| 研究課題/領域番号 |
19760499
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
構造・機能材料
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| 研究機関 | 独立行政法人産業技術総合研究所 |
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研究代表者 |
寺崎 正 独立行政法人産業技術総合研究所, 生産計測技術研究センター, 研究員 (00399510)
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| 研究期間 (年度) |
2007 – 2009
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| 研究課題ステータス |
完了 (2009年度)
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| 配分額 *注記 |
3,900千円 (直接経費: 3,600千円、間接経費: 300千円)
2009年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2008年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2007年度: 2,600千円 (直接経費: 2,600千円)
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| キーワード | インテリジェント材料 / ナノ材料 / 走査プローブ顕微鏡 / 応力発光体 |
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| 研究概要 |
ナノ・マイクロ領域における応力分布診断、これらの領域にも持ちこめるユビキタス光源の観点から、1粒1粒の応力発光粒子に関する発光特性を知ることが必要不可欠である。更に、結晶軸、サイズ、形等、応力発光粒子の個体差と発光特性をナノの視点から評価することで、高効率応力発光体の研究を推進する強力な知見が期待できる。原子間力顕微鏡(AFM)と光測定系から構成される装置を自作し、【単一応力発光ナノ粒子の応力発光特性】を検討した。結果、応力発光体ナノ粒子からの発光検出、更には単一ナノ粒子であっても、発光と印加応力に比例関係が成り立つことを世界で初めて明らかにした。
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