接触型SH波線集束探触子によるき裂寸法測定の高精度化

• 研究課題/領域番号: 19560076
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 機械材料・材料力学
• 研究機関: 東京工業大学
• 研究代表者: 井上 裕嗣 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 准教授 (90193606)
• 研究分担者: 黒川 悠 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 助教 (40513461)
• 研究期間 (年度): 2007 – 2008
• 研究課題ステータス: 完了 (2008年度)
• 配分額: 4,290千円 (直接経費: 3,300千円、間接経費: 990千円); 2008年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円); 2007年度: 2,600千円 (直接経費: 2,000千円、間接経費: 600千円)
• キーワード: 非破壊検査 / 超音波探傷 / TOFD 法 / SH 波 / 探触子 / き裂 / TOFD法 / 回折波 / 機械材料・材料力学 / 超音波 / モニタリング

研究概要

本研究では, 通常の縦波に代えてSH波を利用したTOFD法によるき裂寸法測定の実現を目的として, SH波線集束探触子を開発した.探触子を試作してTOFD法に適用した結果, 直接到達波およびき裂先端回折波が確認され,TOFD法に適用可能であることを確認した.なお,探触子の感度が低く, 縦波線集束探触子と比較してき裂寸法測定の高精度化には至らなかったため, 改善策として放物線型のSH波線集束探触子を考案した.

研究成果

• [学会発表] Development of Ultrasonic Line-Focus SH-Wave Probe (2008)
  • 著者名/発表者名: Yuta MORIYA, Hirotsugu INOUE
  • 学会等名: The 17th World Conference on Nondestructive Testing
  • 発表場所: Shanghai Exhibition Center
  • 年月日: 2008-10-26
• [学会発表] Development of Ultrasonic Line-Focus SH-Wave Probe (2008)
  • 著者名/発表者名: Yuta MORIYA, Hirotsugu INOUE
  • 学会等名: The 17th World Conference on Nondestructive Testing
  • 発表場所: 中国 上海Shanghai Exhibition Center
  • 年月日: 2008-10-26
• [学会発表] 線集束SH波超音波探触子のTOFD法への適用 (2008)
  • 著者名/発表者名: 守屋悠太, 井上裕嗣, 黒川悠
  • 学会等名: 日本機械学会M&M2008材料力学カンファレンス
  • 発表場所: 立命館大学びわこ・くさつキャンパス
  • 年月日: 2008-09-17
• [学会発表] 線集束SH超音波探触子のTOFD法への適用 (2008)
  • 著者名/発表者名: 守屋悠太, 井上裕嗣, 黒川悠
  • 学会等名: 日本機械学会M&M2008材料力学カンファレンス
  • 発表場所: 立命館大学びわこ・くさつキャンパス
  • 年月日: 2008-09-17
• [学会発表] 線集束SH超音波探触子の開発 (2007)
  • 著者名/発表者名: 井上裕嗣, 守屋悠太
  • 学会等名: 日本機械学会M&M2007材料力学カンファレンス
  • 発表場所: 東京大学生産技術研究所
  • 年月日: 2007-10-24