研究課題
基盤研究(C)
本研究では, X線光電子分光法を用いて, マトリックス中に埋め込まれたナノメートルサイズさらにはサブナノメートルサイズの超微粒子のサイズ評価と存在状態の分析を目指して, 基礎研究を行った。まず, 基板上にAuナノ粒子を生成し, 広い粒子サイズ範囲において, サイズと価電子帯幅の関係を見出した。次に, 得られた関係を用いて, マトリックス中に埋め込まれたAuクラスター・超微粒子のサイズ評価を行い, 透過型電子顕微鏡の結果と良く一致することを確認し, 本手法の有用性を示すことができた。
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Applied Surface Science (掲載確定)