| 研究課題/領域番号 |
19760023
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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| 研究機関 | 京都大学 |
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研究代表者 |
黒川 修 京都大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (90303859)
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| 研究期間 (年度) |
2007 – 2008
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| 研究課題ステータス |
完了 (2008年度)
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| 配分額 *注記 |
3,510千円 (直接経費: 3,300千円、間接経費: 210千円)
2008年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2007年度: 2,600千円 (直接経費: 2,600千円)
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| キーワード | 走査プローブ顕微鏡 / 表面・界面 / ナノギャップ |
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| 研究概要 |
Silicon on insulator基板を使用することで,比較的簡便な方法でSPM(走査プローブ顕微鏡)観察に適したナノギャップを作成した.実際にギャップ部で電圧降下が起っていること,電極表面が1nm以下の平坦差に保たれていることを確かめた.
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