波数分解能を高めた近接場ラマン分光

• 研究課題/領域番号: 19710080
• 研究種目: 若手研究(B)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: ナノ構造科学
• 研究機関: 大阪大学
• 研究代表者: 齊藤 結花 大阪大学, 大学院工学研究科, 特任講師 (90373307)
• 研究期間 (年度): 2007 – 2008
• 研究課題ステータス: 完了 (2008年度)
• 配分額: 3,610千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 210千円); 2008年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円); 2007年度: 2,700千円 (直接経費: 2,700千円)
• キーワード: ナノ構造化学 / ラマン分光 / 近接場顕微鏡 / 偏光 / 表面プラズモン / 近接場分光 / ナノイメージング / 走査プローブ顕微鏡 / ナノフォトニクス / 波数

研究概要

近接場顕微鏡は光を用いて非破壊的に観測を行ないながら、光の波長よりも小さいナノメートルスケールの空間分解能で物質の形状を捉えることができる。この顕微鏡が光を用いているという利点を活かして、試料から多くの化学的情報を引き出すために、空間分解能のみならず波数分解能を高めた近接場ラマン顕微鏡を作製した。この顕微鏡を用いて種々の半導体材料のナノスケール評価を行なった。また近接場顕微鏡探針の入射光共鳴波長をコントロールする方法を同時に開発した。

研究成果

• [雑誌論文] Imaging and Spectroscopy Through Plasmonic Nano-Probe (2009)
  • 著者名/発表者名: Saito Y, Verma P
  • 雑誌名: European Physical Journal- Applied Physics 46 ページ: 20101-15
  • 査読あり
• [雑誌論文] Contolling the surface plasmon resonance wavelength in metal-coated probe using refractive incex modification (2009)
  • 著者名/発表者名: Taguchi A, Hayazawa N, Saito Y, Ishitobi H, Tarun A, Kawata S
  • 雑誌名: Optics Express 17 ページ: 6509-6518
  • 査読あり
• [雑誌論文] Z-polarization sensitive detection in micro Raman spectroscopy by radially polarized incident light (2008)
  • 著者名/発表者名: Saito Y, Kobayashi M, Hiraga D, Kawano S, Fujita K, NI Smith, Inouye Y, Kawata S
  • 雑誌名: Journal of Raman Spectroscopy 39 ページ: 1643-1648
• [雑誌論文] Stress Imagining of Semiconductor Surface by Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: Saito Y, Motohashi M, Hayazawa N, Kawata S
  • 雑誌名: Jorunal of Microscopy 229, 39
  • 査読あり
• [雑誌論文] Active Control of the Oxidization of a Silicon Cantilever for the Characterization of Silicon-based Semiconductors (2008)
  • 著者名/発表者名: Ono A, Masui K, Saito Y, Sakata T, Taguchi A, Motohashi M, Ichimura T, Ishitobi T, Tarun A, Hayazawa N, Verma P, Inouye Y, Kawata S
  • 雑誌名: Chemistry Letters 37 ページ: 122-123
  • NAID: 10020148416
  • 査読あり
• [雑誌論文] 特殊波長板を用いた偏光顕微ラマン測定 (2008)
  • 著者名/発表者名: 齊藤結花
  • 雑誌名: 分光研究 vol 57 ページ: 195-197
  • NAID: 10021308293
• [雑誌論文] 局在プラズモンを用いた近接場ラマンイメージング・可視光を使ってナノを見る (2008)
  • 著者名/発表者名: 河田聡, 齊藤結花, 井上康志
  • 雑誌名: 日本物理学会誌 vol63 ページ: 678-686
  • NAID: 110006936674
• [雑誌論文] 局在プラズモンを用いた近接場ラマンイメージング・可視光を使ってナノを見る (2008)
  • 著者名/発表者名: 河田聡, 齊藤結花, 井上康志
  • 雑誌名: 日本物理学会誌 63 ページ: 678-686
  • NAID: 110006936674
• [雑誌論文] 特殊波長板を用いた偏光顕微ラマン測定 (2008)
  • 著者名/発表者名: 齊藤結花
  • 雑誌名: 分光研究 57 ページ: 195-197
  • NAID: 10021308293
• [雑誌論文] Stress Imagining of Semiconductor Surface by Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: Y.Saito, M.Motohashi, N.Hayazawa, S.Kawata
  • 雑誌名: Journal of Microscopy 229 ページ: 217-222
  • 査読あり
• [雑誌論文] Active Control of the Oχidization of a Silicon Cantilever for the Characterization ofSilicon・based Semiconductors (2008)
  • 著者名/発表者名: Atsushi Ono, K.Masui, Y.Saito, T.Sakata, A.Taguchi, M.Motohashi, T.Ichmiura, H.Ishitobi, A.Tarun, N.Hayazawa, P.Verma, Y.Inouye, S.Kawata
  • 雑誌名: Chemistry letters 37 ページ: 122-123
  • 査読あり
• [雑誌論文] Nano-scale Analysis of Graphene Layers by Tip-enhanced Near-field Raman Spectroscopy
  • 著者名/発表者名: Saito Y, Verma P, Masui K, Inouye Y, Kawata S
  • 雑誌名: Journal of Raman Spectroscopy (in press)
  • 査読あり
• [雑誌論文] Pressure-assisted tip-enhanced Raman imaging at the resolution of a few nanometres
  • 著者名/発表者名: Yano T, Verma P, Saito Y, Ichimura T, Kawata S
  • 雑誌名: Nature Phtonics (in press)
  • 査読あり
• [雑誌論文] Contolling the surface plasmon resonance wavelength in metal-coated probe using refractive incex modification
  • 著者名/発表者名: Taguchi A, Hayazawa N, Saito Y, Ishitobi H, Tarun A, Kawata S
  • 雑誌名: Journal of Raman Spectroscopy (in press)
  • 査読あり
• [雑誌論文] Z-polarization sensitive detection in micro Raman spectroscopy by radially polarizedincident light
  • 著者名/発表者名: Y.Saito, M.Kobayashi, D.Hiraga, S.Kawano, K.Fujita, Nl.Smith, Y.Inouye, S.Kawata
  • 雑誌名: Journal of Raman spectroscopy in press
  • 査読あり
• [学会発表] Near-Field Raman Analysis of Graphene Layers (2008)
  • 著者名/発表者名: Saito Y, Yasugi S, Masui K, Kawata S
  • 学会等名: 2008 Annual Meeting of the Spectroscopical Society of Japan
  • 発表場所: Sendai, Japan
  • 年月日: 2008-11-20
• [学会発表] Z-polarization sensitive detection in micro-Raman spectroscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: Saito Y, Kobayashi M, Hiraga D, Fujita K, Kawata S
  • 学会等名: 20^<th> International Conferences on Rama Spectroscopy
  • 発表場所: London, UK
  • 年月日: 2008-08-20
• [学会発表] Z-polarization sensitive detection in micro-Raman spectroscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: Saito Y, Kobayashi M, Hiraga D, Fujita K, Kawata S
  • 学会等名: 20^<th> International Conferences on Raman Spectros copy
  • 発表場所: London, UK
  • 年月日: 2008-08-20
• [学会発表] z-polarization Sensitive Detection for Flexible raman Polarizability Measurements (2008)
  • 著者名/発表者名: Saito Y, Kobayashi M, Hiraga D, Fujita K, Kawata S
  • 学会等名: Focus on Microscopy 2008
  • 発表場所: Awaji Island, Japan
  • 年月日: 2008-04-15
• [学会発表] z-polarization Sensitive Detection for Flexible Raman Polarizabiliti Measurements (2008)
  • 著者名/発表者名: Saito Y, Kobayashi M, Hiraga D, Fujita K, Kawata S
  • 学会等名: Focus on Microscopy 2008
  • 発表場所: Awaji, Japan
  • 年月日: 2008-04-15
• [学会発表] Tip-enhanced near-field Raman spectroscopy applied to nano-composite materials (2007)
  • 著者名/発表者名: Saito Y, Yanagi K, Kataura K, Hayazawa N, Kawata S
  • 学会等名: SPIE Optics + Photonics
  • 発表場所: San Diego, USA
  • 年月日: 2007-08-28
• [備考] SPIE NewsRoom March 2008に研究が紹介された Saito Y, Yanagi K Using a nano light source to investigate small-scale composite materials
• [産業財産権] 近接場プローブ、近接場ラマン分光システムのカンチレバー、近接場ラマン分光システム、ならびに近接場ラマン分光システムの制御方法 (2008)
  • 発明者名: 河田聡, 齊藤結花, 井上靖志, 田口敦清
  • 権利者名: 大阪大学
  • 産業財産権番号: 2008-052511
  • 出願年月日: 2008-03-03
• [産業財産権] 近接場プローブ、近接場ラマン分光システムのカンチレバー、近接場ラマン分光システム、ならびに近接場ラマン分光システムの制御方法 (2008)
  • 発明者名: 河田聡、齊藤結花、井上靖志、田口敦清
  • 権利者名: 大阪大学
  • 産業財産権番号: 2008-052511
  • 出願年月日: 2008-03-03
• [産業財産権] PROBE FOR NEAR-FIELD MICROSCOPE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE PROBE. (2007)
  • 発明者名: Yuiia Saito. TakashiMurakami,
  • 権利者名: RIKEN, SIINanotechnology
  • 出願年月日: 2007-07-01
  • 外国