研究課題
若手研究(B)
強相関物質の人工超格子やデバイス構造における埋もれた界面の電子状態を直接観察し、その界面に誘起される特有の物性の起源を解明していくことを目的として、検出深さの大きい硬X線光電子分光を強相関酸化物薄膜に適用した。硬X線光電子分光による電子状態の深さ方向依存性を測定する手法を確立し、その手法を様々な強相関酸化物薄膜・ヘテロ界面に適用することにより、薄膜の電子状態解明やヘテロ界面の界面電子状態の抽出に成功した。
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Applied P hysics Express 2巻
Applied Physics Letters 94巻
Physical Review B 80巻
Physical Review Letters 102巻
Physical Review B 80
Physical Review Letters 102
Applied Physics Letters 94
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放射光 21巻
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Applied Surf aceScience 255巻
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放射光 21
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表面科学 28
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