高速VLSIのクロストーク故障に対する高信頼テスト手法に関する研究

• 研究課題/領域番号: 19500045
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 計算機システム・ネットワーク
• 研究機関: 愛媛大学
• 研究代表者: 樋上 喜信 愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 准教授 (40304654)
• 研究分担者: 高橋 寛 愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 准教授 (80226878)
• 研究期間 (年度): 2007 – 2009
• 研究課題ステータス: 完了 (2009年度)
• 配分額: 3,380千円 (直接経費: 2,600千円、間接経費: 780千円); 2009年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円); 2008年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円); 2007年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
• キーワード: VLSI(大規模集積回路) / テスト / 故障診断 / クロストーク故障 / テストパターン生成 / トランジスタショート / ゲートレベルツール / 故障シミュレーション / 高信頼化 / 論理回路 / VLSIのテスト / シミュレーション / 故障モデル

研究概要

本研究では,VLSI(大規模集積回路)におけるクロストーク故障を対象にしたテスト手法を提案した.クロストーク故障とは,隣接する2本の信号線が容量性結合することによるものである,従来の故障モデルを対象にしたテストでは検出されない.そこで,クロストーク故障の故障動作を詳細に解析し,モデル化を行い,テストパターンを生成する手法を提案した.さらに手法を拡張し,トランジスタショート故障に対する故障診断法やテストパターン生成法も提案した.

研究成果

• [雑誌論文] An Algorithm for Diagnosing Transistor Shorts Using Gate-level Simulation (2009)
  • 著者名/発表者名: Y. Higami, K.K. Saluja, H. Takahashi, S. Kobayashi, Y. Takamatsu
  • 雑誌名: IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology vol.2(in press) ページ: 250-262
  • NAID: 130000140280
• [雑誌論文] Addressing Defect Coverage through Generating Test Vectors for Transistor Defects (2009)
  • 著者名/発表者名: Y. Higami, K.K. Saluja, H. Takahashi, S. Kobayashi, Y. Takamatsu
  • 雑誌名: IEICE Trans. Fundamentals vol.E92-A,no.12 ページ: 3506-3513
  • NAID: 10026861532
• [雑誌論文] An Algorithm for Diagnosing Transistor Shorts Using Gate-level Simulation (2009)
  • 著者名/発表者名: Y.Higami, K.K.Saluja, H.Takahashi, S.Kobayashi, Y.Takamatsu
  • 雑誌名: IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology 2 ページ: 250-262
  • NAID: 130000140280
  • 査読あり
• [雑誌論文] Addressing Defect Coverage through Generating Test Vectors for Transistor Defects (2009)
  • 著者名/発表者名: Y.Higami, K.K.Saluja, H.Takahashi, S.Kobayashi, Y.Takamatsu
  • 雑誌名: IEICE Trans.Fundamentals E92-A ページ: 3505-3513
  • NAID: 10026861532
  • 査読あり
• [学会発表] Increasing Defect Coverage by Generating Test Vectors for Stuck-open Faults (2008)
  • 著者名/発表者名: Y. Higami, K.K. Saluja, H. Takahashi, K. Kobayashi, Y. Takamatsu
  • 学会等名: Proc. IEEE Seventeenth Asian Test Symposium
  • 年月日: 2008-11-26
• [学会発表] Increasing Defect Coverage by Generating Test Vectors for Stuck-open Faults (2008)
  • 著者名/発表者名: Y. Higami, K. K. Saluja, H. Takahasi, K. Kobayashi, Y. Takamatsu
  • 学会等名: アジアテストシンポジウム
  • 発表場所: 札幌
  • 年月日: 2008-11-25
• [学会発表] スキャン回路におけるクロストーク故障の検出可能性について (2008)
  • 著者名/発表者名: 樋上喜信, 高橋寛, 廣瀬雅人, 小林真也, 高松雄三
  • 学会等名: 子情報通信学会総合大会
  • 年月日: 2008-03-18
• [学会発表] スキャン回路におけるクロストーク故障の検出可能性について (2008)
  • 著者名/発表者名: 樋上 喜信, 高橋 寛, 廣瀬 雅人, 小林 真也, 高松 雄三
  • 学会等名: 電子情報通信学会総合大会
  • 発表場所: 早稲田大学(北九州市)
  • 年月日: 2008-03-18