| 研究課題/領域番号 |
19860093
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| 研究種目 |
若手研究(スタートアップ)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
計測工学
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| 研究機関 | 独立行政法人産業技術総合研究所 |
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研究代表者 |
全 伸幸 独立行政法人産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 特別研究員 (20455439)
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| 研究期間 (年度) |
2007 – 2008
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| 研究課題ステータス |
完了 (2008年度)
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| 配分額 *注記 |
1,420千円 (直接経費: 1,330千円、間接経費: 90千円)
2008年度: 390千円 (直接経費: 300千円、間接経費: 90千円)
2007年度: 1,030千円 (直接経費: 1,030千円)
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| キーワード | 質量分析 / TOF-MS / 高電圧パルス / 静電場シミュレーション / 遅延引き出し法 / 飛行時間型質量分析 / エレクトロスプレー / イオン加速 / 二段加速 / 電場勾配 / ESI / プロテオミクス / 高速パルス発生器 / PSD / 超伝導検出器 / STJ / 計測工学 |
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| 研究概要 |
本研究において提案された電場勾配型イオン加速法は、飛行時間型質量分析装置のイオン加速部において、イオンの加速方向とは逆勾配の高電場を生成し、イオンの初期エネルギーおよび初期位置を強制的に揃えてやり、あるタイミングで高電圧パルスを発生させてイオンを加速することにより、高い質量分析精度を目指したものである。逆勾配の高電場をパルス的に発生させておき、加速の高電圧が印加された後、パルス的に減衰させる必要のあることが分かった。
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