcemicroscopy (2007)
  • 著者名/発表者名: M. Abe, Y. Sugimoto, T. Namikawa, K.Morita, N. Oyabu, and S. Morita
  • 雑誌名: Applied Physics Letters 90 ページ: 203103-203103
• [雑誌論文] Mechanism for Room-Temperature Single-Atom Lateral Manipulations on Semiconductors using Dynamic Force Microscopy (2007)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, P. Jelinek, P. Pou, M. Abe,S. Morita, R. Perez, and O. Custance
  • 雑誌名: Phys. Rev. Lett 98 ページ: 106104-106104
• [雑誌論文] Growth dynamics of insulating SrF_2 films on Si(111) (2007)
  • 著者名/発表者名: Yoshihide Seino
  • 雑誌名: J. Phys.: Condensed Matter Vol.19
  • 査読あり
• [雑誌論文] Tip-induced Local Reconstruction on the Pb/Ge(111)Surface Using Frequency Modulation Atomic Force Microscopy (2007)
  • 著者名/発表者名: Akihiro Ohiso
  • 雑誌名: Japanese Journal of Applied Physics Vol.46 ページ: 5582-5585
  • 査読あり
• [雑誌論文] Dynamic force spectroscopy using cantilever higher flexural modes (2007)
  • 著者名/発表者名: Yoshiaki Sugimoto
  • 雑誌名: Applied Physics Letters Vol.91
  • 査読あり
• [雑誌論文] Drift-compensated data acquisition performed at room temperature with frequency modulation atomic force microscopy (2007)
  • 著者名/発表者名: Masayuki Abe
  • 雑誌名: Applied Physics Letters Vol.90
  • 査読あり
• [雑誌論文] ナノ計測・加工・評価技術と原子間力顕微鏡 (2007)
  • 著者名/発表者名: 森田清三
  • 雑誌名: 東レリサーチセンターThe TRC NEWS No.102 ページ: 1-13
  • 査読あり
• [雑誌論文] AFMによる個々の原子の元素同定 (2007)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭
  • 雑誌名: 固体物理 第42巻 ページ: 775-783
  • 査読あり
• [雑誌論文] 原子分解能を有する原子間力顕微鏡法の新展開-原子種識別や原子操作を行うための新技術- (2007)
  • 著者名/発表者名: 阿部真之
  • 雑誌名: 日本物理学会誌 Vol.62 ページ: 829-837
  • NAID: 110006440249
  • 査読あり
• [雑誌論文] 原子の指紋-原子間力顕微鏡による元素識別- (2007)
  • 著者名/発表者名: 阿部真之
  • 雑誌名: 現代化学 No.440 ページ: 22-26
  • NAID: 40015674117
  • 査読あり
• [雑誌論文] AFMによる原子操作と複素ナノ構造体組立 (2007)
  • 著者名/発表者名: 森田清三
  • 雑誌名: 顕微鏡 第42巻 ページ: 100-105
  • 査読あり
• [学会発表] Development of Atomic Force Microscopy Using Quartz Tuning Fork Operated in Ultra High Vacuum (2009)
  • 著者名/発表者名: Takashi TERADO
  • 学会等名: 3rd International Symposium on Atomic Technology (ISAT-3) 3rd Polyscale Technology Workshop (PTW-3)
  • 発表場所: Tokyo International Exchange Center, Tokyo, Japan
  • 年月日: 2009-03-05
• [学会発表] Optical Interferometer for Detection and Excitation of Cantilever Motion : A Study of Atomic Force Microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Arushi SATO
  • 学会等名: 3rd International Symposium on Atomic Technology (ISAT-3) 3rd Polyscale Technology Workshop (PTW-3)
  • 発表場所: Tokyo International Exchange Center, Tokyo, Japan
  • 年月日: 2009-03-05
• [学会発表] Sensitivity improvement of interferometer for NC-AFM (2009)
  • 著者名/発表者名: Kenichi INA
  • 学会等名: 3rd International Symposium on Atomic Technology (ISAT-3) 3rd Polyscale Technology Workshop (PTW-3)
  • 発表場所: Tokyo International Exchange Center, Tokyo, Japan
  • 年月日: 2009-03-05
• [学会発表] Investigation of excitation method for quartz tuning fork atomic force microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Yuki SASAGAWA
  • 学会等名: 3rd International Symposium on Atomic Technology (ISAT-3) 3rd Polyscale Technology Workshop (PTW-3)
  • 発表場所: Tokyo International Exchange Center, Tokyo, Japan
  • 年月日: 2009-03-05
• [学会発表] Observation of the metal oxide surface by scanning probe microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Hideki TANAKA
  • 学会等名: 3rd International Symposium on Atomic Technology (ISAT-3) 3rd Polyscale Technology Workshop (PTW-3)
  • 発表場所: Tokyo International Exchange Center, Tokyo, Japan
  • 年月日: 2009-03-05
• [学会発表] High Resolution Imaging of TiO_2 (110)-(1x1) Using Non-Contact AFM at Low Temperature (2009)
  • 著者名/発表者名: Abdi PRATAMA
  • 学会等名: 3rd International Symposium on Atomic Technology (ISAT-3)3rd Polyscale Technology Workshop (PTW-3)
  • 発表場所: Tokyo International Exchange Center, Tokyo, Japan
  • 年月日: 2009-03-05
• [学会発表] High-resolution imaging of CaF_2/Si (111) surface using atomic resolution NC-AFM (2009)
  • 著者名/発表者名: Makoto TAKEDA
  • 学会等名: 3rd International Symposium on Atomic Technology (ISAT-3) 3rd Polyscale Technology Workshop (PTW-3)
  • 発表場所: Tokyo International Exchange Center, Tokyo, Japan
  • 年月日: 2009-03-05
• [学会発表] Statistics of lateral atom manipulation by atomic force microscopy at room temperature (2009)
  • 著者名/発表者名: Yuki NAKAJIMA
  • 学会等名: 3rd International Symposium on Atomic Technology (ISAT-3) 3rd Polyscale Technology Workshop (PTW-3)
  • 発表場所: Tokyo International Exchange Center, Tokyo, Japan
  • 年月日: 2009-03-05
• [学会発表] Investigation into small diameter metal tip for force sensor (2009)
  • 著者名/発表者名: Hitomi HASEGAWA
  • 学会等名: 3rd International Symposium on Atomic Technology (ISAT-3) 3rd Polyscale Technology Workshop (PTW-3)
  • 発表場所: Tokyo International Exchange Center, Tokyo, Japan
  • 年月日: 2009-03-05
• [学会発表] Deflection amplifier for tuning fork operated in ultra-high vacuum (2009)
  • 著者名/発表者名: Saeidifar SOMAYEH
  • 学会等名: 3rd International Symposium on Atomic Technology (ISAT-3) 3rd Polyscale Technology Workshop (PTW-3)
  • 発表場所: Tokyo International Exchange Center, Tokyo, Japan
  • 年月日: 2009-03-05
• [学会発表] 原子間力顕微鏡による多元素ナノ材料の元素マッピングとボトムアップ組立 (2009)
  • 著者名/発表者名: 阿部真之、澤田大輔、Yurtsever Ayhan、杉本宜昭、森田清三
  • 学会等名: 応用物理学会
• [学会発表] AFMを用いた室温原子操作の統計的実験 (2009)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭、三木浩太郎、阿部真之、森田清三
  • 学会等名: 応用物理学会
• [学会発表] 室温環境下における相互作用力/トンネル電流の同時測定 (2009)
  • 著者名/発表者名: 澤田大輔、杉本宜昭、阿部真之、森田清三
  • 学会等名: 応用物理学会
• [学会発表] 室温原子操作の原子移動確率の研究 (2009)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭、三木浩太郎、阿部真之、森田清三
  • 学会等名: 金属学会
• [学会発表] Ge(111)-c(2×8)表面におけるAFM/STM同時測定 (2009)
  • 著者名/発表者名: 澤田大輔、杉本宜昭、阿部真之、森田清三
  • 学会等名: 金属学会
• [学会発表] AFM/STMによる周波数シフトとトンネル電流の同時測 (2009)
  • 著者名/発表者名: 澤田大輔、杉本宜昭、阿部真之、森田清三
  • 学会等名: 物理学会
• [学会発表] Statistics of Lateral Atom Manipulation by Atomic Fprce Microscopy at Room Temperature (2008)
  • 著者名/発表者名: Yoshiaki Sugimoto
  • 学会等名: The 16th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
  • 発表場所: Atagawa, Japan
  • 年月日: 2008-12-13
• [学会発表] NC-AFM/STM Study on the Semiconductor Surface (2008)
  • 著者名/発表者名: Daisuke Sawada
  • 学会等名: The 16th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
  • 発表場所: Atagawa, Japan
  • 年月日: 2008-12-11
• [学会発表] 非接触原子間力顕微鏡を用いたフォース・マッピング (2008)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭
  • 学会等名: 社団法人 日本表面科学会 主催第28回表面科学学術講演会
  • 発表場所: 早稲田大学総合学術情報センター(国際会議場)
  • 年月日: 2008-11-15
• [学会発表] Vertical and lateral force mapping by non-contact atomic force microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: Yoshiaki Sugimoto
  • 学会等名: International Symposium on Surface Science and Nanotechnology (ISSS-5)
  • 発表場所: Waseda University, Tokyo, Japan
  • 年月日: 2008-11-10
• [学会発表] Toward Atom-by-Atom Assembly of Composite Nanostructures Based on Atomic Force Microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: Seizo Morita
  • 学会等名: 21st International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC 2008)
  • 発表場所: Fukuoka, Japan
  • 年月日: 2008-10-29
• [学会発表] Atomic Tool for Nanofabrication Based on Atomic Force Microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: Seizo Morita
  • 学会等名: 55th AVS International Symposium
  • 発表場所: Boston, MA, USA
  • 年月日: 2008-10-21
• [学会発表] Observation of the metal oxide surface by scanning probe microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: Akira Hirai
  • 学会等名: 4th Handai Nanoscience and technology International Symposium
  • 発表場所: Suita, Japan
  • 年月日: 2008-09-30
• [学会発表] NC-AFM/STM measurements on the Ge(111)-c(2x8) Surface (2008)
  • 著者名/発表者名: Daisuke Sawada
  • 学会等名: 4th Handai Nanoscience and technology International Symposium
  • 発表場所: Suita, Japan
  • 年月日: 2008-09-30
• [学会発表] Single atom manipulaiton at room temperature (2008)
  • 著者名/発表者名: Yoshiaki Sugimoto
  • 学会等名: 4th Handai Nanoscience and technology International Symposium
  • 発表場所: Suita, Japan
  • 年月日: 2008-09-29
• [学会発表] 非接触原子間力顕微鏡を用いたSnを蒸着したSi(111)-(7×7)表面での原子操作 (2008)
  • 著者名/発表者名: 三木浩太郎
  • 学会等名: 日本金属学会2008年秋季(第143回)大会
  • 発表場所: 熊本大学黒髪キャンパス
  • 年月日: 2008-09-25
• [学会発表] 非接触原子間力顕微鏡を用いた金属酸化物表面の観察 (2008)
  • 著者名/発表者名: 平井 明
  • 学会等名: 日本金属学会2008年秋季(第143回)大会
  • 発表場所: 熊本大学黒髪キャンパス
  • 年月日: 2008-09-25
• [学会発表] Force spectroscopy using cantilever higher flexural modes (2008)
  • 著者名/発表者名: Oscar Custance
  • 学会等名: 11th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Madrid, Spain
  • 年月日: 2008-09-19
• [学会発表] Imaging and Mapping for discriminating atom species using Non-contact Atomic Force Microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: Masayuki Abe
  • 学会等名: 11th International, Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Madrid, Spain
  • 年月日: 2008-09-19
• [学会発表] Vertical and lateral force mapping on the Si(111)-(7x7) surface by dynamic force microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: Yoshiaki Sugimoto
  • 学会等名: 11th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Madrid, Spain
  • 年月日: 2008-09-16
• [学会発表] Distinct short-range electrostatic interaction on Si and substitutional Pb atoms at the Si(111)-(7x7) surface (2008)
  • 著者名/発表者名: Sascha Sadewasser
  • 学会等名: 11th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Madrid, Spain
  • 年月日: 2008-09-16
• [学会発表] Unveiling the atomic processes during the manipulation of single atoms at semiconductor surfaces using the FM-AFM in the repulsive regime (2008)
  • 著者名/発表者名: Pablo Pou
  • 学会等名: 11th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Madrid, Spain
  • 年月日: 2008-09-16
• [学会発表] Atom-by-Atom Chemical Identification and Following Manipulation on Semiconductor Surfaces Toward Nanostructuring at Room Temperature (2008)
  • 著者名/発表者名: Seizo Morita
  • 学会等名: the 14th International Conference on Solid Films and Surfaces (ICSFS-14)
  • 発表場所: Trinity College Dublin, Ireland
  • 年月日: 2008-07-01
• [学会発表] Imaging of the Si clusters on the Si(111)-(7×7) surface by using NC-AFM (2008)
  • 著者名/発表者名: Satoru Iwasaki
  • 学会等名: The 1st International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC)
  • 発表場所: Nagoya, Japan
  • 年月日: 2008-06-30
• [学会発表] NC-AFM study of phosphorous/Si(001)2×1 surface (2008)
  • 著者名/発表者名: Daisuke Sawada
  • 学会等名: The 1st International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC)
  • 発表場所: Nagoya, Japan
  • 年月日: 2008-06-29
• [学会発表] Atomic force techniques fornano-engineering(TU-K9) (2008)
  • 著者名/発表者名: M. Abe, Y. Sugimoto, and S. Morita
  • 学会等名: International Symposium on Physics of Quantum Technology
• [学会発表] Vertical and lateral force mapping on the Si(111)-(7x7) surface by dynamic force microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, T. Namikawa, K. Miki, M.Abe, and S. Morita
  • 学会等名: The 11th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy(NC-AFM)
• [学会発表] Imaging and Mapping for discriminating atom species using Non-contact Atomic Force Microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: M. Abe, Y. Sugimoto, K. Miki, T.Namikawa, and S. Morita
  • 学会等名: The 11th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy(NC-AFM)
• [学会発表] フォースマッピングを用いたSi(111)-(7x7)上における探針に働く水平力の解析(4a-L5) (2008)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭、並川峻、三木浩太郎、阿部真之、森田清三
  • 学会等名: 第69回応用物理学会学術講演会
• [学会発表] フォースマッピングによるFM-AFM凹凸像の考察(4a-L4) (2008)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭、並川峻、三木浩太郎、阿部真之、森田清三
  • 学会等名: 第69回応用物理学会学術講演会
• [学会発表] 原子間力顕微鏡を用いた化学結合力マッピング(S3・24) (2008)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭、阿部真之、並川峻、三木浩太郎、森田清三
  • 学会等名: 日本金属学会春期大会
• [学会発表] 原子間力顕微鏡の超高空間分解能イメージング(S3・23) (2008)
  • 著者名/発表者名: 阿部真之、杉本宜昭、澤田大輔、李仁淑、森田清三
  • 学会等名: 日本金属学会春期大会
• [学会発表] 2次共振モード原子間力顕微鏡によるForce spectroscopy(29a-Q-6) (2008)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭、院南誠嗣、阿部真之、クスタンセオスカル、森田清三
  • 学会等名: 第55回応用物理学関係連合講演会
• [学会発表] P/Si(001)表面の高分解能NC-AFM観察(29a-Q-3) (2008)
  • 著者名/発表者名: 澤田大輔、並川峻、平垣倍弘、杉本宜昭、阿部真之、森田清三
  • 学会等名: 第55回応用物理学関係連合講演会
• [学会発表] 非接触原子間力顕微鏡を用いたSi(111)-(7x7)表面上のSiクラスタに関する研究(29a-Q-2) (2008)
  • 著者名/発表者名: 岩崎悟、平井明、杉本宜昭、阿部真之、森田清三
  • 学会等名: 第55回応用物理学関係連合講演会
• [学会発表] AFMによるP/Si(001)-(2x1)表面観察(24pPSA-22) (2008)
  • 著者名/発表者名: 澤田大輔、並川峻、平垣倍弘、杉本宜昭、阿部真之、森田清三
  • 学会等名: 日本物理学会第63回年次大会
• [学会発表] Room Temperature Atomic Manipulation Using Dynamic Force Microscopy (2007)
  • 著者名/発表者名: Yoshiaki Sugimoto
  • 学会等名: The 15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
  • 発表場所: Atagawa, Japan
  • 年月日: 2007-12-07
• [学会発表] Atom Manipulation on the Sn Deposited Si(111)-(7x7)Surface Using Atomic Force Microscopy (2007)
  • 著者名/発表者名: Koutarou Miki
  • 学会等名: The 15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
  • 発表場所: Atagawa, Japan
  • 年月日: 2007-12-06
• [学会発表] Atom Identification by Dynamic Force Mapping (2007)
  • 著者名/発表者名: Takashi Namikawa
  • 学会等名: The 15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
  • 発表場所: Atagawa, Japan
  • 年月日: 2007-12-06
• [学会発表] NC-AFM Investigation of the Si Cluster on the Si(111)-(7x7) Surface (2007)
  • 著者名/発表者名: Satoru Iwasaki
  • 学会等名: The 15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
  • 発表場所: Atagawa, Japan
  • 年月日: 2007-12-06
• [学会発表] AFM Observation of P/Si(001)-(2x1) Surface (2007)
  • 著者名/発表者名: Daisuke Sawada
  • 学会等名: The 15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
  • 発表場所: Atagawa, Japan
  • 年月日: 2007-12-06
• [学会発表] LabVIEWで原子を見て動かす (2007)
  • 著者名/発表者名: 阿部真之
  • 学会等名: Lab VIEW days
  • 発表場所: ホテルプリンスパークタワー東京
  • 年月日: 2007-11-22
• [学会発表] Principles and State of the Art of Atomic Force Microscopy (2007)
  • 著者名/発表者名: Seizo Morita
  • 学会等名: 6th Int. Symp. Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices'07 (ALC07)
  • 発表場所: Kanazawa Art Hall, Ishikawa, Japan
  • 年月日: 2007-10-28
• [学会発表] Mechanism for room-temperature single-atom lateral manipulations on semiconductors using dynamic force microscopy (2007)
  • 著者名/発表者名: Yoshiaki Sugimoto
  • 学会等名: Second International Symposium on Atomic Technologies(ISAT-2)
  • 発表場所: Awaji Yumebutai, Hyogo, Japan
  • 年月日: 2007-10-01
• [学会発表] Tip-surface interaction potential mapping at room-temperature using non-contact atomic force microscopy (2007)
  • 著者名/発表者名: Takashi Namikawa
  • 学会等名: Second International Symposium on Atomic Technologies(ISAT-2)
  • 発表場所: Awaji Yumebutai, Hyogo, Japan
  • 年月日: 2007-10-01
• [学会発表] Non-contact atomic force microscopy investigation of the Pb/Si(111)-(√3×√3) mosaic phase (2007)
  • 著者名/発表者名: Akihiro Ohiso
  • 学会等名: Second International Symposium on Atomic Technologies (ISAT-2)
  • 発表場所: Awaji Yumebutai, Hyogo, Japan
  • 年月日: 2007-10-01
• [学会発表] Atomic force microscopy using quartz tuning fork in air (2007)
  • 著者名/発表者名: Yusuke Murai
  • 学会等名: Second International Symposium on Atomic Technologies (ISAT-2)
  • 発表場所: Awaji Yumebutai, Hyogo, Japan
  • 年月日: 2007-10-01
• [学会発表] Room temperature lateral atom manipulations on semiconductors using dynamic force microscopy (2007)
  • 著者名/発表者名: Yoshiaki Sugimoto
  • 学会等名: Handai Nanoscience and Nanotechnology International Symposium 2007
  • 発表場所: Sigma Hall, Osaka University, Japan
  • 年月日: 2007-09-27
• [学会発表] Potential mapping at room-temperature using dynamic force microscopy (2007)
  • 著者名/発表者名: Takashi Namikawa
  • 学会等名: Handai Nanoscience and Nanotechnology International Symposium 2007
  • 発表場所: Sigma Hall, Osaka University, Japan
  • 年月日: 2007-09-27
• [学会発表] Surrounding atoms effects on the Pb/Si(111)-(√3×√3)mosaic phase (2007)
  • 著者名/発表者名: Akihiro Ohiso
  • 学会等名: Handai Nanoscience and Nanotechnology International Symposium 2007
  • 発表場所: Sigma Hall, Osaka University, Japan
  • 年月日: 2007-09-27
• [学会発表] Atomic force microscopy using quartz tuning fork in air (2007)
  • 著者名/発表者名: Yusuke Murai
  • 学会等名: Handai Nanoscience and Nanotechnology International Symposium 2007
  • 発表場所: Sigma Hall, Osaka University, Japan
  • 年月日: 2007-09-27
• [学会発表] AFMによる原子のidentification (2007)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭
  • 学会等名: 日本物理学会 第62回年次大会
  • 発表場所: 北海道大学,北海道
  • 年月日: 2007-09-23
• [学会発表] Characterization of the electrostatic interaction on substitutional Pb atoms at the Si(111)-(7×7)surface using low temperature dynamic force microscopy (2007)
  • 著者名/発表者名: Yusaku Yamada
  • 学会等名: The 10th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Antalya, Turkey
  • 年月日: 2007-09-18
• [学会発表] Investigations of Organic Molecules by Frequency Modulation Atomic Force Microscopy in Air or Liquid (2007)
  • 著者名/発表者名: Masahiro Ohta
  • 学会等名: The 10th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Antalya, Turkey
  • 年月日: 2007-09-18
• [学会発表] Development of Low-thermal Drift FM-AFM Working in Air/Liquid Environments (2007)
  • 著者名/発表者名: Noriaki Oyabu
  • 学会等名: The 10th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Antalya, Turkey
  • 年月日: 2007-09-18
• [学会発表] Chemical identification of individual surface atoms using dynamic force microscopy (2007)
  • 著者名/発表者名: Oscar Custance
  • 学会等名: Trends in Nanotechnology (TNT2007) International Conference
  • 発表場所: San Sebastian, Spain
  • 年月日: 2007-09-04
• [学会発表] Toward atom-by-atom assembly of complex nanostructures at room temperature based on AFM (2007)
  • 著者名/発表者名: Seizo Morita
  • 学会等名: The 10th Asia Pacific Physics Conference (APPC10)
  • 発表場所: POSTECH, Pohang, Korea
  • 年月日: 2007-08-23
• [学会発表] Force spectroscopy and single atom chemical identification (2007)
  • 著者名/発表者名: Oscar Custance
  • 学会等名: Workshop on atomic/molecular manipulation and spectroscopy using scanning probe techniques
  • 発表場所: Suita Campus, Osaka University, Japan
  • 年月日: 2007-08-02
• [学会発表] Atomic manipulation using dynamic force microscopy (2007)
  • 著者名/発表者名: Yoshiaki Sugimoto
  • 学会等名: Workshop on atomic/molecular manipulation and spectroscopy using scanning probe techniques
  • 発表場所: Suita Campus, Osaka University, Japan
  • 年月日: 2007-08-01
• [学会発表] Drift-compensated data acquisition performed at room temperature with frequency modulation atomic force microscopy (2007)
  • 著者名/発表者名: Masayuki Abe
  • 学会等名: 17th International Vacuum Conference
  • 発表場所: Stockholm, Sweden
  • 年月日: 2007-07-02
• [学会発表] AFMを用いた力学的元素識別 (2007)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭
  • 学会等名: 日本顕微鏡学会 第63回学術講演会
  • 発表場所: 朱鷺メッセ(新潟コンベンションセンター),新潟
  • 年月日: 2007-05-20
• [学会発表] 原子間力顕微鏡を用いた「交換型垂直原子操作」 (2007)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭
  • 学会等名: 日本顕微鏡学会 第63回学術講演会
  • 発表場所: 朱鷺メッセ(新潟コンベンションセンター),新潟
  • 年月日: 2007-05-20
• [学会発表] AFMを用いた個々の原子の元素同定 (2007)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭
  • 学会等名: 日本真空協会 関西支部、平成19年度講演会(第2回)・研究会(第1回)
  • 発表場所: 大阪大学吹田キャンパス内、材料開発物性記念館
  • 年月日: 2007-05-10
• [学会発表] Room temperature atomic manipulations using dynamic force microscopy(S7-1) [invited talk] (2007)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, M. Abe, O. Custance, S.Morita, P. Pou, P. Jelinek and R. Perez
  • 学会等名: The 15th InternationalColloquium on Scanning ProbeMicroscopy
• [学会発表] AFM observation of P/Si(001)-(2x1)surface(S4-23) (2007)
  • 著者名/発表者名: D. Sawada, T. Namikawa, M. Hiragaki,Y. Sugimoto, M. Abe, and S. Moritam
  • 学会等名: The 15th InternationalColloquium on Scanning Probe Microscopy
• [学会発表] NC-AFM investigation of the Si clusters on Si(111)-(7×7) surface(S4-22) (2007)
  • 著者名/発表者名: S. Iwasaki, A. Hirai, Y. Sugimoto, M.Abe, and S. Morita
  • 学会等名: The 15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
• [学会発表] Atomic identification by dynamic force mapping(S4-21) (2007)
  • 著者名/発表者名: T. Namikawa, K. Miki, Y. Sugimoto, O.Custance, M. Abe, and S. Morita
  • 学会等名: The 15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
• [学会発表] Atomic manipulation on the Sn deposited Si(111)-(7x7) surface using atomic force microscopy(S4-20) (2007)
  • 著者名/発表者名: K. Miki, T. Namikawa, Y. Sugimoto, M.Abe, and S. Morita
  • 学会等名: The 15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
• [学会発表] Atom-by-Atom Chemical Identification and Following Atom Manipulation(B-14) (2007)
  • 著者名/発表者名: S. Morita, Y. Sugimoto, O. Custance,M. Abe, P. Pou, P. Jelinek and R. Perez
  • 学会等名: 2nd International Workshop on "Materials Science and Nano-Engineering"
• [学会発表] Atomic force microscopy study of P/Si(001)-(2x1) surface(PB-07) (2007)
  • 著者名/発表者名: D. Sawada, T. Namikawa, M. Hiragaki,Y. Sugimoto, M. Abe, and S. Morita
  • 学会等名: 2nd International Workshop on "Materials Science and Nano-Engineering
• [学会発表] Atomic force microscopy using quarz tuning fork in air(PB-05) (2007)
  • 著者名/発表者名: Y. Murai, R. Omae, Y. Sugimoto, M. Abe,and S. Morita
  • 学会等名: 2nd International Workshop on "Materials Science and Nano-Engineering
• [学会発表] Potential mapping using non-contact atomic force microscopy(PB-04) (2007)
  • 著者名/発表者名: T. Namikawa, K. Miki, Y. Sugimoto, O.Custance, M. Abe, and S. Morita
  • 学会等名: 2nd International Workshop on "Materials Science and Nano-Engineering
• [学会発表] Non-Contact AFM observation of the "Chemical Coordination Effect" of Pb/Si(111)-(√3×√3) Mosaic Phase(PB-03) (2007)
  • 著者名/発表者名: A. Ohiso, M. Hiragaki, K. Mizuta, Y.Sugimoto, M. Abe, and S. Morita
  • 学会等名: 2nd International Workshop on "Materials Science and Nano-Engineering"
• [学会発表] Force spectroscopy using human interface(PB-02) (2007)
  • 著者名/発表者名: M. Hiragaki, D. Sawada, Y. Sugimoto,M. Abe, and S. Morita
  • 学会等名: 2nd International Workshop on "Materials Science and Nano-Engineering"
• [学会発表] 高次共振モード原子間力顕微鏡によるフォーススペクトロスコピー(1D25) (2007)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭、院南誠嗣、阿部真之、クスタンセ・オスカル、森田清三
  • 学会等名: 日本表面科学会第27回表面化学講演大会
• [学会発表] Atomic force microscopy using quartz tuning fork in air(P-1-17) (2007)
  • 著者名/発表者名: Y. Murai, R. Omae, Y. Sugimoto, M. Abe,and S. Morita
  • 学会等名: 2nd International Symposium on Atomic Technologie
• [学会発表] Surrounding atoms effects on the Pb/Si(111)-(√3×√3) mosaic phase(P-1-14) (2007)
  • 著者名/発表者名: A. Ohiso, M. Hiragaki, K. Mizuta, Y.Sugimoto, M. Abe, and S. Morita
  • 学会等名: 2nd International Symposium on Atomic Technologie
• [学会発表] Potential mapping at room-temperature using dynamic force microscopy(P-1-13) (2007)
  • 著者名/発表者名: T. Namikawa, Y. Sugimoto, O. Custance,M. Abe, and S. Morita
  • 学会等名: 2nd International Symposium on Atomic Technologie
• [学会発表] Room temperature lateral atom manipulations on semiconductors using dynamic force microscopy(P-1-7) (2007)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, M. Abe, O. Custance, S.Morita, P. Jelinek, P. Pou, and R.Perez
  • 学会等名: 2nd International Symposium on Atomic Technologie
• [学会発表] Atomic force microscopy using quartz tuning fork in air(P-16) (2007)
  • 著者名/発表者名: Y. Murai, R. Omae, Y. Sugimoto, M. Abe,and S. Morita
  • 学会等名: Handai Nanoscience and Nanotechnology International Symposium
• [学会発表] Non-contact atomic force microscopy investigation of the Pb/Si(111)-(√3×√3) mosaic phase(P-11) (2007)
  • 著者名/発表者名: A.Ohiso, M. Hiragaki, K. Mizuta, Y.Sugimoto, M. Abe, and S. Morita
  • 学会等名: Handai Nanoscience and Nanotechnology International Symposium
• [学会発表] Tip-surface interaction potential mapping at room-temperature using non-contact atomic force microscopy(P-8) (2007)
  • 著者名/発表者名: T. Namikawa, Y. Sugimoto, K. Morita,O. Custance, M. Abe, and S. Morita
  • 学会等名: Handai Nanoscience and Nanotechnology International Symposium
• [学会発表] Drift-compensated data acquisition performed at room temperature with frequency modulation atomic force microscopy(NSP1-76) (2007)
  • 著者名/発表者名: M. Abe, Y. Sugimoto, O. Custance, andS. Morita
  • 学会等名: 17th International Vacuum Conference
  • 発表場所: Stockholm, Sweden
• [学会発表] Mechanism for room-temperature single-atom lateral manipulations on semiconductors using dynamic force microscopy(P-7) (2007)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, M. Abe, O. Custance, S.Morita, P. Jelinek, P. Pou, and R.Perez
  • 学会等名: Handai Nanoscience and Nanotechnology International Symposium
• [学会発表] Drift-compensated data acquisition performed at room temperature with frequency modulation atomic force microscopy (2007)
  • 著者名/発表者名: S. Morita, M. Abe, Y. Sugimoto, O.Custance
  • 学会等名: 17th International Vacuum Conference
• [学会発表] Force spectroscopy using human interface (2007)
  • 著者名/発表者名: Masuhiro Hiragak
  • 学会等名: 2nd International Workshop on Materials Science and Nano-Engineering
  • 発表場所: Awaji Yumebutai, Japan
• [学会発表] Non-Contact AFM observation of the "Chemical Coordination Effect" of Pb/Si(111)-(√3×√3)Mosaic Phase (2007)
  • 著者名/発表者名: Akihiro Ohiso
  • 学会等名: 2nd International Workshop on Materials Science and Nano-Engineering
  • 発表場所: Awaji Yumebutai, Japan
• [学会発表] Potential mapping using non-contact atomic force microscopy (2007)
  • 著者名/発表者名: Takashi Namikawa
  • 学会等名: 2nd International Workshop on Materials Science and Nano-Engineering
  • 発表場所: Awaji Yumebutai, Japan
• [学会発表] Atomic force microscopy using quartz tuning fork in air (2007)
  • 著者名/発表者名: Yusuke Murai
  • 学会等名: 2nd International Workshop on Materials Science and Nano-Engineering
  • 発表場所: Awaji Yumebutai, Japan
• [学会発表] Atomic force microscopy study of P/Si(001)-(2x1) surface (2007)
  • 著者名/発表者名: Daisuke Sawada
  • 学会等名: 2nd International Workshop on Materials Science and Nano-Engineering
  • 発表場所: Awaji Yumebutai, Japan
• [図書] Precise Force Measurement (2009)
  • 著者名/発表者名: M. Abe
  • 出版者: Chap. 2 in "Noncontact Atomic Force Microscopy vol.2"2009年(出版予定)(Springer)
• [備考]
  • URL: http://www.afm.eei.eng.osaka-u.ac.jp/jp/index.html
• [備考]
  • URL: http://www.afm.eei.eng.osaka-u.ac.jp/jp/index.html
• [産業財産権] 原子間力顕微鏡及びそれを用いた相互作用力測定法 (2008)
  • 発明者名: 大田昌弘, 大藪範昭, -阿部真之-, オスカル・クスタンセ, 杉本宜昭, 森田清三
  • 権利者名: 株式会社島津製作所および国立大学法人大阪大学
  • 出願年月日: 2008-01-17
  • 外国
• [産業財産権] 「Probe position control system and method」 (2007)
  • 発明者名: Masayuki Abe, Masahiro Ohta, Yoshiaki Sugimoto, Kenichi Morita, Noriaki Oyabu,Morita Seizo
  • 権利者名: SHIMADZU CORPORATION and OSAKA UNIVERSITY
  • 出願年月日: 2007-05-24
• [産業財産権] Probe position control system and method (2007)
  • 発明者名: Masayuki Abe, Masahiro Ohta, Yoshiaki Sugimoto, Kenichi Morita, Noriaki Oyabu, Morita Seizo, Oscar Custance
  • 権利者名: SHIMADZU CORPORATION and OSAKA UNIVERSITY
  • 出願年月日: 2007-05-24
  • 外国
• [産業財産権] 探針位置制御装置及び方法 (2007)
  • 発明者名: Masayuki Abe, Masahiro Ohta, Yoshiaki Sugimoto, Kenichi Morita, Noriaki Oyabu, Oscar Custance, Seizo Morita
  • 権利者名: 株式会社島津製作所及び国立大学法人大阪大学
  • 出願年月日: 2007-05-25
  • 外国
• [産業財産権] Probe position control system and method (2007)
  • 発明者名: Masayuki Abe, Masahiro Ohta, Yoshiaki Sugimoto, Kenichi Morita, Noriaki Oyabu, Oscar Custance, Seizo Morita
  • 権利者名: Shimazu Corporation and Osaka University
  • 出願年月日: 2007-05-24
  • 外国