| 研究課題/領域番号 |
19360023
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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| 研究機関 | 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構 |
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研究代表者 |
松下 正 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 名誉教授 (40092332)
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| 研究分担者 |
飯田 厚夫 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 物質構造科学研究所, 教授 (10143398)
野村 昌治 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 物質構造科学研究所, 教授 (70156230)
稲田 康宏 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 物質構造科学研究所, 准教授 (60242814)
桜井 健次 物質・材料研究機構, 量子ビームセンター, グループリーダー (00354176)
石井 真史 物質・材料研究機構, 量子ビームセンター, 主任研究員 (90281667)
雨宮 慶幸 東京大学, 新領域創成科学研究科, 教授 (70151131)
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| 研究期間 (年度) |
2007 – 2008
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| 研究課題ステータス |
完了 (2008年度)
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| 配分額 *注記 |
18,460千円 (直接経費: 14,200千円、間接経費: 4,260千円)
2008年度: 12,480千円 (直接経費: 9,600千円、間接経費: 2,880千円)
2007年度: 5,980千円 (直接経費: 4,600千円、間接経費: 1,380千円)
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| キーワード | ビーム応用 / 時分割測定 / 鏡面X線反射率 / 多波長同時分散 / 薄膜 / 構造変化 / 彎曲結晶ポリクロメーター |
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| 研究概要 |
測定中に機械的運動を何ら必要とせずに鏡面X線反射率曲線プロファイル全体を同時に測定し、サブ秒~ミリ秒の時分割測定を可能とする方法を開発した。これを用いシリコン基板上のアゾベンゼンを分子中にもつ光応答高分子LB膜(6Az10PVA ; 9層)を形成し、波長375nmの紫外レーザー(CW、8mW)光を照射しながらX線反射率曲線を測定したところ、紫外光照射後10分程度からX線反射率曲線に変化が現れることを観測できた。また、液体表面(エチレングリコールおよび水)からのX線反射率曲線の測定に成功し、水中に球状タンパク質分子を注入するとタンパク質分子が水面でunfoldingを起こすことによるX線反射率曲線の時間変化を観察できた。
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