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フォールパス自動検出および過剰テスト緩和の合成システムに関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 19700045
研究種目

若手研究(B)

配分区分補助金
研究分野 計算機システム・ネットワーク
研究機関早稲田大学

研究代表者

史 又華  早稲田大学, IT研究機構, 講師 (70409655)

研究期間 (年度) 2007 – 2009
研究課題ステータス 完了 (2009年度)
配分額 *注記
3,770千円 (直接経費: 3,200千円、間接経費: 570千円)
2009年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2008年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2007年度: 1,300千円 (直接経費: 1,300千円)
キーワード設計自動化 / 回路とシステム / VLSI設計技術 / 回路設計・CAD / 設計自動化システム / フォールスパス解析 / システムLSIテスト / テスト設計 / テストアーキテクチャ / タイミング解析 / 合成システム / 過剰テスト
研究概要

システムLSIの多機能化、高速化及び低消費電力化につれ、新たな問題点が明らかになってきた。その一つは、フォールスパスの遅延に関する解析・テスト合成設計である。本研究では、システムLSI設計時間の短縮とテスト設計コストの削減のため、設計解析合成システムを構築し、その環境を活用して、次世代システムLSI向けの解析・テスト技術の開発を行ってきた。特に、フォールスパス自動検出システムの開発及び過剰テストを考慮した遅延故障テスト技術に関する研究を行ってきた。

報告書

(4件)
  • 2009 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2008 実績報告書
  • 2007 実績報告書
  • 研究成果

    (16件)

すべて 2009 2008 2007

すべて 雑誌論文 (6件) (うち査読あり 6件) 学会発表 (10件)

  • [雑誌論文] X-Handling for Current X-Tolerant Compactors with More Unknowns and Maximal Compaction2009

    • 著者名/発表者名
      Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
    • 雑誌名

      IEICE Trans. on Fundamentals of Electronics Communications and Computer Science Vol.E92-A,No.12

      ページ: 3119-3127

    • NAID

      10026861520

    • 関連する報告書
      2009 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] X-Handling for Current X-Tolerant Compactors with More Unknowns and Maximal Compaction2009

    • 著者名/発表者名
      Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
    • 雑誌名

      IEICE Trans. on Fundamentals of Electronics Communications and Computer Science Vol.E92-A, No.12

      ページ: 3119-3127

    • NAID

      10026861520

    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] A Unified Test Compression Technique for Scan Stimulus and Unknown Masking Data with No Test Loss2008

    • 著者名/発表者名
      Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
    • 雑誌名

      IEICE Trans. on Fundamentals of Electronics Communications and Computer Science Vol.E91-A,No.12

      ページ: 3514-3523

    • NAID

      10026853923

    • 関連する報告書
      2009 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] A Secure Test Technique for Pipelined Advanced Encryption Standard2008

    • 著者名/発表者名
      Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
    • 雑誌名

      IEICE Trans. on Fundamentals of Electronics Communications and Computer Science Vol.E91-D,No.3

      ページ: 776-780

    • NAID

      10026802210

    • 関連する報告書
      2009 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] A Unified Test Compression Technique for Scan Stimulus and Unknown Masking Data with No Test Loss2008

    • 著者名/発表者名
      Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, and Tatsuo Ohtsuki
    • 雑誌名

      IEICE Trans. on Fundamentals of Elebtronics Communications and Computer Science Vol E91-A, No.12

      ページ: 3514-3523

    • NAID

      10026853923

    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] A Secure Test Technique for Pipelined Advanced Encryption Standard2008

    • 著者名/発表者名
      Y. Shi, N. Togawa, N. Yanagisawa and T. Ohtsuki
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics Communications and Computer Science E91-D, 3

      ページ: 776-780

    • NAID

      10026802210

    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] Design-for-Secure- Test for Crypto Cores2009

    • 著者名/発表者名
      Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
    • 学会等名
      IEEE International Test Conference
    • 発表場所
      Austin, USA
    • 年月日
      2009-11-03
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] Handling More X' s Using Current X-Tolerant Cqnpactors with Maximal Compaction2009

    • 著者名/発表者名
      Youhua Shi, Nozomu Togawa, Nasao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
    • 学会等名
      IEEE European Test Symposium
    • 発表場所
      Sevilla, Spain
    • 年月日
      2009-05-28
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] Design-for-Secure- Test for Crypto Cores2009

    • 著者名/発表者名
      Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
    • 学会等名
      Proc. of IEEE International Test Conference (ITC)
    • 発表場所
      Austin, USA
    • 関連する報告書
      2009 研究成果報告書
  • [学会発表] Handling More X's Using Current X-Tolerant Compactors with Maximal Compaction2009

    • 著者名/発表者名
      Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
    • 学会等名
      IEEE European Test Symposium (ETS)
    • 発表場所
      Sevilla, SPAIN
    • 関連する報告書
      2009 研究成果報告書
  • [学会発表] X-Eliminator : A Technique to Mask All Unknown Responses with No Test Loss and Minimized Masking Data O verhead2008

    • 著者名/発表者名
      Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, and Tatsuo Ohtsuki
    • 学会等名
      IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration
    • 発表場所
      Rhodes, Greece
    • 年月日
      2008-10-15
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] GECOM: Test Data Compression Combined with All Unknown Response Masking2008

    • 著者名/発表者名
      Y. Shi, N. Togawa, M. Yanagisawa and T. Ohtsuki
    • 学会等名
      IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference
    • 発表場所
      Seoul, Korea
    • 年月日
      2008-01-24
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] X-Eliminator: A Technique to Mask All Unknown Responses with No Test Loss and Minimized Masking Data Overhead2008

    • 著者名/発表者名
      Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
    • 学会等名
      Proc. of 16th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SOC)
    • 発表場所
      Rhodes Island, Greece
    • 関連する報告書
      2009 研究成果報告書
  • [学会発表] GECOM: Test Data Compression Combined with All Unknown Response Masking2008

    • 著者名/発表者名
      Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
    • 学会等名
      Proc. of IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)
    • 発表場所
      Seoul, Korea
    • 関連する報告書
      2009 研究成果報告書
  • [学会発表] CoDaMa: An XML-based Framework to Manipulate Control Data Flow Graphs2007

    • 著者名/発表者名
      S. Kohara, Y. Shi, N. Togawa, M. Yanagisawa and T. Ohtsuki
    • 学会等名
      Workshop on Synthesis and System Integration of Mixed Information technologies
    • 発表場所
      Hokkaido, Japan
    • 年月日
      2007-10-16
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] Design for Secure Test - A Case Study on Pipelined Advanced Encryption Standard2007

    • 著者名/発表者名
      Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
    • 学会等名
      Proc. of IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
    • 発表場所
      New Orleans, USA
    • 関連する報告書
      2009 研究成果報告書

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公開日: 2007-04-01   更新日: 2016-04-21  

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