| 研究課題/領域番号 |
19740250
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
原子・分子・量子エレクトロニクス・プラズマ
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| 研究機関 | 分子科学研究所 |
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研究代表者 |
彦坂 泰正 分子科学研究所, 極端紫外光研究施設, 助教 (00373192)
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| 研究期間 (年度) |
2007 – 2008
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| 研究課題ステータス |
完了 (2008年度)
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| 配分額 *注記 |
3,470千円 (直接経費: 3,200千円、間接経費: 270千円)
2008年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2007年度: 2,300千円 (直接経費: 2,300千円)
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| キーワード | 原子 / 分子 / イオン-分子反応 / 分子クラスター / 同時計測実験 |
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| 研究概要 |
電子・イオン同時計測装置を構築し、希ガスの光イオン化で生成した光電子とイオンに対して同時計測実験を行なうことにより、この装置が十分な性能を発揮することを確認した。次に、硫化カルボニルやアセチレン等の分子のオージェ過程について同時計測実験を行なうことにより、この同時計測装置を用いることにより、高い内部エネルギーの2価イオン状態の解離について高感度で観測できることが分かった。
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