| 研究課題/領域番号 |
19560017
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
応用物性・結晶工学
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| 研究機関 | 広島市立大学 |
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研究代表者 |
八方 直久 広島市立大学, 情報科学研究科, 講師 (30285431)
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| 研究期間 (年度) |
2007 – 2009
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| 研究課題ステータス |
完了 (2009年度)
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| 配分額 *注記 |
2,080千円 (直接経費: 1,600千円、間接経費: 480千円)
2009年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2008年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2007年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
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| キーワード | 希薄磁性半導体 / 三元系混晶 / 蛍光X線ホログラフィー / 放射光利用測定技術 / 半導体物性 / 磁性 / イオン結晶 / 放射線、X線 |
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| 研究概要 |
希薄磁性半導体Cd_<1-x>Mn_xTeにおいて、大きなCd-Te格子に小さなMnTe_4四面体が、どのように上手く入り込んでいるのかを調べるために、蛍光X線ホログラフィーの実験を行った。その結果、第五近接付近までの中間的な範囲が歪んでいること、その歪みの範囲は、陽イオンよりも陰イオンの格子の方が広いことが明らかになった。このような歪み方が、3元系混晶の結晶化に貢献していると思われる。
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