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ワイドギャップ窒化物半導体による放射線耐性に優れた検出器の開発研究

研究課題

研究課題/領域番号 19540254
研究種目

基盤研究(C)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 素粒子・原子核・宇宙線・宇宙物理
研究機関岩手大学

研究代表者

成田 晋也  岩手大学, 工学部, 准教授 (80322965)

研究期間 (年度) 2007 – 2008
研究課題ステータス 完了 (2008年度)
配分額 *注記
4,030千円 (直接経費: 3,100千円、間接経費: 930千円)
2008年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
2007年度: 2,210千円 (直接経費: 1,700千円、間接経費: 510千円)
キーワード半導体検出器 / 放射線計測 / 窒化物半導体 / 放射線耐性 / ショットキーダイオード / 放射線検出器 / 窒化ガリウム
研究概要

本研究では、将来の素粒子実験分野での実用の観点から、放射線損傷に対して高い耐性を持つと考えられているワイドギャップ窒化物半導体を用いた放射線検出器開発を行った。代表的な窒化物半導体であるGaN、AlGaNおよびInGaN材料を用いて、検出器の基本素子となるダイオードを作製し、その性能を評価した。その結果、ワイドギャップ半導体の特徴である高温での安定動作が確認された。さらにGaN ダイオードにおいて重荷電粒子の検出に成功した。また、素子に陽子線を入射して放射線耐性を調査したところ、10^16p/cm^2程度の高フルエンスに対しても、極端な性能劣化は見られず、同材料の高放射線耐性が実証された。

報告書

(3件)
  • 2008 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2007 実績報告書
  • 研究成果

    (11件)

すべて 2008 2007

すべて 雑誌論文 (4件) (うち査読あり 2件) 学会発表 (5件) 産業財産権 (2件)

  • [雑誌論文] Test of Radiation Hardness for GaN diode2008

    • 著者名/発表者名
      S.Narita, Y.Yamaguchi, Y.Chiba, Y.Sakemi, M.Itoh, H.Yoshida, and J.Kasagi
    • 雑誌名

      CYRIC ANNUAL REPORT

      ページ: 14-17

    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [雑誌論文] Radiation Hardness Test of GaN Diode for Irradiation with High Energy Electron Beam2008

    • 著者名/発表者名
      S.Narita, Y.Yamaguchi, Y.Chiba, H.Yuki, H.Hinode, and J.Kasagi
    • 雑誌名

      Research Report of Laboratory of Nuclear Science Vol.40

      ページ: 31-35

    • NAID

      120001943033

    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Test of Radiation Hardness for GaN Diode2008

    • 著者名/発表者名
      S. Narita, et.al.
    • 雑誌名

      CYRIC ANNUAL REPORT

      ページ: 14-17

    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [雑誌論文] Radiation Hardness Test of GaN Diode for Irradiation with High Energy Electron Beam2008

    • 著者名/発表者名
      S. Narita, et. al.
    • 雑誌名

      Research Report of Laboratory of Nuclear Science 40

      ページ: 31-35

    • NAID

      120001943033

    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] Performance of GaN Ionizing Detector and Its Radiation Hardness2008

    • 著者名/発表者名
      S.Narita, Y.Chiba, D.Ichinose, T.Hitora, E.Yamaguchi, Y.Sakemi, M.Itoh, H.Yoshida, J.Kasagi
    • 学会等名
      16th Int. Workshop on Room Temperature Semiconductor X- and Gamma-Ray Detectors
    • 発表場所
      Dresden, Germany
    • 年月日
      2008-10-23
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [学会発表] Performance of GaN Ionizing Detector and Its Radiation Hardness2008

    • 著者名/発表者名
      S. Narita, et.al.
    • 学会等名
      16th International Workshop on Room Temperature Semiconductor X-and Gamma-Ray Detectors
    • 発表場所
      Dresden, Germany
    • 年月日
      2008-10-23
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] III族窒化物半導体素子の特性測定と放射線耐性評価2008

    • 著者名/発表者名
      千葉祐宜、成田晋也、一瀬大介、山田弘、人羅俊美、山口栄一、酒見康寛、伊藤正俊、吉田英智、笠木次郎太
    • 学会等名
      平成20年度電気関係学会東北支部連合大会
    • 発表場所
      日本大学
    • 年月日
      2008-08-21
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書 2008 研究成果報告書
  • [学会発表] 窒化ガリウム荷電粒子検出器の特性測定2007

    • 著者名/発表者名
      山口裕介、人羅俊実、足利義徳、更田誠、山口栄一、山田省二、笠木治郎太、結城秀行、日出富士雄、成田晋也、山田弘、千葉祐宜
    • 学会等名
      平成19年度電気関係学会東北支部連合大会
    • 発表場所
      弘前大学
    • 年月日
      2007-08-23
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [学会発表] 窒化ガリウム荷電粒子検出器の特性測定2007

    • 著者名/発表者名
      山口裕介、成田晋也, 他
    • 学会等名
      平成19年度電気関係学会東北支部連合大会
    • 発表場所
      弘前市・弘前大学理工学部
    • 年月日
      2007-08-23
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [産業財産権] 窒化ガリウム系半導体を用いた荷電粒子検出器2008

    • 発明者名
      成田晋也、山口栄一、人羅俊実
    • 権利者名
      岩手大学、同志社大学、ALGAN
    • 産業財産権番号
      2008-231794
    • 出願年月日
      2008-09-10
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [産業財産権] 窒化ガリウム系半導体材料を用いた荷電粒子検出器2008

    • 発明者名
      成田晋也、山口栄一、人羅俊実
    • 権利者名
      岩手大学、同志社大学、ALGAN
    • 産業財産権番号
      2008-231794
    • 出願年月日
      2008-09-10
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書

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公開日: 2007-04-01   更新日: 2016-04-21  

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