| 研究課題/領域番号 |
20001006
|
|---|
| 研究種目 |
特別推進研究
|
| 配分区分 | 補助金 |
|---|
| 審査区分 |
理工系
化学
|
|---|
| 研究機関 | 東京工業大学 |
|---|
研究代表者 |
榎 敏明 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 教授 (10113424)
|
|---|
| 研究分担者 |
高井 和之 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 助教 (80334514)
福井 賢一 大阪大学, 大学院・基礎工学研究科, 教授 (60262143)
若林 克法 独立行政法人物質・材料研究機構, 国際ナノアーキテクトニクス研究拠点, 独立研究員 (50325156)
横田 泰之 大阪大学, 大学院・基礎工学研究科, 助教 (00455370)
|
|---|
| 連携研究者 |
木口 学 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 准教授 (70313020)
福井 賢一 大阪大学, 大学院・基礎工学研究科, 教授 (60262143)
|
|---|
| 研究期間 (年度) |
2008 – 2012
|
| 研究課題ステータス |
完了 (2012年度)
|
| 配分額 *注記 |
387,660千円 (直接経費: 298,200千円、間接経費: 89,460千円)
2012年度: 49,010千円 (直接経費: 37,700千円、間接経費: 11,310千円)
2011年度: 49,010千円 (直接経費: 37,700千円、間接経費: 11,310千円)
2010年度: 55,120千円 (直接経費: 42,400千円、間接経費: 12,720千円)
2009年度: 68,510千円 (直接経費: 52,700千円、間接経費: 15,810千円)
2008年度: 166,010千円 (直接経費: 127,700千円、間接経費: 38,310千円)
|
|---|
| キーワード | 走査プローブ顕微鏡 / 電子・電気材料 / 磁性 / ナノ材料 / 表面・界面物性 / グラフェン / 電子構造 / 炭素材料 |
|---|
| 研究概要 |
ナノグラフェンの電子状態は端の幾何学構造により大きく影響を受ける。この問題は、固体物理学からは、質量のない相対論的Dirac電子の境界条件の問題としてまた、化学の視点からは、Clarの芳香族則の問題として捉えることができる。本研究では、STM/STS、AFM、Raman効果、NEXAFS、磁気測定、電子輸送測定を通して、ジグザグ端構造では、局在非結合状態が発生し、この状態は端の化学構造にも大きな影響を受けること、アームチェア端構造では電子波の干渉が起こり、電子的安定化が起ることを実験的に解明した。
|
| 評価記号 |
検証結果 (区分)
A
|
