| 研究課題/領域番号 |
19740185
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
物性Ⅰ
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| 研究機関 | 独立行政法人物質・材料研究機構 |
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研究代表者 |
鷺坂 恵介 独立行政法人物質・材料研究機構, ナノ計測センター, 主任研究員 (70421401)
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| 研究期間 (年度) |
2007 – 2008
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| 研究課題ステータス |
完了 (2008年度)
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| 配分額 *注記 |
2,750千円 (直接経費: 2,600千円、間接経費: 150千円)
2008年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2007年度: 2,100千円 (直接経費: 2,100千円)
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| キーワード | 表面物理 / 走査トンネル顕微鏡 / 表面磁性 / スピン偏極 / 表面ナノ磁性 |
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| 研究概要 |
固体表面の磁性およびスピン特性を原子分解能で検出するスピン偏極走査トンネル顕微鏡技術の確立を目指して、高品質の磁性薄膜試料及び磁性探針を作製するための基礎的な研究を行った。磁性探針の磁化方向を校正するために、タングステン(110)表面に1.5モノレイヤーの鉄原子を堆積した試料を作製した。その結果、鉄薄膜の磁化特性は基板タングステン表面の清浄度に強く依存することが判明した。また、単一磁性原子のスピン検出を行う基板にはアルミナ表面を作製するが、その予備実験として銅-アルミニウム合金表面の電子状態を明らかにした。
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