| 研究課題/領域番号 |
19540363
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
物性Ⅱ
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| 研究機関 | 金沢大学 |
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研究代表者 |
金子 浩 金沢大学, 数物科学系, 助教 (40272942)
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| 研究分担者 |
薛 芸 金沢大学, 数物科学系, 研究支援者 (70447663)
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| 研究期間 (年度) |
2007 – 2008
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| 研究課題ステータス |
完了 (2008年度)
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| 配分額 *注記 |
3,640千円 (直接経費: 2,800千円、間接経費: 840千円)
2008年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2007年度: 2,080千円 (直接経費: 1,600千円、間接経費: 480千円)
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| キーワード | 低温物性 / 放射線 / X線 / 粒子線 / 相転移 / 放射線、X線、粒子線 |
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| 研究概要 |
金沢大学超低温研究室で開発した超低温X線解析装置を用いて超伝導体Yba_2Cu_3O_x、PrOs_4Sb_(12)、および幾何学的なフラストレーションをもつ物質ZnCr_2O_4、Ni_(0.5)Zn_(0.5)Cr_2O_4の相転移についてX線反射ピークの半値幅、積分強度、格子定数などの温度変化を精密に測定することにより研究し、新しい情報を得た。
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