• 研究課題をさがす
  • 研究者をさがす
  • KAKENの使い方
  1. 前のページに戻る

ミューオン起因ソフトエラー評価基盤技術: 実測とシミュレーションに基づく将来予測

研究課題

研究課題/領域番号 19H05664
研究種目

基盤研究(S)

配分区分補助金
審査区分 大区分J
研究機関京都大学

研究代表者

橋本 昌宜  京都大学, 情報学研究科, 教授 (80335207)

研究分担者 安部 晋一郎  国立研究開発法人日本原子力研究開発機構, 原子力科学研究部門 原子力科学研究所 原子力基礎工学研究センター, 研究職 (00727373)
川瀬 頌一郎  九州大学, 総合理工学研究院, 助教 (10817133)
渡辺 幸信  九州大学, 総合理工学研究院, 教授 (30210959)
佐藤 朗  大阪大学, 大学院理学研究科, 助教 (40362610)
新倉 潤  国立研究開発法人理化学研究所, 仁科加速器科学研究センター, 協力研究員 (50644720)
鎌倉 良成  大阪工業大学, 情報科学部, 教授 (70294022)
研究期間 (年度) 2019-06-26 – 2024-03-31
研究課題ステータス 完了 (2023年度)
配分額 *注記
203,190千円 (直接経費: 156,300千円、間接経費: 46,890千円)
2023年度: 7,020千円 (直接経費: 5,400千円、間接経費: 1,620千円)
2022年度: 9,750千円 (直接経費: 7,500千円、間接経費: 2,250千円)
2021年度: 39,390千円 (直接経費: 30,300千円、間接経費: 9,090千円)
2020年度: 66,040千円 (直接経費: 50,800千円、間接経費: 15,240千円)
2019年度: 80,990千円 (直接経費: 62,300千円、間接経費: 18,690千円)
キーワードソフトエラー / ミューオン / 集積システム / VLSI / 信頼性
研究開始時の研究の概要

地上に降り注ぐ二次宇宙線粒子によって生じる一過性の誤動作 (ソフトエラー)が集積システムの信頼性を決める最大要因となっている。デバイスの微細化により、ミューオンが中性子に変わってソフトエラーの主要因となるパラダイムシフトが起こり、急速にエラー率が増加する可能性がある。本研究では、集積システムの信頼性確保に向けて、ミューオン起因のソフトエラーを正しく理解・評価する技術を世界に先駆けて確立し、将来デバイスの信頼性動向を明らかにする。基礎物理現象の把握と実測結果の再現性検証によりシミュレーション技術の精度を格段に高め、将来の集積システムの信頼性確保に貢献する。

研究成果の概要

集積システムの信頼性確保に向けて、宇宙線ミューオン起因のソフトエラーを正しく理解・評価する技術の確立と将来の信頼性動向予測に取り組んだ。ミューオン・シリコン間の物理現象を実験で取得し、それを再現するシミュレーション基盤技術技術を開発した。シミュレーションと実測による動向予測では、近未来にミューオンによるエラーが爆発的に増えることはないが、中性子と同程度の顕在化を示す見通しを得た。

研究成果の学術的意義や社会的意義

ソフトエラーに寄与する低エネルギー環境ミューオン測定、ソフトエラーに寄与する二次粒子に着目した負ミューオンの原子核捕獲反応の実測、最先端FinFETに対する負ミューオン起因エラー測定はすべて世界初の測定結果である。本研究で開発したミューオンソフトエラーを再現するシミュレーション技術は世界中での利用が期待される。ミューオン起因ソフトエラーの評価と低減に必要な基盤技術の開発に成功した。

評価記号
事後評価所見 (区分)

A: 研究領域の設定目的に照らして、期待どおりの成果があった

評価記号
中間評価所見 (区分)

A: 研究領域の設定目的に照らして、期待どおりの進展が認められる

報告書

(11件)
  • 2024 事後評価(所見) ( PDF )
  • 2023 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2022 実績報告書
  • 2021 研究概要(中間評価) ( PDF )   実績報告書   中間評価(所見) ( PDF )
  • 2020 実績報告書
  • 2019 研究概要(採択時) ( PDF )   審査結果の所見 ( PDF )   実績報告書
  • 研究成果

    (63件)

すべて 2024 2023 2022 2021 2020 2019

すべて 雑誌論文 (29件) (うち国際共著 2件、 査読あり 26件、 オープンアクセス 2件) 学会発表 (34件) (うち国際学会 16件、 招待講演 14件)

  • [雑誌論文] Impact of Irradiation Side on Muon-Induced Single-Event Upsets in 65-nm Bulk SRAMs2024

    • 著者名/発表者名
      Deng Yifan、Watanabe Yukinobu、Manabe Seiya、Liao Wang、Hashimoto Masanori、Abe Shin-Ichiro、Tampo Motonobu、Miyake Yasuhiro
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Nuclear Science

      巻: 71 号: 4 ページ: 912-920

    • DOI

      10.1109/tns.2024.3378216

    • 関連する報告書
      2023 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Development of a Measuring Method of Cosmic-Ray Muon Momentum Distribution Using Drift Chambers2024

    • 著者名/発表者名
      Nakagami Naoto、Kamei Satoko、Kawase Shoichiro、Sato Akira、Watanabe Yukinobu
    • 雑誌名

      Journal of Radiation Protection and Research

      巻: - 号: s1 ページ: S80-S85

    • DOI

      10.14407/jrpr.2023.00423

    • 関連する報告書
      2023 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Effect of large-angle incidence on particle identification performance for light-charged (Z<=2) particles by pulse shape analysis with a pad-type nTD silicon detector2024

    • 著者名/発表者名
      Kawase Shoichiro、Murota Takuya、Fukuda Hiroya、Oishi Masaya、Kawata Teppei、Kitafuji Kentaro、Manabe Seiya、Watanabe Yukinobu、Nishibata Hiroki、Go Shintaro、Kai Tamito、Nagata Yuto、Muto Taiga、Ishibashi Yuichi、Niikura Megumi、Suzuki Daisuke、Matsuzaki Teiichiro、Ishida Katsuhiko、Mizuno Rurie、Kitamura Noritaka
    • 雑誌名

      Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment

      巻: 1059 ページ: 168984-168984

    • DOI

      10.1016/j.nima.2023.168984

    • 関連する報告書
      2023 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] How Accurately Can Soft Error Impact Be Estimated in Black-Box/White-Box Cases? -- a Case Study with an Edge AI SoC --2024

    • 著者名/発表者名
      Q. Cheng, Q. Li, L. Lin, W. Liao, L. Dai, H. Yu, and M. Hashimoto
    • 雑誌名

      Proc. Design Automation Conference (DAC)

      巻: -

    • 関連する報告書
      2023 実績報告書
    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] Stuck Errors in Bits and Blocks in GDDR6 under High-Energy Neutron Irradiation2024

    • 著者名/発表者名
      M. Yoshida, R. Iwamoto, M. Itoh, and M. Hashimoto
    • 雑誌名

      Proc. European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS)

      巻: -

    • 関連する報告書
      2023 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Muon-Induced SEU Cross Sections of 12-nm FinFET and 28-nm Planar SRAMs2024

    • 著者名/発表者名
      Y. Gomi, K. Takami, R. Mizuno, M. Niikura, Y. Deng, S. Kawase, Y. Watanabe, S. Abe, W. Liao, M. Tampo, I. Umegaki, S. Takeshita, K. Shimomura, Y. Miyake, and M. Hashimoto
    • 雑誌名

      Proc. European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS)

      巻: -

    • 関連する報告書
      2023 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Vulnerability Estimation of DNN Model Parameters with Few Fault Injections2023

    • 著者名/発表者名
      ZHANG Yangchao、ITSUJI Hiroaki、UEZONO Takumi、TOBA Tadanobu、HASHIMOTO Masanori
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E106.A 号: 3 ページ: 523-531

    • DOI

      10.1587/transfun.2022VLP0004

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 年月日
      2023-03-01
    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Reliability Exploration of System-on-Chip With Multi-Bit-Width Accelerator for Multi-Precision Deep Neural Networks2023

    • 著者名/発表者名
      Cheng Quan、Huang Mingqiang、Man Changhai、Shen Ao、Dai Liuyao、Yu Hao、Hashimoto Masanori
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers

      巻: 70 号: 10 ページ: 3978-3991

    • DOI

      10.1109/tcsi.2023.3300899

    • 関連する報告書
      2023 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Avoiding Soft Error-Induced Illegal Memory Accesses in GPU with Inter-Thread Communication2023

    • 著者名/発表者名
      R. Iwamoto and M. Hashimoto
    • 雑誌名

      Proc. International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)

      巻: -

    • 関連する報告書
      2023 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Characterizing SEU Cross Sections of 12- and 28-nm SRAMs for 6.0, 8.0, and 14.8 MeV Neutrons2023

    • 著者名/発表者名
      Takami Kazusa、Gomi Yuibi、Abe Shin-Ichiro、Liao Wang、Manabe Seiya、Matsumoto Tetsuro、Hashimoto Masanori
    • 雑誌名

      Proceedings of International Symposium on Reliability Physics (IRPS)

      巻: - ページ: 1-6

    • DOI

      10.1109/irps48203.2023.10118134

    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Emissions of Hydrogen Isotopes from the Nuclear Muon Capture Reaction in <sup>nat</sup>Si2023

    • 著者名/発表者名
      Manabe Seiya、Watanabe Yukinobu、Niikura Megumi、Nakano Keita、Nakano Keita、Saito Takeshi Y.、Suzuki Daisuke、Kawashima Yoshitaka、Tomono Dai、Sato Akira、Harano Hideki
    • 雑誌名

      EPJ Web of Conferences

      巻: 284 ページ: 01029-01029

    • DOI

      10.1051/epjconf/202328401029

    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Development of a counter telescope for light charged particles emitted from muon capture reaction in Si2022

    • 著者名/発表者名
      H. Fukuda, S. Kawase, Y. Watanabe, M. OISHI, T. KAWATA, H. NISHIBATA, S. GO, M. NIIKURA, D. SUZUKI, and S. MANABE
    • 雑誌名

      Proceedings of the 2021 Symposium on Nuclear Data

      巻: -

    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Constructing Application-level GPU Error Rate Model with Neutron Irradiation Experiment2022

    • 著者名/発表者名
      Ito Kojiro、Itsuji Hiroaki、Uezono Takumi、Toba Tadanobu、Itoh Masatoshi、Hashimoto Masanori
    • 雑誌名

      Proc. European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS)

      巻: - ページ: 1-6

    • DOI

      10.1109/radecs55911.2022.10412577

    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Neutron-Induced Stuck Error Bits and Their Recovery in DRAMs on GPU Cards2022

    • 著者名/発表者名
      M. Hashimoto,Y. Zhang,K. Ito
    • 雑誌名

      Proceedings of International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)

      巻: -

    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Impact of Neutron-Induced SEU in FPGA CRAM on Image-Based Lane Tracking for Autonomous Driving: From Bit Upset to SEFI and Erroneous Behavior2022

    • 著者名/発表者名
      Tanaka Tomonari、Liao Wang、Hashimoto Masanori、Mitsuyama Yukio
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Nuclear Science

      巻: 69 号: 1 ページ: 35-42

    • DOI

      10.1109/tns.2021.3131346

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Estimating Vulnerability of All Model Parameters in DNN with a Small Number of Fault Injections2022

    • 著者名/発表者名
      Y. Zhang, H. Itsuji, T. Uezono, T. Toba, and M. Hashimoto
    • 雑誌名

      Proceedings of Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE)

      巻: - ページ: 60-63

    • DOI

      10.23919/date54114.2022.9774569

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Analyzing DUE Errors on GPUs With Neutron Irradiation Test and Fault Injection to Control Flow2021

    • 著者名/発表者名
      Ito Kojiro、Zhang Yangchao、Itsuji Hiroaki、Uezono Takumi、Toba Tadanobu、Hashimoto Masanori
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Nuclear Science

      巻: 68 号: 8 ページ: 1668-1674

    • DOI

      10.1109/tns.2021.3098845

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [雑誌論文] Muon-Induced Single-Event Upsets in 20-nm SRAMs: Comparative Characterization with Neutrons and Alpha Particles2021

    • 著者名/発表者名
      T. Kato, M. Tampo, S. Takeshita, H. Tanaka, H. Matsuyama, M. Hashimoto, and Y. Miyake
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Nuclear Science

      巻: 68 号: 7 ページ: 1436-1444

    • DOI

      10.1109/tns.2021.3082559

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 査読あり / オープンアクセス
  • [雑誌論文] Processor SER Estimation with ACE Bit Analysis2021

    • 著者名/発表者名
      T. Hsu, D. Yang, W. Liao, M. Itoh, M. Hashimoto, and J. Liou
    • 雑誌名

      Proceedings of European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS)

      巻: - ページ: 1-5

    • DOI

      10.1109/radecs53308.2021.9954474

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] Irradiation Test of 65-nm Bulk SRAMs With DC Muon Beam at RCNP-MuSIC Facility2020

    • 著者名/発表者名
      Mahara Takumi、Manabe Seiya、Watanabe Yukinobu、Liao Wang、Hashimoto Masanori、Saito Takeshi Y.、Niikura Megumi、Ninomiya Kazuhiko、Tomono Dai、Sato Akira
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Nuclear Science

      巻: 67 号: 7 ページ: 1555-1559

    • DOI

      10.1109/tns.2020.2972022

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Impact of the Angle of Incidence on Negative Muon-Induced SEU Cross Sections of 65-nm Bulk and FDSOI SRAMs2020

    • 著者名/発表者名
      Liao Wang、Hashimoto Masanori、Manabe Seiya、Watanabe Yukinobu、Abe Shin-ichiro、Tampo Motonobu、Takeshita Soshi、Miyake Yasuhiro
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Nuclear Science

      巻: 67 号: 7 ページ: 1566-1572

    • DOI

      10.1109/tns.2020.2976125

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 査読あり / オープンアクセス
  • [雑誌論文] Measurement of Single-Event Upsets in 65-nm SRAMs under Irradiation of Spallation Neutrons at J-PARC MLF2020

    • 著者名/発表者名
      J. Kuroda, S. Manabe, Y. Watanabe, K. Ito, W. Liao, M. Hashimoto, S. Abe, M. Harada, K. Oikawa, and Y. Miyake
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Nuclear Science

      巻: 67 ページ: 1599-1605

    • DOI

      10.1109/tns.2020.2978257

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Concurrent Detection of Failures in GPU Control Logic for Reliable Parallel Computing2020

    • 著者名/発表者名
      H. Itsuji, T. Uezono, T. Toba, K. Ito, and M. Hashimoto
    • 雑誌名

      Proceedings of International Test Conference (ITC)

      巻: - ページ: 1-5

    • DOI

      10.1109/itc44778.2020.9325216

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Fault Mode Analysis of Neural Network-Based Object Detection on GPUs with Neutron Irradiation Test2020

    • 著者名/発表者名
      Y. Zhang, K. Ito, H. Itsuji, T. Uezono, T. Toba, and M. Hashimoto
    • 雑誌名

      Proceedings of European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS)

      巻: - ページ: 1-3

    • DOI

      10.1109/radecs50773.2020.9857684

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Development of A Measurement System for Low Energy Cosmic Muon with Charge Identification Feature2020

    • 著者名/発表者名
      Satoko Kamei, Akira Sato, Shoichiro Kawase, Tadahiro Kin, Misaki Saitsu, Ryohei Takahashi, and Yukinobu Watanabe
    • 雑誌名

      Proceedings of 22nd Cross Straits Symposium on Energy and Environmental Science and Technology

      巻: -

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [雑誌論文] Impact of Hydrided and Non-Hydrided Materials Near Transistors on Neutron-Induced Single Event Upsets2020

    • 著者名/発表者名
      S. Abe, T. Sato, J. Kuroda, S. Manabe, Y. Watanabe, W. Liao, K. Ito, M. Hashimoto, M. Harada, K. Oikawa, and Y. Miyake
    • 雑誌名

      Proceedings of International Symposium on Reliability Physics (IRPS)

      巻: - ページ: 1-7

    • DOI

      10.1109/irps45951.2020.9128951

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Characterizing Energetic Dependence of Low-Energy Neutron-Induced MCUs in 65 nm Bulk SRAMs2020

    • 著者名/発表者名
      W. Liao, K. Ito, Y. Mitsuyama, and M. Hashimoto
    • 雑誌名

      Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS)

      巻: - ページ: 1-5

    • DOI

      10.1109/irps45951.2020.9129621

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Soft Error and Its Countermeasures in Terrestrial Environment2020

    • 著者名/発表者名
      Hashimoto Masanori、Liao Wang
    • 雑誌名

      Proceedings of Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)

      巻: - ページ: 617-622

    • DOI

      10.1109/asp-dac47756.2020.9045161

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [雑誌論文] When Single Event Upset Meets Deep Neural Networks: Observations, Explorations, and Remedies2020

    • 著者名/発表者名
      Yan Zheyu、Shi Yiyu、Liao Wang、Hashimoto Masanori、Zhou Xichuan、Zhuo Cheng
    • 雑誌名

      Proceedings of Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)

      巻: - ページ: 163-168

    • DOI

      10.1109/asp-dac47756.2020.9045134

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] In-beam activation measurement of muon nuclear capture reaction on Si isotopes2024

    • 著者名/発表者名
      R. Mizuno
    • 学会等名
      Workshop on frontier nuclear studies with gamma-ray spectrometer arrays (gamma24)
    • 関連する報告書
      2023 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Toward Robust Neural Network Computation on Emerging Crossbar-based Hardware and Digital Systems2024

    • 著者名/発表者名
      M. Hashimoto
    • 学会等名
      ASP-DAC
    • 関連する報告書
      2023 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Muon nuclear capture reaction on 28,29,30Si2023

    • 著者名/発表者名
      R. Mizuno
    • 学会等名
      Fall meeting of APS DNP and JPS
    • 関連する報告書
      2023 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] TCAD Simulation Study of Sigle-Event Transient in CFET Latch Circuit2023

    • 著者名/発表者名
      T. Matsui
    • 学会等名
      International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK)
    • 関連する報告書
      2023 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Nuclear physics for muon-induced soft error2023

    • 著者名/発表者名
      M. Niikura
    • 学会等名
      Workshop for Computational Technique for Negative Muon Spectroscopy and Elemental Analysis
    • 関連する報告書
      2023 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Development of a measuring method of cosmic-ray muon momentum distribution using drift chambers2023

    • 著者名/発表者名
      N. Nakagami
    • 学会等名
      International Symposium on Radiation Safety and Detection Technology (ISORD-11)
    • 関連する報告書
      2023 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Study of muon capture reaction on Si via in-beam muon activation2023

    • 著者名/発表者名
      R. Mizuno
    • 学会等名
      Advances in Radioactive Isotope Science (ARIS)
    • 関連する報告書
      2023 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Measurement of nuclear transmutation via muon capture rection for Si isotopes2023

    • 著者名/発表者名
      R. Mizuno
    • 学会等名
      Topical Workshops on Modern Aspects of Nuclear Structure
    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Estimation of SPICE Parameters for MOSFETs with CNN Regression2022

    • 著者名/発表者名
      K. Akazawa
    • 学会等名
      International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai
    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Measurement of muon-induced nuclear transmutation for Si isotopes2022

    • 著者名/発表者名
      R. Mizuno
    • 学会等名
      Trans-scale Quantum Science Institute
    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Terrestrial Cosmic-Ray SEE testing2022

    • 著者名/発表者名
      M. Hashimoto
    • 学会等名
      RADNEXT facility webinar
    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] ミュオン起因半導体ソフトエラーの評価と課題2022

    • 著者名/発表者名
      橋本昌宜
    • 学会等名
      中間子科学の将来討論会
    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] ミュオン起因ソフトエラーの測定と課題2022

    • 著者名/発表者名
      橋本昌宜
    • 学会等名
      原子力学会
    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] Toward Correct Understanding and Characterization of Cosmic Ray-induced Soft Errors2022

    • 著者名/発表者名
      M. Hashimoto
    • 学会等名
      International Test Conference in Asia (ITC-Asia)
    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] ミューオン起因半導体ソフトエラーの測定と課題2022

    • 著者名/発表者名
      橋本昌宜
    • 学会等名
      RCNP研究会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] RISC-Vプロセッサに対するフォールトインジェクション実験の結果分析2021

    • 著者名/発表者名
      田上凱斗, 橋本昌宜
    • 学会等名
      情報処理学会DAシンポジウム
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] Applications outside particle physics (soft error)2021

    • 著者名/発表者名
      M. Hashimoto
    • 学会等名
      ILC Workshop on Potential ILC Experiments (ILCX)
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] 負ミューオンを用いた原子核構造研究2021

    • 著者名/発表者名
      新倉潤
    • 学会等名
      RCNPでの次期計画検討会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] 電荷識別型低エネルギー宇宙線ミュオン計測システムの開発2021

    • 著者名/発表者名
      亀井 智子,川瀬 頌一郎,佐藤 朗,田中裕貴,中上直人,金 政浩,渡辺 幸信
    • 学会等名
      第82回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] 宇宙線ミュオン起因半導体ソフトエラー率の評価に向けた取り組み2021

    • 著者名/発表者名
      渡辺 幸信
    • 学会等名
      令和3年度J-PARC MLF産業利用報告会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] 半導体デバイスの宇宙線起因ソフトエラー解析2021

    • 著者名/発表者名
      渡辺幸信
    • 学会等名
      耐放射線デバイス研究会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] 半導体デバイスに対する宇宙線起因ソフトエラー研究の現状と展望2021

    • 著者名/発表者名
      渡辺 幸信
    • 学会等名
      12回半導体材料・デバイスフォーラム
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] 半導体デバイスにおける宇宙線ミュオン起因ソフトエラー発生率評価に向けたミュオン原子核捕獲反応 測定計画 (1) 概要2021

    • 著者名/発表者名
      川瀬頌一郎、福田宏哉、渡辺幸信、新倉潤、橋本昌宜
    • 学会等名
      日本原子力学会2021年秋の大会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] 半導体デバイスにおける宇宙線ミュオン起因ソフトエラー発生率評価に向けたミュオン原子核捕獲反応 測定計画 (2) 荷電粒子計測システムの開発2021

    • 著者名/発表者名
      福田宏哉、川瀬頌一郎、渡辺幸信、大石将也、川田哲平、郷慎太郎、西畑洸希、新倉潤、鈴木大介、真鍋征也
    • 学会等名
      日本原子力学会2021年秋の大会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] Development of counter telescopes for light charged particles emitted from muon nuclear reaction on Si2021

    • 著者名/発表者名
      Hiroya Fukuda, Shoichiro Kawase, Yukinobu Watanabe, Masaya Oishi, Teppei Kawata, Shintaro Go, Hiroki Nisibata, Megumi Niikura, Daisuke Suzuki, Seiya Manabe
    • 学会等名
      2021年核データ研究会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] Siミューオン原子核反応の測定計画2021

    • 著者名/発表者名
      川瀬頌一郎
    • 学会等名
      RCNP研究会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] 機械学習を用いた極微細MOSFETの電気特性およびパラメータの推定2021

    • 著者名/発表者名
      赤澤 光平,仲西唯吾,鈴木悠平,鎌倉良成
    • 学会等名
      電子情報通信学会SDM研究会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] Analyzing DUE Errors with Neutron Irradiation Test and Fault Injection to Control Flow2020

    • 著者名/発表者名
      K. Ito, Y. Zhang, H. Itsuji, T. Uezono, T. Toba, and M. Hashimoto
    • 学会等名
      European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS)
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Muon-Induced Single-Event Upsets in 20-nm SRAMs: Comparative Characterization with Neutrons and Alpha-Particles2020

    • 著者名/発表者名
      T. Kato, M. Tampo, S. Takeshita, Y. Miyake, H Tanaka, and M. Hashimoto
    • 学会等名
      Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC)
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] ntD-Si検出器を用いた波形解析による荷電粒子計測システムの開発2020

    • 著者名/発表者名
      室田 拓哉,川瀬 頌一郎 、真鍋 征也、渡辺 幸信、福田 宏哉、田村 幸大、 新倉 潤 、郷 慎太郎
    • 学会等名
      日本原子力学会2020年秋の大会学生ポスターセッション
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [学会発表] nTD-Si検出器を用いた波形解析による粒子弁別可能な荷電粒子計測システムの開発2020

    • 著者名/発表者名
      室田 拓哉, 川瀬 頌一郎, 渡辺 幸信, 真鍋 征也, 福田 宏哉, 西津 美咲, 田中 裕貴, 田村 幸大, 郷 慎太郎, 甲斐 民人, 永田 優斗, 新倉 潤, 北村 徳隆, 水野 るり恵
    • 学会等名
      日本原子力学会九州支部第40回研究発表講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [学会発表] Soft Error and Its Countermeasures in Terrestrial Environment2020

    • 著者名/発表者名
      橋本昌宜
    • 学会等名
      Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] ミュオン起因半導体ソフトエラーの測定と分析2019

    • 著者名/発表者名
      橋本昌宜
    • 学会等名
      J-PARC MLF 産業利用報告会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] 宇宙線起因ソフトエラーの測定と解析2019

    • 著者名/発表者名
      橋本昌宜
    • 学会等名
      応用物理学会シリコンテクノロジー分科会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 招待講演

URL: 

公開日: 2019-06-27   更新日: 2025-02-04  

サービス概要 検索マニュアル よくある質問 お知らせ 利用規程 科研費による研究の帰属

Powered by NII kakenhi