| 研究課題/領域番号 |
19560149
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
設計工学・機械機能要素・トライボロジー
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| 研究機関 | 東京理科大学 |
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研究代表者 |
野口 昭治 東京理科大学, 理工学部, 准教授 (80349836)
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| 研究期間 (年度) |
2007 – 2008
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| 研究課題ステータス |
完了 (2008年度)
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| 配分額 *注記 |
4,160千円 (直接経費: 3,200千円、間接経費: 960千円)
2008年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2007年度: 2,990千円 (直接経費: 2,300千円、間接経費: 690千円)
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| キーワード | 機械要素 / 転がり軸受 / トライボロジー / 電食 / 玉軸受 / 電流密度 / 軸受損傷 |
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| 研究概要 |
本研究では小径玉軸受を対象として、電流値と電圧値を細かく制御しながら直流電圧を印加して耐久回転試験を行い、(1)電食が発生する限界電流密度、(2)小径玉軸受に電流が流れ始める限界電圧値の実験的解明を行った。電食が発生する限界電流密度については、0.04A/mm^2程度で電食が発生することを確認しており、従来の電食発生目安(1.0 A/mm^2)が小径玉軸受には適用できないことを明らかにした。また、軸受内を通電する電圧については使用するグリースによって多少異なるが、1.3~1.5Vの範囲であり、小径玉軸受は微小な電圧、電流で電食を起こすことを明らかにした。
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